顱骨X線平片：主要為顱縫分離及指壓跡增加。腫瘤位于小腦半球表面者可見患側枕骨鱗部變薄及侵蝕等，本組有腫瘤鈣化斑者占4.3%。
腦室造影：除側腦室及第三腦室對稱性擴大外，導水管向前屈折及第四腦室向健側移位為小腦半球腫瘤的特征。
CT檢查：可見小腦半球或中線部位低密度影，星形細胞瘤I級多無注藥后強化，而Ⅱ～Ⅲ級可有強化。有些可見高密度中有多發低密度(即囊在瘤內)，有的為低密度區邊緣有高密度之瘤結節(即瘤在囊內)，這種征象常有助于治療定性。
