掃描探針顯微鏡發展歷史
1981年，Bining，Rohrer在IBM蘇黎世實驗室發明了掃描隧道顯微鏡(STM)并為此獲得1986年諾貝爾物理獎。STM的出現使人類能夠對原子級結構和活動過程進行觀察。由于STM需要被測樣本必須為導體或半導體，其應用受到一定的局限。 1985年，原子力顯微鏡(AFM)的發明則將觀察對象由導體、半導體擴展到絕緣體。 此后，人們在STM和AFM原理的基礎上利用樣品與探針之間多種不同關系，發明了力調制顯微鏡(FMM)、相位檢測顯微鏡(PDM)、靜電力顯微鏡(EFM)、電容掃描顯微鏡(SCM)、熱掃描顯微鏡(SThM)和近場光隧道掃描顯微鏡(NSOM)等各種系列顯微鏡，這些顯微鏡都是基于探針在被測樣本表面上進行橫向和縱向掃描，并檢測探針針頭與樣品表面之間相關檢測量變化的原理研制的設備，因此，以上各系列顯微鏡被統稱為掃描探針顯微鏡(SPM)。 掃描探針顯微鏡系列產品以近似相同的成像方法測量不同對象的微觀特性，它們的共同特點是......閱讀全文
掃描探針顯微鏡發展歷史
1981年，Bining，Rohrer在IBM蘇黎世實驗室發明了掃描隧道顯微鏡(STM)并為此獲得1986年諾貝爾物理獎。STM的出現使人類能夠對原子級結構和活動過程進行觀察。由于STM需要被測樣本必須為導體或半導體，其應用受到一定的局限。 1985年，原子力顯微鏡(AFM)的發明則將觀察對象由導
掃描探針顯微鏡功不可沒的歷史發展
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掃描隧道顯微鏡的發展歷史
? ? ? 17世紀，世界上第一臺光學顯微鏡發明成功，并且利用這臺顯微鏡，人類首次觀察到了細胞的結構，從而開始了人類使用儀器研究微觀世界的新時代。但是，由于受光波長的限制，光學顯微鏡的分辨率只能達到10^-6m~10^-7m。20世紀初，利用電子透鏡使電子束聚焦的原理，成功的發明了電子顯微鏡，它的分
掃描電子顯微鏡的發展歷史
掃描電鏡是用于檢驗和分析固體微觀結構特征的最有用的儀器之一，可以獲得高的圖像分辨率。場發射電子槍是具有很高的亮度和很小的電子源。掃描電鏡的圖像反映了樣品三維的形貌特征，通過電子和樣品的互作用可以研究樣品的結晶學、磁學和電學特性。 早在1938年，Von.Ardence將掃描線圈加到透射電子顯微
掃描探針顯微鏡和掃描探針顯微鏡的光軸調整方法
掃描探針顯微鏡和掃描探針顯微鏡的光軸調整方法。提供能夠使用配置于掃描探針顯微鏡的物鏡來自動地進行光杠桿的光軸調整的掃描探針顯微鏡和其光軸調整方法。是一種掃描探針顯微鏡（100），所述掃描探針顯微鏡（100）具備：懸臂支承部（11），以規定的安裝角（θ）安裝懸臂（4）；移動機構（21），對懸臂的位置進
掃描探針顯微鏡及掃描方法
掃描探針顯微鏡和掃描方法，其能減小或避免因探針尖與樣品碰撞而造成的損害，縮短測量時間，提高生產力和測量精確度，不受粘附水層的影響收集樣品表面的觀測數據，如形貌數據。顯微鏡具有振動探針尖的振動單元、探針尖與樣品表面接近或接觸時收集觀測數據的觀測單元、探針尖與樣品表面接近或接觸時檢測探針尖振動狀態變化的
掃描探針顯微鏡概述
掃描探針顯微鏡以其分辨率極高（原子級分辨率）、實時、實空間、原位成像，對樣品無特殊要求（不受其導電性、干燥度、形狀、硬度、純度等限制）、可在大氣、常溫環境甚至是溶液中成像、同時具備納米操縱及加工功能、系統及配套相對簡單、廉價等優點，廣泛應用于納米科技、材料科學、物理、化學和生命科學等領域，并取得
掃描探針顯微鏡簡介
掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscope，SPM）是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡（原子力顯微鏡AFM,激光力顯微鏡LFM，磁力顯微鏡MFM等等）的統稱，是國際上近年發展起來的表面分析儀器，是綜合運用光電子技術、激光技術、微弱信號檢
激光掃描共聚焦熒光顯微鏡的歷史發展
·1957年，Marvin Minsky提出了共聚焦顯微鏡技術的某些基本原理，獲得了美國的專利。 ·1967年，Egger和Petran成功地應用共聚焦顯微鏡產生了一個光學橫斷面。 ·1977年，Sheppard和Wilson首次描述了光與被照明物體的原子之間的非線性關系和激光掃描器的拉曼光
掃描電子顯微鏡之——發明和發展歷史
1834年 法拉第在“皇家學會會報”上發表的文章第一次提到基本電荷--“電的原子”概念。 1834：漢米爾頓推導出 質點運動與幾何光學等效原理 1850年代，德國波恩的一位吹玻璃的手工業工人Geissler.設計了一臺當時被認為效率很高的抽氣泵，獲得較高的真空。然后成功把金屬電極封入玻