由于測試光先通過回損儀再通過偏振控制器，所以光源輸出端與偏振控制器輸入端之間的光偏振狀態不會發生大的變化，也就是說系統可測得較準確的DUT PDL值。然而問題還沒有解決，PDL是可以了，但回波損耗測試卻受到影響。我們知道，測試DUT回波損耗需要先測出測試系統本身的回光功率，然后測出系統與DUT共同的回光功率，相減得出DUT回光功率。從數學上容易理解， 系統回光功率相對越小，DUT回損值的精確度、可靠性以及動態范圍就會越好，反之則越差。在第二種系統中，系統回光功率包含了偏振控制器回光功率，所以比較大，進而限制了DUT回損測試的可靠性和動態范圍。但一般而言，只要不是測試-60dB以外的回損值，這種配置的問題還不大，因此它在回損要求不高的場合是一種還算過得去的測試方法。