XRD是X射線衍射儀的簡稱。其基本原理是:當X射線照射所測物質（晶體），相應晶面會產生衍射強度。隨著發射X射線的轉軸移動，不同角度的不同晶面會被完全掃描出來。從而根據布拉格方程2d sinθ=nλ，呈現出圖譜。廣角XRD一般指3°~80°，甚至是更高的度數，一般用來判斷某種材料的物相，即是什么物質。而小角XRD一般是指0°~3°的測試范圍，在該范圍內對應的晶面一般是層間，即（00X）晶面，一般用來比較改性物質前后該晶面的層間距變化。
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