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應用范圍： 固體材料表面微觀形貌、大小、厚度和粗糙度的表征 送樣要求： 1、樣品大小最大1×1cm，厚度最厚0.5cm； 2、樣品上下表面整潔，沒有油漬灰塵等污染物； 3、儀器最大掃描范圍10×10×2.5μm； 4、若是納米顆粒樣品，先用分散劑超聲分散后，滴在云母、硅片等平整的基底上，干燥后測試； 5、若是靜電紡絲樣品，要求樣品緊實致密。若不能制備為緊實致密的靜電紡絲樣品，要求樣品制備在鋁箔的光滑表面，且為單層絲； 6、若樣品表面有無機鹽，先用水等清除鹽分后來測試，因為鹽分結晶影響形貌的掃描； 7、若是要測試薄膜厚度，先把薄膜和基底作出一個邊界清除的臺階。......閱讀全文
應用范圍： 固體材料表面微觀形貌、大小、厚度和粗糙度的表征 送樣要求： 1、樣品大小最大1×1cm，厚度最厚0.5cm； 2、樣品上下表面整潔，沒有油漬灰塵等污染物； 3、儀器最大掃描范圍10×10×2.5μm； 4、若是納米顆粒樣品，先用分散劑超聲分散后，滴在云母、硅片等平整的基底
原子力顯微鏡研究對象可以是有機固體、聚合物以及生物大分子等，樣品的載體選擇范圍很大，包括云母片、玻璃片、石墨、拋光硅片、二氧化硅和某些生物膜等，其中zui常用的是新剝離的云母片，主要原因是其非常平整且容易處理。而拋光硅片zui好要用濃硫酸與30%雙氧水的7∶3 混合液在90 ℃下煮1h。利用電性能測
?原子力顯微鏡研究對象可以是有機固體、聚合物以及生物大分子等，樣品的載體選擇范圍很大，包括云母片、玻璃片、石墨、拋光硅片、二氧化硅和某些生物膜等，其中zui常用的是新剝離的云母片，主要原因是其非常平整且容易處理。而拋光硅片要用濃硫酸與30%雙氧水的7∶3 混合液在90 ℃下煮1h。利用電性能測試時需
? ? ? ?原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖
應用范圍： 適用于定性定量分析沸點較低、熱穩定性好的小分子有機化合物和高分子化合物的結構分析、裂解機理分析，可應用于環保、食品、石油化工、生物醫藥、代謝組學、香精香料、法醫毒物、煙草等眾多領域。 ※送樣要求： 溶液： 1、 有機溶劑體系 樣品中水分含量低于1‰，如有需要加入無水硫酸鈉除
應用范圍： 固體樣品的微觀形貌、結構，樣品的微區成分分析，廣泛應用于材料、生物、化學、環境等領域。 1、粉末、微粒樣品形態的測定； 2、金屬、陶瓷、細胞、聚合物和復合材料等材料的顯微形貌分析； 3、多孔材料、纖維、聚合物和復合材料等界面特性的研究； 4、固體樣品表面微區成分的定性和半定
p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'}工作模式原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contact
原子力顯微鏡（AFM）是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。原子力顯微鏡自從問世以來在生物學研究中有其不可替代的作用，以其樣品制備簡單，可在多種環境中運作，高分辨率等優勢，成為生命科學研究中不可缺少的工具。 原子力顯微鏡工作原理： 通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元
原子力顯微鏡（AFM）是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。原子力顯微鏡自從問世以來在生物學研究中有其不可替代的作用，以其樣品制備簡單，可在多種環境中運作，高分辨率等優勢，成為生命科學研究中不可缺少的工具。原子力顯微鏡工作原理：通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微
應用范圍： 1、 對各種材料內部微結構進行觀察； 2、 粉末、納米顆粒形貌和粒徑觀察； 3、 選區電子衍射和晶體結構分析； 4、 金屬、陶瓷、半導體等顯微結構分析； 5、 配合EDS 能譜儀可以對各種元素進行定性和半定量微區分析。 送樣要求： 1、透射電鏡不能做磁性樣品； 2、