紅外光譜與原子力顯微鏡結合
Anasys 儀器公司的nanoIR? 平臺是以探針為基本，顯示納米級樣品的化合物結構的測量工具。 實驗室解決了紅外光譜和原子力顯微鏡(AFM)結合的關鍵技術，使紅外光譜在空間分辨率上遠遠超過光學衍射的極限。在高分子科學、材料科學、生命科學的構造和性能等領域有廣闊的應用前景。
納米級空間分辨率+化學光譜
提供納米級分辨率的nanoIR系統與化學光譜結合，在同樣的樣品中，nanoIR的用戶可以比原子力顯微鏡(AFM)的測量范圍更廣泛，并在相同的測量范圍內比高分辨率化學光譜更快速得到結果。機械性能和熱性能也可以映射到納米級分辨率上。
紅外光譜的詳細介紹
nanoIR系統能使操作人員利用紅外光譜的全部功能。nanoIR系統的紅外源是采用專利技術設計的，從3600到1200 cm – 1之間是連續可調的。與聚合物光譜結合的nanoIR系統，表現出與紅外光譜良好的相關性。nanoIR軟件還使操作人員能夠調出納米紅外吸收光譜標準分析軟件包(例 如，Bio-Rad’s KnowItAll?)快速分析樣品，并確定化學成分。
綜合顯示熱性能和力學性能
除了提供紅外光譜的高分辨率性能外，nanoIR系統還能直接得出熱性能和力學性能的技術參數。樣品的機械性能可以使用并聯共振方法進行收集。繪制出隨時變化的剛性圖譜。nanoIR系統平臺還可以進行納米級的熱分析，使研究人員能夠批量的進行熱分析，并且不需要任何技術就可以得出分析結果。
線光譜圖的PC和ABS共混，與電腦顯示的聚合物和ABS域混合AFM圖像。
穿過EAA和尼龍層的多層薄膜的高分辨率線光譜圖。
同一樣品中形貌，化學成分，機械性能，熱性能的綜合測量。
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