日立高新S3700N超大樣品倉掃描電子顯微鏡

日立高新掃描電子顯微鏡S-3700N適合用于研究大件，較重，較高的樣品。 

▲最大樣品直徑達300mm。
▲可觀察范圍直徑達203mm。
▲可對高達110mm的樣品進行觀察和能譜分析。
▲通用型接口布局滿足各種分析用途。

特點

• 特大型的樣品室可裝載最大直徑達300 mm的樣品，還可同時安裝EDX/WDX/EBSD等配件。其可載樣品高度可達110 mm。

• 5軸馬達驅動優中心傾斜、旋轉、圖像導航系統、樣品臺追蹤、軌跡存儲與中心復位等樣品臺的馬達控制功能一應俱全。

• S-4800，SU-70及S-3400N均具有用戶友好的GUI設計，這使得操作者經過簡單培訓即可操作。

• 顯示系統有全屏顯示，無閃爍，高像素和實時圖像顯示等優異的性能，它還可以實時信號混合并同時顯示兩個不同的檢測器觀測到的互不相同的樣品信息。

• 可變壓模式不需要金屬噴涂，可以直接觀察不導電樣品。

• 高靈敏度半導體背散射電子檢測器可以在快速掃描模式下運行，這使得尋找大尺寸樣品中感興趣的區域更為簡單和便利。

• 標準配備渦輪分子泵(TMP)，其清潔和干燥的真空條件最大限度地減少了樣品污染。區別于傳統的擴散泵掃描電子顯微鏡，此款產品不需較大的加熱功率或循環水箱，從而使得它成為一款節能，生態環保的掃描電子顯微鏡。

該分析用掃描電子顯微鏡適合用于研究大件，較重，較高的樣品。

    　　▲zei大樣品直徑達300mm。

    　　▲可觀察范圍直徑達203mm。

    　　▲可對高達110mm的樣品進行觀察和能譜分析。

    　　▲通用型接口布局滿足各種分析用途。

掃描電子顯微鏡(SEM)現今已經延伸到廣大企業單位，不僅在學術研究領域，各行各業均有廣泛應用，與此趨勢相對應，用戶需要觀測和分析的樣品種類也有所擴大。S-3700N的開發正是完全考慮了上述廣泛的多元化應用的需求，此款產品的標準配置包含一個二次電子檢測器，一個五段分割背散射電子(BSE)探測器和可變壓力(VP)模式。
這就使得絕大部分的樣品觀測，可以去除過去傳統的掃描電鏡必須的金屬噴涂，可在自然狀態下直接觀察含水樣品。
S-3700N有一個巨大的樣品室，可容納直徑達300 mm和高度達110 mm的樣品。樣品室設置有多種配件端口，可以適應電鏡在當今極其廣泛的應用需求，這些配件包EDX，WDX，EBSD，樣品室監視裝置，冷臺等。此款產品的多功能性以及靈活的系統配置，能夠很好地滿足您現今以及未來的各項需求。

特點：

• 特大型的樣品室可裝載最大直徑達300 mm的樣品，還可同時安裝EDX/WDX/EBSD等配件。其可載樣品高度可達110 mm。

• 5軸馬達驅動優中心傾斜、旋轉、圖像導航系統、樣品臺追蹤、軌跡存儲與中心復位等樣品臺的馬達控制功能一應俱全。

• S-4800，SU-70及S-3400N均具有用戶友好的GUI設計，這使得操作者經過簡單培訓即可操作。

• 顯示系統有全屏顯示，無閃爍，高像素和實時圖像顯示等優異的性能，它還可以實時信號混合并同時顯示兩個不同的檢測器觀測到的互不相同的樣品信息。

• 可變壓模式不需要金屬噴涂，可以直接觀察不導電樣品。

• 高靈敏度半導體背散射電子檢測器可以在快速掃描模式下運行，這使得尋找大尺寸樣品中感興趣的區域更為簡單和便利。

• 標準配備渦輪分子泵(TMP)，其清潔和干燥的真空條件最大限度地減少了樣品污染。區別于傳統的擴散泵掃描電子顯微鏡，此款產品不需較大的加熱功率或循環水箱，從而使得它成為一款節能，生態環保的掃描電子顯微鏡。