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  • 發布時間:2018-07-27 20:29 原文鏈接: X射線能譜儀應用范圍

    1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定;

    2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析;

    3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析,如:金屬化膜表面鍍層的檢測;

    4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別,考古和文物鑒定,以及刑偵鑒定等領域;

    5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、線、點分布分析。



    X射線光電子能譜分析



    X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子,可以測量光電子的能量,以光電子的動能為橫坐標,相對強度(脈沖/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖,從而獲得待測物組成。XPS主要應用是測定電子的結合能來實現對表面元素的定性分析,包括價態。 X射線光電子能譜因對化學分析最有用,因此被稱為化學分析用電子能譜


    受激發射(stimulated emission)是產生激光的重要步驟。電子自高能態受到光的激發而躍遷到低能態,同時發射與激發光的相位、偏振方向和傳播方向相同的光,稱為受激發射。


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