2004 年，Cooks 等報道了基于電噴霧解吸電離（DESI）對固體表面進行非破壞性檢測的新型質譜分析方法。
電噴霧產生的帶電液滴及離子直接打到被分析物的表面，吸附在表面的待測物
受到帶電離子的撞擊從表面解吸出來并被電離，然后通過質譜儀的采樣錐進入質量分析器，獲得的質譜圖與常規電噴霧質譜圖十分相似，可以得到單個或多個電荷的分子離子。電噴霧解吸電離技術可視為電噴霧技術與解吸技術的結合，而又類似于二次離子質譜。不同的是，解吸電離技術和二次離子質譜技術都是在真空條件下完成，而電噴霧解吸電離過程是在大氣壓環境下完成。由于該方法無須樣品預處理，能夠對吸附在固體表面的爆炸物、色素、蛋白質等在大氣壓下進行離子化，甚至能夠對薄層色譜表面的分析物進行直接檢測，從而實現了利用質譜方法進行快速靈敏的測定。DESI 是一種新興的離子源，其最大的優點是能夠在大氣壓下對物質分子進行離子化，從而實現了對待測物的靈敏、快速、高選擇性在線監測。電噴霧解吸電離方法應用廣泛，可用于極性化合物、非極性化合物、高分子量化合物、低分子量化合物的測定。DESI-MS 可用于植物組織的天然產物分析，無需萃取等樣品預處理過程；另外，該技術還已被用于蛋白質組學、代謝組學和診斷學、毒品檢測等領域，均取得了很好的結果。值得一提的是，Cooks 課題組將DESI 與便攜式質譜儀聯用，并實現了對藥物、植物組織、爆炸物、生化戰劑模擬物、農用化學品的分析。