雷尼紹inLux?SEM拉曼聯用接口進入ANTOP獎專家評審

伴隨著美好時節，2023年第一期ANTOP獎的申報和評審工作正在如火如荼地開展當中。由雷尼紹（上海）貿易有限公司申報的“四維時空原位SEM-拉曼聯用接口”ANTOP獎進入專家評審階段。40多年來，雷尼紹一直是計量、測量科學領域的創新者，此次雷尼紹帶來的inLux? SEM-拉曼聯用接口也同樣會為您呈現不一樣的體驗。

　　獎項名稱：四維時空原位SEM-拉曼聯用接口

　　獎項主體：inLux? SEM-拉曼聯用接口

inLux? SEM-拉曼聯用接口

　　申報理由

在掃描電子顯微鏡 (SEM) 上連接inLux? SEM-拉曼聯用接口，便可實現同時執行SEM成像和拉曼成像。充分利用inLux接口獲取化學和結構信息，不僅有助于深入了解樣品，而且可幫助解決科研和材料科學難題。

創新型inLux SEM-拉曼聯用接口，可在您的掃描電子顯微鏡 (SEM) 樣品室中集成高性能的拉曼分析能力。在執行SEM成像的同時，您還可以采集拉曼光譜并生成2D和3D圖像。在SEM成像模式和拉曼數據采集模式之間切換時，樣品將保持固定不動，因此在比較拉曼圖像和SEM圖像時，您可以確信精確的共點定位。

inLux接口提供各種拉曼分析功能。您可以從單點或多點采集光譜，也可以生成2D和3D共焦拉曼圖像。inLux接口的配置齊全，標配支持所有這些操作，用戶能夠分析樣品上體積超過0.5 mm x 0.5 mm x 0.5 mm的區域。它完全由光柵進行位置控制，精度達到50 nm，可確保生成精確的拉曼圖像。

主要優點：

①信息詳實 — 在執行SEM成像的同時，共點執行拉曼、光致發光 (PL) 和陰極熒光 (CL) 光譜分析。

②通用 — inLux接口可以安裝在不同制造商的各種SEM機型上，可適應各種尺寸的樣品室，而且無需對SEM進行任何修改。

③無損 — inLux的探頭只需單擊就能完全縮回。這樣可確保探頭在不使用時不會干擾SEM的其他功能或工作流程。

④測定分布 — 標配共焦拉曼成像功能，可輕松測量分布不均勻的樣品。

⑤觀察樣品 — 具有大面積光學成像和拼圖功能，方便用戶直觀地觀察樣品并定位所關注的區域。

⑥配置多樣 — 支持多達兩種不同的激光激發波長，另有一個可選的CL模塊。

⑦自動化 — 只需一鍵切換激光波長，便可對復雜樣品進行拉曼分析。

連接多款雷尼紹拉曼系統：

inLux接口可與雷尼紹的研究級拉曼光譜儀和軟件配合使用。它不僅具有全面的數據處理和分析能力，而且直觀易用。從工業污染鑒別到學術研究，inLux接口有助于充分發揮SEM的性能。

　　關于ANTOP獎項

　　申報即刻開放，我們希望尋找并記錄下這樣的你：

　　您可以是單位、也可以是個人，只要在分析測試行業取得的各類可證明的突出成績，并滿足以下幾點，就可申報本獎項哦：

　　1、您的突出成績有利于推動分析測試行業的正向發展；

　　2、該成績必須有現實可查的證明材料；

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　　申報流程：

　　ANTOP申報評審流程

　　注：獎項權利人為個人，所申報的應用類獎項不收取任何費用

　　重要時間節點：

　　本期ANTOP獎項將繼續設立“ANTOP2022最具人氣產品”獎項，用以表彰本期獎項最受用戶關注的評獎產品，敬請期待~

　　ANTOP獎項三大特色：

　　1、打破條框：獎項名稱自主設置，人/物/事類型不限，更能彰顯申報者獨一無二的特色和優勢；

　　2、打破暗箱：360°+交互式展示參選內容，讓申報者更充分表現，接受更公開審視；

　　3、打破威權：專業評審+行業網友聯合評選，既保證專業公正，又調動行業參與。

　　ANTOP獎項自2017年開啟以來，得到廣大同仁的熱烈響應，經過緊張激烈、專業嚴格的獎項申報、網絡評審、專家審核三大環節，各大廠商最終迎來他們的閃耀時刻。

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