日立高新Nanocute／ESWEEP掃描探針顯微鏡

主要特點：

　　Nanocute繼承以前被公認的小型高剛度設計理念、再加上穩定性-高精度的追求，將先前的測量系統包括機臺及光學部分使用zei新的技術從根本進行了重新設計。其性能在配合同時開發的NanoNavi II - NanoNavi IIs控制系統的情況下發揮的淋漓盡致。還有由于裝載新型自感應檢測系統，使得從來無法得到的操作簡易性得以實現。

　　E-SWEEP型為可控環境型，主要特點是：

　　掃描在封閉的Chamber中進行，可對測量的環境(高真空、高溫、低溫、液體、電化學等)進行控制。

　　專業級的真空Chamber，所有的部件都是針對高真空和高低溫環境所設計;

　　zei高分辨的可控環境SPM，是一款可實現原子級分辨的可控環境SPM;

　　適合各種金屬、陶瓷及高分子材料在不同溫度下的性能表征，溫度范圍寬且控制穩;

　　采用性能優異的磁懸浮分子泵，避免了真空系統對測量的影響，即使啟動真空系統，設備也能進行高分辨穩定的測量;

　　高真空環境，保護高低溫條件下的測量、消除空氣對測量的影響、研究物質在高真空環境中的特殊性質;

　　雙測溫頭設計，不僅測量樣品臺溫度，而且能測量樣品表面溫度，徹底解決溫度梯度導致的誤差;

　　獨特設計的控溫臺和掃描器，保證各種溫度條件下穩定而高分辨的測量;

　　L-trace II為大樣品臺型，能對6英寸或8英寸的樣品直接測量，高度自動化，標配閉環掃描器。

技術參數：

zei新型的Nanonavi控制系統

Q值控制功能：DFM模式下探針振動的品質因子Q值可以控制。可極大提高相位、磁疇等的分辨能力。

SIS Mode (Sampling Intelligent Scan) 智能掃描系統：。

可實現四通道8192×8192 數據采集，圖像更精細。

主機有：

Nanocute型是一臺重視擴展性量，實現以往都無法達到的高精度，高可信度及操作簡便的zei新小型掃描探針顯微鏡。

E-SWEEP型為可控環境型，除可實現SPA400/Nanocute所有功能外，還可實現高低溫控制，高真空及大氣環境，氣氛控制，可連續變溫實時觀察。可實現樣品微觀物理性能變溫動態觀察和數據分析。

L-trace II為大樣品臺型，能對6英寸或8英寸的樣品直接自動測量。