牛津CypherES高分子版原子力顯微鏡

牛津Cypher ES 高分子版原子力顯微鏡
牛津儀器/美國AsylumResearch公司
牛津儀器

為了滿足高分子領域的研究員對AFM快速高分辨的掃描以及定量的納米力學性能測試等方面日益增長的需求，牛津儀器Asylum Research發布 Cypher? ES 高分子版原子力顯微鏡。新一代Cypher? ES 高分子版原子力顯微鏡針對高分子領域的研究進行了優化，能夠提供極高分辨率的成像，快速掃描，精確的溫控以及相當全面的納米力學表征模式。Cypher? ES 高分子版是眾多高分子和材料科學應用領域的理想工具，例如，表面形貌成像，測量力曲線，納米力學成像，熱學性能測試，觀測溶液以及熱作用下的動力學過程，探測電學和功能行為特性。并且在目前特定的時間段內，Cypher ES高分子版將享有非常優惠的價格和超短的發貨周期。

 

銷售總監John Grenn說：“Asylum Research創新性的納米力學掃描模式和環境控制能力使得Cypher ES高分子版能夠滿足高分子領域研究者的特別需求。Asylum Research是唯一能夠提供高分辨的成像和對材料粘彈性進行定量成像的原子力顯微鏡生產商。聚合物本質上都有明顯的粘彈性，因此這對聚合物的科學家來說是一項必需的功能。利用Cypher ES聚合物版原子力顯微鏡，聚合物研究者如今可以在一個系統中利用多種強大的工具進行高效地操作，獲得定量的數據和相關結果。

 

Cypher ES Polymer 聚合物版包括三種獨有的納米力學表征技術。兩種AFM技術，AM-FM和接觸共振粘彈性成像技術能夠高分辨并且定量的對彈性模量和粘彈性響應（也就是損耗模量和損耗因子等）。第三種技術 ，快速力譜成像技術，能夠進行定量的高速彈性模量成像。與其它的力譜技術不同，Asylum的快速力譜成像技術記錄成像過程中的每一條力曲線，測量形變型號和Z閉環傳感器的信號，其不但支持常規的縮進模型，例如 Hertz, Sneddon 以及DMT等力學模型，而且還支持更多先進的力學模型，包括JKR 以及Oliver-Pharr。 

 

此外， Cypher ES 聚合物版提供結合環境控制的極高分辨率的快速掃描。系統中包含一個全密封的高溫樣品加熱臺，與系統無縫對接，不需要任何外加的線纜、管道以及控制器等。利用該加熱臺能夠在室溫至250°C范圍內無干擾的探測聚合物的相轉變過程。zei終，該系統還包括Asylum 獨有的blueDrive光熱激發模塊，其能夠讓輕敲模式更簡單，更穩定和更準確。 

對AFM在聚合物中應用感興趣的研究者可以從網站上找到眾多的應用手冊，研討會以及實際的樣品成像資料等：www.oxford-instruments.com/afm-polymers 

 

以下圖像為：從室溫加熱到135°C，冷卻之后Cypher ES 聚合物版AFM 對syndiotactic polypropylene (sPP) 和polystyrene (PS)樣品的成像。圓形獨立的區域是 PS ，周圍連續的介質是 sPP。掃描范圍3 μm。

牛津儀器原子力顯微鏡Cypher ES基于Cypher S的卓越性能，添加了全套環境控制功能。雖然高分辨率，速度和穩定性的特征相似，但是Cypher ES可以使操作變得十分簡便，無論是在氣體或是液體環境，溫度0-250°C，還是一些zei具刺激性的化學環境中均可運行。Cypher ES可以應對zei嚴苛的試驗要求，是一臺終極AFM。

Cypher ES聚合物版原子力顯微鏡

在聚合物研發領域，Cypher ES具有無可匹敵的性能和廣泛用途。我們zei受歡迎的配置之一現已上市，Cypher ES聚合物版現在享受優惠價格，還可快速送貨。

Cypher ES聚合物版包括：

• Cypher ES環境控制原子力顯微鏡

? 相比其它普通原子力顯微鏡通常具有更高的分辨率

- 快速掃描，獲取結果僅需幾秒鐘

• BlueDrive光熱激勵

- 簡化所有輕敲成像模式的操作

- 使得成像過程更加穩定，即便發生溫度變化

- 使得納米力學成像模式變得更加定量化

 

• 高溫樣本加熱器

- 可以在控制氣體環境下將樣本加熱至250°C

 

- 操作便捷，無需額外的控制器、電線或管道

 

• 快速力掃描成像

- 捕捉高速力曲線用于儲存模量映射

- 捕捉所有曲線，包括偏差和Z傳感器

- 支持眾多壓痕模型，包括Hertz、DMT、Sneddon和JKR

• 調幅調頻粘彈性映射模式

- zei快的納米力學映射模式（>20 Hz線掃描速率）

- 量化測量儲存模數和損耗正切角

- 運行模數范圍大(~50 kPa - 300 GPa)

• 接觸共振粘彈性成像模式

- 量化測量儲存模數和損耗正切角

- 適用于高模數材料（1 GPa - 300 GPa）

• GetStarted自動成像優化

- 在掃描開始前就自動優化成像參數

- 首行掃描線就可獲得絕佳數據，不損傷樣本或探針

Cypher的性能絕對無與倫比

　　顯微鏡：第三代平板式、全閉環先進掃描技術平臺

　　1.掃描器：橫向(X-Y)范圍90um×90um;豎直(Z)范圍15um (標配型)或者40um(選配型)

　　2. 噪聲：垂直(Z)方向上的RMS值<0.3埃 (平均偏差 (Adev) 在0.1Hz-1kHz 帶寬)

　　3. 樣品大小：直徑≤100mm, 厚度≤20mm

　　4.控制器:全數字化、模塊化、可編程控制器，其數據處理能力僅僅受限于計算機的的內存大小(允許連續一千萬點力曲線和>8190x 8190點高密度像素成像)。允許在5MHz的速度下連續獲得200萬以上的數據。

　　5. MFP-3D可以實現全面的SPM表面表征技術，包括：

　　?輕敲模式(Tapping Mode AFM)-擁有Q-control控制技術

　　?接觸模式(Contact Mode AFM)

　　?定量相位成像模式(Phase Imaging)

　　?橫向力模式(Lateral Force Microscopy, LFM)

　　?磁場力顯微技術(Magnetic Force Microscopy, MFM)

　　?掃描隧道顯微技術(Scanning Tunneling Microscopy, STM)

　　? 力調制(Force Modulation)

　　? 靜電力顯微技術(Electric Force Microscopy, EFM)

　　? 表面電勢顯微術(Surface Potential Microscopy)

　　? 動態和靜態力曲線測試(Force-Distance)

　　?力陣列測量(Force Volume Measurement)

　　? 納米壓痕/劃痕(Nanoindenting/Scratching)

　　? 超高分辨率導電顯微技術(ORCA)

　　? 壓電響應模式(Piezo Response Force Microscopy, PFM mode)

　　獨有專利技術

　　?高次諧波成像模式(Dual AC Mode)

　　? 分子力力譜模式(Molecular Force Spectroscopy)

　　? 高壓壓電力模式(HV-PFM)

　　? 能帶激勵顯微技術(Band-Excitation)

　　?雙頻共振追蹤壓電模式(Dual frequency resonance tracking)

　　?洛倫茨力驅動輕敲模式(I-DriveTM)