所謂的標準半峰寬應該是指儀器本身的寬化因子,和實驗時使用的狹縫條件關系最大,想得到它并不難。
比如在相同的測量條件下,把 Si 標樣放到儀器上測量 Si 的各個衍射峰的 Kα1 峰的半高寬,就是所謂的標準了。當你需要測量一系列非標樣 Si 粉時,就把標樣 Si 的 Kα1 峰的半寬作為標準半峰寬使用就可以了。
但有很多時候合適的標準物質很難得到,你就用另外的標準物質(出峰位置很相近的標準物質)代替,也完全沒有問題。也可以根據 Si 標樣在整個掃描范圍內的衍射峰的Kα1峰的半高寬作出儀器寬化因子-2θ關系曲線來得到任意進度的儀器寬化因子。因為謝樂方程的適用條件也就是幾十到 200nm 之間,超出這個范圍誤差是很大的。只要你在進行相同的一系列計算時使用相同的一個參數就一般就可以滿足研究工作的要求了。