薄層色譜掃描儀是對薄層色譜進行定量檢測分析的儀器,目前市場上有兩類薄層色譜掃描儀:
傳統薄層色譜掃描儀是一種全波長掃描儀,提供波長200-800nm范圍的可選波長,通過檢測樣品對光的吸收強弱確定物質含量。該掃描儀也能檢測254nm或365nm紫外照射產生的熒光強度,從而進行特異性檢測。
薄層色譜掃描儀方式分為:單光束掃描薄層色譜掃描儀、雙光束掃描薄層色譜掃描儀和雙波長掃描薄層色譜掃描儀。
單光束掃描:采用單一光束(即單一波長掃描),其結果就是上圖中一特定波長條件下的單條曲線。儀器結構簡單,但是基線不穩,實際中很少使用。
雙光束掃描:采用同一波長的兩個光束同步掃描,一個光束掃描樣品展開通道,另一個光束掃描樣品通道旁邊的空白區域,這樣就可扣除空白吸收,部分消除薄層板展開方向鋪板不均勻產生的誤差。但是無法消除垂至于展開方向鋪板不均勻產生的誤差。
雙波長掃描:兩個不同波長的光束交替掃描樣品展開的通道區域,波長選擇時,一個波長為樣品最大吸收位置,另一是吸收極小值位置。如上圖所示,如檢測目標為3(則最大吸收峰為290nm,極小值可選200nm、260nm或325nm)。這種方法可基本消除鋪板不均產生的誤差,因此掃描基線很穩定。
以上各種掃描方式中,根據光源大小(掃描精度)不同可分為直線掃描薄層色譜掃描儀和鋸齒掃描薄層色譜掃描儀。
直線掃描:用可以覆蓋樣品展開通道的寬光束一次性掃完整個展開通道,即在展開方向上(圖中橫坐標),每個點的數據只是一個掃描數據點。
鋸齒掃描:采用點狀光源,光點尺寸小于通道寬度,因此在展開方向移動到任何一點時,光源都要逐點沿樣品通道方向掃描,即形成“之”形(或鋸齒形掃描)。這樣,在展開方向上每一點的數據都是多個點掃描結果的累加值。鋸齒掃描的精度相對直線掃描明顯提高。
目前,在定量分析中,薄層掃描多采用雙波長鋸齒掃描。
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