倒置金相顯微鏡

倒置金相顯微鏡，由于試樣觀察面向下與工作臺表面重合，觀察物鏡位于工作臺的下面，向上觀察，這種觀察形式不受試樣高度的限制，在制備試樣時只要一個觀察面平整，因此工廠實驗室、科研機構院校教學普遍選用。倒置金相顯微鏡底座支承面積較大，重心較低，安全平穩可靠，目鏡與支承面呈45℃傾斜，觀察舒適。
 

　　正置金相顯微鏡具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，因為符合人的日常習慣，因此更廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質。正置金相顯微鏡在觀察時成像為正像，這對使用者的觀察與辨別帶來了極大的方便。除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，大于3微米小于20微米觀察目標，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。