為何使用光學顯微鏡研究固體性質？

      顯微觀察在于通過對樣品圖像放大進而達到揭示單純肉眼所不可見的信息的目的。當在光學顯微鏡上增加一個偏光濾鏡其便成為可用來確定晶體光學性質和開展顯微化學實驗的分析工具。不同固體結構有著不同光學性質，如折射率、色澤、消光角、光色散的都可同光光學結晶的方法快速確定。光學性質由晶體自身的晶體結構和化學性質所決定，因此光學性質可提供許多有價值的的信息來支持通過其他方法獲取的數據。此外通過偏光顯微鏡還可快速獲取粒徑、粒子性狀、機械性質、孿晶、包合物、晶體生長和消融、介晶等信息。采用熱臺顯微鏡對少量樣品進行加熱或冷卻即可觀察到熱學引起的現象如熔點、晶型轉變、溶劑化物和升華等。除光學顯微鏡外還有許多其他顯微鏡用來探索和分析樣品的物料和化學性質如配有X射線的電子顯微鏡、原子力顯微鏡（AFM）紅外-拉曼顯微鏡、近紅外顯微鏡及聲學顯微鏡等。