電鏡附件的原理及其應用——EBSD附件
背散射電子衍射花樣與所測單晶體的晶體結構有關,利用此種關聯將其用作材料的結構研究方面變形成了背散射電子衍射分析技術,這就是我們通常說的EBSD(電子背散射衍射)。EBSD主要可做單晶體的物相分析,同時提供花樣質量、置信度指數、彩色晶粒圖,可做單晶體的空間位向測定、兩顆單晶體之間夾角的測定、可做特選取向圖、共格晶界圖、特殊晶界圖,同時提供不同晶界類型的絕對數量和相對比例,即多晶粒夾角的統計分析、晶粒取向的統計分析以及它們的彩色圖和直方統計圖,還可做晶粒尺寸分布圖,將多顆單晶的空間取向投影到極圖或反極圖上可做二維織構分析,也可做三維織構即ODF分析。EBSD會因測試條件而受到各種限制。只有在所測單晶體完整并且沒有應力的情況下才會產生背散射衍射花樣,試樣必須平整并且始終要保持與入射電子70°的空間位向關系,這樣才能保證衍射錐面向接收的探測器,否則,探測器接收不到衍射的信號。也就是說當試樣存在應力時不宜做EBSD分析,試樣粗糙不平時也不......閱讀全文
EBSD系統組成
EBSD系統組成系統設備的基本要求是一臺掃描電子顯微鏡和一套EBSD系統.EBSD采集的硬件部分通常包括一臺靈敏的CCD攝像儀和一套用來花樣平均化和扣除背底的圖象處理系統。圖2是EBSD系統的構成及工作原理。在掃描電子顯微鏡中得到一張電子背散射衍射花樣的基本操作是簡單的。相對于入射電子束，樣品被高角
什么是EBSD技術
EBSD是一種“結晶學”分析系統。1996年美國TSL(TexSemLaboratories,Inc.)公司推出了TSLOIM系統，空間分辨本領已優于0.2μm，比原理相似的電子通道圖樣(ECP)提高了一個量級，在0.4秒鐘內即能完成一張衍射圖樣的自動定標工作。英國牛津集團顯微分析儀器Link-OP
什么是EBSD技術？
EBSD是一種“結晶學”分析系統。1996年美國TSL(TexSemLaboratories,Inc.)公司推出了TSLOIM系統，空間分辨本領已優于0.2μm，比原理相似的電子通道圖樣(ECP)提高了一個量級，在0.4秒鐘內即能完成一張衍射圖樣的自動定標工作。英國牛津集團顯微分析儀器Link-OP
金屬EBSD如何制備試樣
方法： 有固體溶劑壓片和直接使用粉末壓片。 注意： 使用固體溶劑壓片是其溶劑的性質不能與待 測物質相近，然后就是溶劑的使用量的問題。直接壓片時晶粒要細小，試樣取向無規則。
BUEHLER發布巖相EBSD圖譜
BUEHLER標樂公司編纂的EBSD巖相圖譜，著眼于鑲嵌試樣和薄片切割試樣的比較，收錄了石英、奧長石、石榴石等材料的相圖。?欲了解詳情，請訪問BUEHLER標樂中文網站：。或直接在線閱讀?敬請聯系BUEHLER市場部lesley.chen@buehler.com?
一文看懂EBSD!
1.電子背散射衍射分析技術(EBSD/EBSP) 20世紀90年代以來，裝配在SEM上的電子背散射花樣(Electron Back-scattering Patterns，簡稱EBSP)晶體微區取向和晶體結構的分析技術取得了較大的發展，并已在材料微觀組織結構及微織構表征中廣泛應用。 該技術也被稱
EBSD－樣品制備知識小知識
EBSD，即電子背散射衍射（Electron Backscattered Diffraction ）。EBSD的主要特點是在保留掃描電子顯微鏡的常規特點的同時進行空間分辨率亞微米級的衍射。目前EBSD技術的應用領域集中于多種多晶體材料，例如金屬、合金、陶瓷、半導體、超導體、礦石，用以研究各種現象
ebsd采集花樣主要是分析什么
電子背散射衍射(簡稱EBSD)技術是基于掃描電鏡中電子束在傾斜樣品表面激發出的衍射菊池帶的分析確定晶體結構、取向及相關信息的方法花樣（或圖像）質量IQ、花樣襯度BC與置信指數CI
ebsd采集花樣主要是分析什么
電子背散射衍射(簡稱EBSD)技術是基于掃描電鏡中電子束在傾斜樣品表面激發出的衍射菊池帶的分析確定晶體結構、取向及相關信息的方法花樣（或圖像）質量IQ、花樣襯度BC與置信指數CI
電子背散射衍射（EBSD）的應用
電子背散射衍射（EBSD）的應用 EBSD系統中自動花樣分析技術的發展，加上顯微鏡電子束和樣品臺的自動控制使得試樣表面的線或面掃描能夠迅速自動地完成，從采集到的數據可繪制取向成像圖OIM、極圖和反極圖，還可計算取向（差）分布函數，這樣在很短的時間內就能獲得關于樣品的大量的晶體學信息，如：織構和取向差
EBSD學術研討會2012
標題: EBSD學術研討會2012 地點: 威士巴登 國家: 德國 開始日期: 2012年5月23日 結束日期: 2012年5月24日
EBSD分析（electron－backscatter－diffraction）是指
EBSD即電子背散射衍射。EBSD的原理始于20世紀50年代，技術問世于80年代。EBSD是掃描電子顯微鏡（SEM）的一個標準分析附件，但大大拓寬了掃描電子顯微鏡進行微觀分析的功能。它可以與SEM的其他功能（包括EDS等配件）結合起來，原位成像、成分分析、大樣品分析、粗糙表面成像等，克服了傳統分析方
晶粒尺寸及形狀的分析EBSD
晶粒尺寸及形狀的分析傳統的晶粒尺寸測量依賴于顯微組織圖象中晶界的觀察。自從EBSD出現以來，并非所有晶界都能被常規浸蝕方法顯現這一事實已變得很清楚，特別是那些被稱為“特殊”的晶界，如孿晶和小角晶界。因為其復雜性，嚴重孿晶顯微組織的晶粒尺寸測量就變得十分困難。由于晶粒主要被定義為均勻結晶學取向的單元，
織構及取向差分析－－EBSD
織構及取向差分析EBSD不僅能測量各取向在樣品中所占的比例，還能知道這些取向在顯微組織中的分布，這是織構分析的全新方法。EBSD可應用于取向關系測量的范例有：推斷第二相和基體間的取向關系、穿晶裂紋的結晶學分析、單晶體的完整性、微電子內連使用期間的可靠性、斷口面的結晶學、高溫超導體沿結晶方向的氧擴散、
EBSD與其他衍射技術的比較
EBSD與其他衍射技術的比較X射線衍射或中子衍射不能進行點衍射分析。除了EBSD外，還有其他的點分析技術，主要有SEM中的電子通道花樣（SAC）和透射電子顯微鏡（TEM）中的微衍射（MD），一般認為EBSD已經取代SAC，而TEM中的微衍射（MD）需要嚴格的樣品制備，且不可能進行自動快速測量。TEM
電鏡附件的原理及其應用——EBSD附件
背散射電子衍射花樣與所測單晶體的晶體結構有關,利用此種關聯將其用作材料的結構研究方面變形成了背散射電子衍射分析技術,這就是我們通常說的EBSD(電子背散射衍射)。EBSD主要可做單晶體的物相分析,同時提供花樣質量、置信度指數、彩色晶粒圖,可做單晶體的空間位向測定、兩顆單晶體之間夾角的測定、可做特選取
牛津儀器EBSD高級應用培訓課程表（2011）
課程名稱：EBSD高級應用培訓 培訓地點：牛津儀器中國應用技術支持中心 ??????? 上海市東蘭路248號香樟園1號樓1樓E室? ??? ??? ??? ??? ??? ??? ??? ??? ??? ??? ??? ??? ??? ??? ??? ??? ??? ??? ???
牛津儀器Symmetry－EBSD——快速與高靈敏度兼備
分析測試百科網訊 EBSD技術是材料科學表征的一個重要手段，受到越來越多顯微工作者的重視，同時 EBSD使用者的水平也在逐年提高。相比XRD來說，EBSD可以針對微觀選取更加精確定位局部晶粒及晶界特性，樣品形狀及尺寸不受限制，可以做塊狀、絲狀、截面等多種樣品，牛津儀器大面積采集模式，也可以對整個
EDS和EBSD一體化產品：TEAM－PEGASUS系統
國際微觀分析儀器領導廠商EDAX公司，于2012年3月發布了最新的微觀分析產品TEAMTM PEGASUS系統。該產品集成了EDAX公司世界一流的能譜儀(EDS)和電子背散射衍射(EBSD)的硬件系統和EDAX公司廣受歡迎的最先進的TEAMTM 軟件系統，是EDAX公司下一代智
美國EDAX上海4月EBSD培訓班圓滿結束
美國EDAX公司是國際知名的微觀分析產品生產商，在能量色散X-射線能譜分析(EDS)、電子背散射衍射(EBSD)和微束X-射線熒光分析(μ- XRF)領域擁有全球領先的技術，一直為半導體、金屬、地質、醫藥、生物、材料和陶瓷等市場的一流企業提供產品和服務。 2012年4月10日至13日，
電子背散射衍射（EBSD）樣品的兩種有效制備方法
掃描電子顯微鏡中電子背散射衍射技術已廣泛地成為金屬學家、陶瓷學家和地質學家分析顯微結構及織構的強有力的工具。EBSD系統中自動花樣分析技術的發展，加上顯微鏡電子束和樣品臺的自動控制使得試樣表面的線或面掃描能夠迅速自動地完成，從采集到的數據可繪制取向成像圖OIM、極圖和反極圖，還可計算取向（差）分
牛津儀器2017納米分析技術論壇－發布2款EDS/EBSD新品
分析測試百科網訊 2017年8月21日，牛津儀器在宜昌萬達皇冠假日酒店舉辦2017年納米分析技術論壇，吸引了來自高校、研究院所、半導體公司、鋼鐵企業等近270位研究和技術人員參與，展現了牛津儀器在納米分析領域的最新分析技術及應用進展。牛津儀器納米分析技術論壇 牛津儀器納米分析部全球銷售和服務總
牛津儀器發布全新EBSD探測器Symmetry－性能超傳統CCD十倍
近日，牛津儀器推出全新EBSD探測器Symmetry。 Symmetry是牛津儀器基于CMOS技術特制的劃時代的全新EBSD探測器，性能極佳且易用： · 超過3000點/秒的花樣標定速率 · 30多倍速快于傳統的CCD技術的探測器 · 在低電流低電壓工作條件下分析極其敏銳 · 為高分
菊池帶及帶寬與散射晶體的單胞有何對應關系
1、EBSD測定的織構可以用多種形式表達出來，如極圖、反極圖、ODF等（見圖5）。同X-ray衍射測織構相比，EBSD具有能測微區織構、選區織構并將晶粒形貌與晶粒取向直接對應起來的優點。另外，X射線測織構是通過測定衍射強度后反推出晶粒取向情況，計算精確度受選用的計算模型、各種參數設置的影響，一般測出
牛津儀器納米分析部教育網站上線
牛津儀器納米分析部-全球領先的微觀分析系統供應商，最近發布了其教育網站www.ebsd.com。EBSD或電子背散射衍射系統是一種用于掃描電鏡內部樣品微觀定量分析的先進技術。 EBSD的商務經理Jenny Goulden評價道：“ EBSD分析正快速地從單純的學術研究工具
賽默飛世爾科技發布全新電子顯微分析產品
高效、易用? ------賽默飛世爾科技一體化EBSD 、WDS、 EDS微區分析系統 2010年6月28日，美國威斯康星州麥迪遜 —— 全球科學服務領域的領導者賽默飛世爾科技今天發布了全新電子顯微分析產品QuasOr EBSD（電子背散射衍射），其與NOR
掃描電鏡在材料研究中的應用四
?利用背散射EBSD裝置,對汽車板等小晶粒的織構產品,可在軋制并退火之后,統計各種取向晶粒的比例,研究軋制和退后工藝對織構的影響。又如焊接試樣的熔合區為凝固狀態的柱狀晶,因其是定向生長,存在織構,可用EBSD得到各種取向晶粒的分布情況,并可進行統計,這對焊接材料、焊接工藝以及焊接性能的研究又擴展到了
布魯克發布掃描電鏡透射菊池衍射探頭OPTIMUS?
布魯克公司于2015年7月9日，在德國柏林發布了最新的掃描電鏡透射菊池衍射專用探頭OPTIMUSTM TKD。這一革命性的產品最大的特點是配置了可直接置于透射樣品下面的水平式磷屏。OPTIMUSTM可與布魯克所有e-Flash 傳統豎直磷屏EBSD探頭互換，實現一個探頭提供EBSD和TKD兩種最
電子背散射衍射
20世紀90年代以來，裝配在SEM上的電子背散射花樣(Electron Back-scattering Patterns，簡稱EBSP)晶體微區取向和晶體結構的分析技術取得了較大的發展，并已在材料微觀組織結構及微織構表征中廣泛應用。該技術也被稱為電子背散射衍射(Electron Backscatte
高應變率作用下高導無氧銅晶粒細化
通過Leica EM TIC3X?對樣品進行離子束切割，樣品EBSD mapping解析率得到明顯提升，可達80%-90%以上，并且結果穩定可重復，更好地表征了晶粒的變形，以及大小角晶界的轉變。實驗樣品高應變率作用下高導無氧銅（OFHC）實驗目的通過電子背散射衍射技術（EBSD）對在高應變率、高溫和