<li id="omoqo"></li>
  • <noscript id="omoqo"><kbd id="omoqo"></kbd></noscript>
  • <td id="omoqo"></td>
  • <option id="omoqo"><noscript id="omoqo"></noscript></option>
  • <noscript id="omoqo"><source id="omoqo"></source></noscript>

  •   芯片封裝,就是把生產出來的集成電路裸片放到一塊起承載作用的基板上,再把管腳引出來,然后固定包裝成為一個整體。它可以起到保護芯片的作用,相當于是芯片的外殼,不僅能固定、密封芯片,還能增強其電熱性能。因此,封裝對半導體集成電路而言,非常重要。

      封裝材料通常是環氧基化合物(環氧樹脂模塑化合物、底部填充環氧樹脂、銀芯片粘接環氧樹脂、圓頂封裝環氧樹脂等)。具有優異的熱穩定性、尺寸穩定性以及良好戶外性能的環氧樹脂非常適合此類應用。

      通常,過程工程師將面臨以下問題:

      a)特定化合物的工藝窗口是什么?

      b)如何控制這個過程?

      c)優化的固化條件是什么?

      d)如何縮短循環時間?

      珀金埃爾默可為半導體封裝行業提供全面的熱分析儀解決方案,幫您輕松面對這些問題。

      差示掃描量熱法(DSC)

      ■ 表征封裝材料的熱性能

      DSC數據提供了環氧樹脂玻璃化轉變溫度、固化反應的起始溫度、固化熱量和工藝最終溫度的信息。

      ■ 優化制造工藝

      玻璃化轉變溫度是衡量環氧化合物交聯密度的良好指標。DSC可用于顯示玻璃化轉變溫度,在給定溫度下隨固化時間的變化情況(左)。玻璃化轉變溫度與溫度/時間關系曲線,可確定最佳工藝條件(右)。

      ■ 測定焊料合金的熔點

      含有3%(重量比)銅(Cu)、銀(Ag)或鉍(Bi)的錫合金的熔點差別明顯

      熱重分析法(TGA)

      ■ 研究脫氣性能和熱穩定性

      TGA結果顯示兩種材料具有不同的脫氣性能。重量損失(脫氣)程度越高,表明與引腳框架接觸的環氧樹脂密封劑的環氧—引腳框架分離概率越高。

      熱機械分析(TMA)

      ■ 測定熱膨脹系數、玻璃化轉變溫度

      環氧樹脂的TMA曲線。高熱膨脹系數可能導致電線過早斷裂。不同熱膨脹系數之間的拐點可以定義為玻璃化轉變溫度。

      動態力學分析(DMA)

      ■ 測量熱轉變,如玻璃化轉變溫度、結晶或熔化

      PCB的DMA結果

      ■ 測量內應力

      DMA結果顯示透明模塑化合物的內應力

      熱分析儀是半導體封裝行業的重要工具。它們不僅在設計和開發階段發揮了重要作用,而且還可用于進行故障分析和質量控制。許多標準方法都對熱分析的使用進行了描述。

      珀金埃爾默提供全套熱分析儀器和方案,幫助用戶優化加工條件并選擇合適的材料以滿足性能要求,從而確保半導體企業能夠生產出高品質的產品。

      想了解更多詳情,請掃描二維碼下載完整技術資料。


    <li id="omoqo"></li>
  • <noscript id="omoqo"><kbd id="omoqo"></kbd></noscript>
  • <td id="omoqo"></td>
  • <option id="omoqo"><noscript id="omoqo"></noscript></option>
  • <noscript id="omoqo"><source id="omoqo"></source></noscript>
  • 1v3多肉多车高校生活的玩视频