離子分子反應質譜儀的介紹

技術是離子分子反應質譜IMR-MS。這是一種軟電離方法，通過使用這種方法，使待分析物樣品的碎片化大大減少或消除。帶正電荷的原子離子與包含待分析分子的中性氣流中的分子發生低能量碰撞。碰撞所產生的分子離子后續通過四極質量過濾器進行分離，通常的質量范圍為7至519amu。
 

　　V&F也采用不同的質譜技術，而每一項技術都可以適應和完成所面對的特定的任務。扇形磁場質譜儀(SF)用于檢測氫和氦，電子轟擊質譜儀(EIMS)結合四級桿質量過濾器，用于經典的多組分分析。對于某些應用，V&F提供結合了IMR-MS和EIMS兩種技術組合的設備。這些儀器特別適合在分析需要相對較高的電離能量的無機分子的同時，也同時測量一系列揮發性有機物。
 

　　V&F配備多種靈活的采樣裝置，在保證恒定的采樣流量的同時，可以適應的樣氣壓力范圍從幾個毫巴到高于大氣壓。V&F儀器采用經過認證的混合氣體進行標定，工作靈敏度范圍大，覆蓋從ppb到百分比的濃度范圍。
 

　　技術特點
 

　　1) 利用三種低能級的源離子(Hg+、Xe+、Kr+)，避免了樣品氣體分子的碎片化
 

　　2) 具有優異的選擇性，極大的消除了不同成分間的交叉干擾，特別適用于復雜混合物的實時連續動態檢測
 

　　3) 能夠同時檢測ppb、ppm濃度級別的氣體組分和百分比級別的氣體組分，寬動態范圍內的在線氣體檢測和痕量分析
 

　　4) 能夠在毫秒時間內快速檢測氣體組分，檢測響應時間小于20ms，較快1ms
 

　　5) 靈活設置質譜儀的待測組分種類及數量，種類包括碳氫化合物、含硫組分、醛、酮、醚、醇類組分及部分無機化合物組分
 

　　6) 檢測精度高、重復性好。檢測精度在±2%以內，重復性在±3%以內
 

　　7) 壓力調節器自動調節質譜儀的采樣壓力，質譜儀內置的壓力調節器可以將進氣壓力調節至0.1～1bar
 

　　8) 內置自動標定功能和相對標定功能，設置完成后，質譜儀自動標定
 

　　9) 采樣系統全程加熱，最大溫度190℃，無冷凝造成的分析誤差
 

　　10) 便于移動，以便適應經常需要變換地點的測量
 

　　技術原理
 

　　AirSense離子分子反應質譜儀采用軟電離方法，利用帶有不連續能級的帶電離子與樣品氣體分子發生離子分子反應，帶正電荷的原子離子與包含待測分子的中性氣流中的分子發生低能量碰撞，碰撞所產生的分子離子后續通過四極質量過濾器進行分離，通常的質量范圍為7至519amu。
 

　　在電離過程中，為了能夠使樣品氣體分子丟失一個電子產生分子離子，需要給定一個確定的能量，這個能量就叫做電離能[IE]。電離能[IE]通常的范圍在8到16電子伏特[eV]。選用三種離子源可以覆蓋絕大多數分子的電離能，這是質譜儀能夠檢測多組分的原因。三種離子源的電離能為：Hg,10.44eV；Xe,12.13eV；Kr,13.99eV。
 

　　三種源氣體有著不同的電離能，可以電離不同的樣品氣體分子。在離子分子反應中電離樣品氣體分子的條件是樣品氣體分子A的電離能[IE]要小于源離子的電離能[IE]。由于所選用的Hg、Xe、Kr這三種源氣體的電離能僅比樣品氣體分子的電離能略高(IE(PI)-IE(A)≤3eV)，因此可以保證較高的電離效率，使分子碎片化減少或消除，提高質譜儀的選擇性和測量精度。
 

　　質譜儀是通過氣體分子間不同的質荷比(m/z)來進行快速準確的檢測。待測的氣體分子被采樣系統導入到真空室中經過電離過程后，產生帶有正電荷的分子離子。正電荷的分子離子通過電場的篩選后進入離子檢測器。整個電離過程中在高度真空條件下進行，其目的是為了保證待測分子離子的平均自由程要遠大于分子離子在質譜儀中的飛行路徑尺寸。這樣就避免了待測氣體的分子離子與氣體中的中性分子發生碰撞導致的中和反應以及飛行軌道的偏離，保證質譜儀的檢測精度和響應時間。