玻璃中玻色峰機制研究取得進展
玻色峰是非晶物質的典型特征和動力學行為，涉及其組成粒子振動行為的反常性，即在THz頻率范圍，非晶物質表現出相對于晶體而言過高的振動態密度，其額外的聲子散射在低溫下（5~30 K）對比熱的貢獻尤為突出，導致相對于晶體而言過高的比熱。晶體材料比熱在低溫下（< 20K）與溫度的三次方成正比，德拜T3定律較好地解釋了材料低溫比熱與溫度的三次方關系。因此德拜模型被認為是量子理論在20世紀初所取得的重要進展之一，然而后續研究發現，非晶態物質（也即結構玻璃）的低溫比熱違背了德拜定律，非晶物質會在低溫下（5～30K）表現出相對于晶體物質過剩的比熱異常，該反常現象被稱為比熱玻色峰。玻色峰已經在結構玻璃中被普遍發現，并被認為是結構玻璃的典型特征和指紋，但結構玻璃中玻色峰的起源仍存在爭論。目前，多種理論均可在一定程度上解釋玻色峰現象，但是玻色峰的起源仍是未解之謎，因此尋找新的視角重新審視現有理論，并從中鑒別出玻色峰真正的物理起源十分必要。 ......閱讀全文
玻璃中玻色峰機制研
玻色峰是非晶物質的典型特征和動力學行為，涉及其組成粒子振動行為的反常性，即在THz頻率范圍，非晶物質表現出相對于晶體而言過高的振動態密度，其額外的聲子散射在低溫下（5~30 K）對比熱的貢獻尤為突出，導致相對于晶體而言過高的比熱。晶體材料比熱在低溫下（< 20K）與溫度的三次方成正比，德拜T3定
玻璃中玻色峰機制研究取得進展
玻色峰是非晶物質的典型特征和動力學行為，涉及其組成粒子振動行為的反常性，即在THz頻率范圍，非晶物質表現出相對于晶體而言過高的振動態密度，其額外的聲子散射在低溫下（5~30 K）對比熱的貢獻尤為突出，導致相對于晶體而言過高的比熱。晶體材料比熱在低溫下（< 20K）與溫度的三次方成正比，德拜T3定
玻璃中玻色峰機制的研究進展
玻色峰是非晶物質的一個典型特征和動力學行為，涉及其組成粒子振動行為的反常性，即在THz頻率范圍，非晶物質表現出相對于晶體而言過高的振動態密度，其額外的聲子散射在低溫下（5~30 K）對比熱的貢獻尤為突出，導致相對于晶體而言過高的比熱。對于晶體材料而言，我們知道其比熱在低溫下（< 20K）與溫度的
我國學者發現無序玻璃態固體玻璃玻色峰的方向序
有序晶體的原子振動可描述為一系列格波，而聲子則是這些格波的能量量子化。在太赫茲（THz）低頻段，格波可近似為連續介質彈性波，其振動能級態密度正比于頻率的平方，服從經典的德拜模型。但是，對于所有的無序玻璃態固體，它們的低頻振動總是偏離德拜模型預測而出現態密度過剩，形成反常的“玻色峰（Boson p
二維無序顆粒體系中玻色峰本質研究獲進展
上海交通大學物理與天文學院、自然科學研究院張潔課題組在二維無序顆粒體系中玻色峰本質的研究中獲新進展，相關研究成果日前發表于《自然—通訊》。 玻色峰，是指在無序體系中低頻區域相對于德拜模型有過剩的態，具體可以表現為在態密度曲線的某個特征頻率以及比熱容曲線的特定溫度上有個峰，或者在熱傳導曲線
容忍光子損失玻色采樣實驗首次實現
中國科學技術大學教授潘建偉及其同事陸朝陽等與中國科學院上海微系統與信息技術研究所尤立星小組合作，實驗研究了一種量子計算模型“玻色采樣”對光子損失的魯棒性，證明容忍一定數目光子損失的玻色采樣可以帶來采樣率的有效提升。該研究成果為通過玻色采樣實現量子霸權開辟了一條高效的途徑，并于近日以“編輯推薦文章”
新方法可觀測宇宙最冷物體玻色
據物理學家組織網11月28日(北京時間)報道，玻色—愛因斯坦冷凝物(BEC)是宇宙中最冷的物體。它們也非常脆弱，即使一個光子都可以加熱并破壞它們，迄今為止，科學家們一直認為無法同時測量并控制這種不可思議的物質形態。最近，英國和澳大利亞科學家組成的科研團隊提出了一種新方法，不僅能最好地測量BEC的
“高溫”玻色－愛因斯坦凝聚研究獲突破性進展
如果你想建立一個量子計算機，你需要一種方法來構造一堆處于相同狀態的量子位，并實現這些量子位的邏輯運算。有沒有可能使自然界中不同能量、不同狀態的粒子，變成同一個量子狀態的拷貝？有沒有可能通過粒子之間的相互作用，操縱它們來進行簡單的量子計算操作呢？ 讓原子“凝聚一心” 大量相同量子態的粒子拷貝可
發色基團特征吸收峰
生色團是指分子中含有的，能對光輻射產生吸收、具有躍遷的不飽和基團及其相關的化學鍵。某些有機化合物分子中存在含有不飽和鍵的基團，能夠在紫外及可見光區域內（200～800nm）產生吸收，且吸收系數較大，這種吸收具有波長選擇性，吸收某種波長（顏色）的光，而不吸收另外波長（顏色）的光，從而使物質顯現顏色，所
振動圓二色光譜儀
技術特點-?雙光源設計帶來無可比擬的信噪比.是所有單光源系統的3.6倍以上-?基線漂移小于2x10-5ABU-?獨有的SyncRoCell樣品臺消除了樣品池本身的誤差-?檢測器連續使用時間可達30-48小時-? DualPEM 專利技術可升級,可使在測量固體樣品時消除固體樣品本身的誤差。?- 同時采