國科大等：二維半導體新成果登上Nature

創新方法打破硅基邏輯電路的底層“封印”

經過數十年發展，半導體工藝制程已逐漸逼近亞納米物理極限，傳統硅基集成電路難以依靠進一步縮小晶體管面內尺寸來延續摩爾定律。發展垂直架構的多層互連CMOS邏輯電路以實現三維集成技術的突破，已成為國際半導體領域積極探尋的新方向。

由于硅基晶體管的現代工藝采用單晶硅表面離子注入的方式，難以實現在一層離子注入的單晶硅上方再次生長或轉移單晶硅。雖然可以通過三維空間連接電極、芯粒等方式提高集成度，但是關鍵的晶體管始終被限制在集成電路最底層，無法獲得厚度方向的自由度。新材料或顛覆性原理因此成為備受關注的重要突破點。

近日，中國科學院大學（以下簡稱國科大）教授周武課題組與山西大學教授韓拯課題組、遼寧材料實驗室副研究員王漢文課題組、中山大學教授侯仰龍課題組、中國科學院金屬研究所研究員李秀艷課題組等合作，提出了一種全新的基于界面耦合的p型摻雜二維半導體方法。該項新成果于5月29日登上Nature。

該方法采用界面效應的顛覆性路線，工藝簡單、效果穩定，并且可以有效保持二維半導體本征的優異性能。

在此基礎上，該研究團隊利用垂直堆疊的方式制備了由14層范德華材料組成、包含4個晶體管的互補型邏輯門NAND以及SRAM等器件。

這一創新方法打破了硅基邏輯電路的底層“封印”，基于量子效應獲得了三維（3D）垂直集成多層互補型晶體管電路，為后摩爾時代未來二維半導體器件的發展提供了思路。

二維半導體垂直3D集成互補型邏輯電路SRAM原型器件的實現國科大供圖

利用低電壓球差校正掃描透射電鏡，該研究團隊對由14層范德華材料組成的NAND器件的截面結構進行了原子尺度的深入表征。

分析結果表明，器件關鍵組分MoS₂、CrOCl與h-BN層之間具有原子級清晰的界面，相應的電子能量損失譜化學成像進一步證實了這一結論。密度泛函理論計算揭示了這種界面耦合誘導的極性反轉源于過渡金屬硫族化物（TMD）材料向CrOCl的電荷轉移以及伴隨的電子間相互作用。

該摻雜策略預期可廣泛適用于TMD材料與具有高功函數的層狀絕緣體之間的界面，有望推動半導體電路先進三維集成的進一步發展。

該研究得到科技部納米科技重點專項、國家自然科學基金、沈陽材料科學國家研究中心、遼寧材料實驗室、山西大學量子光學與光量子器件國家重點實驗室、北京高校卓越青年科學家計劃項目、中國科學院穩定支持基礎研究領域青年團隊計劃和中國科學院大學電子顯微學實驗室等的資助。

相關論文信息：https://doi.org/10.1038/s41586-024-07438-5