XRD(X 射線衍射)是目前研究晶體結構(如原子或離子及其基團的種類和位置分布,晶胞形狀和大小等)最有力的方法。XRD 特別適用于晶態物質的物相分析。晶態物質組成元素或基團如不相同或其結構有差異,它們的衍射譜圖在衍射峰數目、角度位置、相對強度次序以至衍射峰的形狀上就顯現出差異。
因此,通過樣品的 X 射線衍射圖與已知的晶態物質的 X 射線衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結構的定性鑒定;通過對樣品衍射強度數據的分析計算,可以完成樣品物相組成的定量分析;XRD還可以測定材料中晶粒的大小或其排布取向(材料的織構)···等等,應用面十分普遍、廣泛。目前 XRD 主要適用于無機物,對于有機物應用較少。