理學ZSXPrimusⅡ上照射式X射線熒光光譜儀

PrimusII是理學公司zei新奉獻的上照射式X射線熒光光譜儀,因采用了新型分光晶體，使輕元素分析(如C，B)靈敏度大幅度提高。超輕元素對應X射線光管，大功率4千瓦，薄窗，適合輕元素分析。

48樣品臺，節省空間。1次濾波片，可去掉來自光管的特征譜線，減低背景。雙真空，雙泵設計，節省抽真空時間。防粉塵附件，可防止粉末掉入真空泵。微區分析可達500。適合少量樣品分析。

軟件在原有的SQX軟件基礎上進一步完善,采用對話方式，進行EZ掃描。應用模板，可將各種測試條件，以及前處理順序設置其中。FP無標樣分析，是理學公司多年來總結出的一套很好的分析方法，不設定測試成分也能準確分析。流程條，按順序顯示測試處理內容。

標準樣品。操作手冊全中文提供。方便中國用戶。

維修保養：PAS自動調整，芯線自動清洗。給用戶帶來方便。

主要特點：

1. 輕元素(B,C)靈敏度大幅度提高—配備新型分光晶體RX-25,RX-61,RX-75

2. 高靈敏度分析重金屬—采用新型光學系統

3. 高靈敏度微區分析—Mapping位置分辨率100µm

4. 進一步完善的軟件—新的SQX軟件

5. 儀器設計充分考慮周邊環境—節能、節省空間

ZSX Primus IIZSX Primus II 

采用上照射設計，再不用擔心污染光路，清理麻煩和增加清理時間等問題。 集合所有ZSX系列的優點：雙真空系統，自動真空控制，mapping/微區分析，超輕元素超強靈敏度和自動芯線清洗等。 ZSX PrimusII可靈活分析復雜樣品。30μm超薄窗光管，保證輕元素分析靈敏度。zei先進的mapping包可以檢測同質性和夾雜物。ZSX Primus II完全具備迎接21世紀實驗室挑戰      

Features分析范圍： 

Be - U 較小的占地面積 微區分析 上照設計 30 μm超薄窗Mapping: 元素分布 He 密封:樣品室一直在真空環境中      

硬件：

對應超輕元素的X射線光管

采用4kW、30µm薄窗X射線光管，可高靈敏度測試超輕元素。

采用新型光學系統

采用新型分光晶體，與第二代儀器分光晶體相比，大幅度提高了靈敏度。

48樣品交換器

實現平臺式共享化，zei多可放置48個樣品。

多樣品交換器實現了省空間。

1次X射線濾光片

除去X射線光管的特征X射線光譜，

在減低背景干擾方面發揮威力。

雙泵、雙真空系統

采用雙真空系統(樣品室/預抽真空室)。

防止粉末樣品的細微粉塵混入光學系統的結構設計，樣品交換實現更高效率。

粉末附件

電磁閥真空密封、防止細微粉塵進入真空泵內。

定點分析

100um的Mapping分辨率。可在CCD圖像上指定點、區域、線。定點zei小直徑500µm。

采用r-θ樣品臺，避免1次X射線的照射面、以及分光晶體的反射強度的干擾，可得到zei佳靈敏度分析結果。 (無 r-θ 樣品臺)

節能、節省空間

節能功能

(自動減少X射線光管輸出) 減少冷卻水量 5L/min(水溫30℃以下)

PR氣體流量減少(5mL/min)

省空間

采用聯體設計，設置面積只占傳統儀器70%的空間。

便于維護

PAS脈沖高度自動調整 F-PC芯線自動清洗

軟件

新版SQX軟件

在RIGAKU獨有的基本參數法技術的基礎上SQX(Scan Quant X)，追加了新功能。

委托分析EZ掃描

采用對話框形式設定，可進行SQX分析。

定角測試模式

微量元素，采用譜峰和扣背景以一定時間記數方法，使用抑制統計變動的X射線強度，算出分析值。自動設定每個樣品變化扣背景的位置。

應用模板

各種測試條件以及樣品前處理順序均設置其中。

散射線FP法

不需設定非測試成分，也可以準確分析。散射線強度計算，可以考慮幾何學效果，沒有樣品量信息也可準確分析。不易加壓成形的樣品以及油狀樣品，使用SQX軟件，可以簡單、準確地進行分析。

流程條

測試、處理流程顯示。根據流程條內容，擊鼠標鍵，便可按順序進行所需的測試、處理。

其它特點的軟件功能

SQX分析功能

Mapping數據庫

材質辨別

理論重疊校正

自動程序運轉

校正投入量計算

應用軟件包

應用軟件包，設定樣品(標準樣品、漂移校正樣品)

CD-ROM(測試條件、校正常數等)、操作手冊全盤提供。