<li id="omoqo"></li>
  • <noscript id="omoqo"><kbd id="omoqo"></kbd></noscript>
  • <td id="omoqo"></td>
  • <option id="omoqo"><noscript id="omoqo"></noscript></option>
  • <noscript id="omoqo"><source id="omoqo"></source></noscript>
  • Antpedia LOGO WIKI資訊

    X熒光制樣之液體樣品制備

    上一章節講解完固體樣品制備大家應該都會有所了解了,下面給大家講一下液體樣品的制備要求。 液體樣品可直接放在液體樣品杯中進行直接測定,所用液體體積盡可能達到無限厚,體積應保持恒定。樣品杯由不銹鋼、聚四氟乙烯等材料制成,并用厚度為幾個微米的聚酯、聚乙烯、聚丙烯等薄膜作為支撐保護。 液體樣品也可以經富集,再將其轉移到濾紙片、 Mylar膜或聚四氟乙烯基片上,經物理濃縮,使分析物成固體殘留物用于測定。此法與固體制樣方法相比,樣品是均勻的,不存在礦物效應、顆粒度效應和表面光潔度對測量的影響,基體效應因稀釋而減小。標準溶液也很容易配制,特別適用于定量分析過程。 然而,液體樣品直接測量也存在一些問題: ①液體樣品散射背景高,檢測下限升高; ②液體樣品杯中的支撐膜對低能X射線吸收很大,因此不適用于輕元素如Na、Mg等的測定; ③液體在輻射下受熱,會使元素間產生化學反應或產生氣泡,使X射線強度發生變化。 ......閱讀全文

    X熒光制樣之液體樣品制備

      上一章節講解完固體樣品制備大家應該都會有所了解了,下面給大家講一下液體樣品的制備要求。   液體樣品可直接放在液體樣品杯中進行直接測定,所用液體體積盡可能達到無限厚,體積應保持恒定。樣品杯由不銹鋼、聚四氟乙烯等材料制成,并用厚度為幾個微米的聚酯、聚乙烯、聚丙烯等薄膜作為支撐保護。   液體樣

    X射線熒光分析液體樣品的制備

      液體樣品可直接放在液體樣品杯中進行直接測定,所用液體體積盡可能達到無限厚,體積應保持恒定。樣品杯由不銹鋼、聚四氟乙烯等材料制成,并用厚度為幾個微米的聚酯、聚乙烯、聚丙烯等薄膜作為支撐保護。  液體樣品也可以經富集,再將其轉移到濾紙片、 Mylar膜或聚四氟乙烯基片上,經物理濃縮,使分析物成固體殘

    X?射線熒光制樣方法淺談(一)

    導言: 第13期的論壇線上講座還未結束,第14期的線上講座又接踵而至,本期講座我們邀請了XRF版面的專家ljzllj先生就?XRF制樣的方法與大家一起交流切磋。ljzllj先生一直從事XRF儀器的應用等各方面的研究工作。對XRF的儀器比較熟悉。歡迎大家就X?射線熒光制樣方法的問題前來提問,也歡迎XR

    X?射線熒光制樣方法淺談(二)

    一、概論 X?射線熒光光譜法是一個相對分析方法,任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復操作可能性;用于制作校準曲線的標準樣品和分析樣品必須經過同樣的制樣處理過?程。X?射線熒光實際上又是一個表面分析方法,激發只發生在試樣的淺表面,必須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外,樣品的平均粒度和粒度分布

    X熒光樣品制備中物理富集技術

    1)蒸發和冷凍干燥生物組織試樣常用的干燥方法是冷凍干燥法,讓生物樣品在冷凍狀態下用真空泵將水抽干。其優點是樣品在處理過程中不會被污染,待測元素不因揮發而損失,但設備昂貴、費時。也可以采用放在氧等離子體低溫干燥箱中灰化,低溫等離子是氣體在低壓于高頻電場的作用下產生的,在這種情況下,由于分子或原子間的間

    X熒光樣品制備中化學富集技術

    化學富集法有沉淀-共沉淀法、電沉積法、離子交換、液一液萃取法、鰲合一固定法和色層法等。?1)沉淀法螯合物沉淀法(DDTC法)是使溶液中的各金屬陽離子與螯合物試劑反應后沉淀過濾,鰲合物沉淀劑常用的有DDTC(銅試劑)、PAN(1-(2-吡啶偶氮)-2-萘酚),8-羥基喹啉,其特點是均可與近20種元素產

    實驗室光學儀器--X熒光分析儀液體樣品的制備方法

    液體樣品可直接放在液體樣品杯中進行直接測定,所用液體體積盡可能達到無限厚,體積應保持恒定。樣品杯由不銹鋼、聚四氟乙烯等材料制成,并用厚度為幾個微米的聚酯、聚乙烯、聚丙烯等薄膜作為支撐保護。液體樣品也可以經富集,再將其轉移到濾紙片、 Mylar膜或聚四氟乙烯基片上,經物理濃縮,使分析物成固體殘留物用于

    X射線熒光分析固體樣品的制備介紹

      固體樣品包括粉末樣品、固體金屬和非金屬樣品、固體塊狀樣品。對于固體樣品,可以采取將其制成溶液后按液體樣品方式測定的方法,也可以直接以固體形態進行測定。而對于金屬樣品一般直接取樣分析。  粉末樣品制樣方式比較多,通常采取壓片法和熔融法。兩者各有優缺點,壓片法操作簡便快捷但是干擾嚴重,測量精密度和準

    XRD樣品制樣要求

    Xrd可以測量塊狀和粉末狀的樣品,對于不同的樣品尺寸和樣品性質有不同的要求,下面對分別對其作簡要的介紹:a)塊狀樣品的要求及制備對于非斷口的金屬塊狀試樣,需要了解金屬自身的相組成、結構參數時,應該盡可能的磨成平面,并進行簡單的拋光,這樣不但可以去除金屬表面的氧化膜,也可以消除表面應變層。然后再用超聲

    TEM制樣:薄膜制備技術

    薄膜制備技術樣品要求:1、薄膜應對電子束“透明”,制得的薄膜應當保持與大塊樣品相同的組織結構。2、薄膜得到的圖像應當便于分析,所以即使在高壓電子顯微鏡中也不宜采用太厚的樣品,減薄過程做到盡可能的均勻.薄膜應具有適當的強度和剛性 。3、薄膜制備方法必須便于控制,具備足夠的可靠性和重復性。樣品制備:1、

    <li id="omoqo"></li>
  • <noscript id="omoqo"><kbd id="omoqo"></kbd></noscript>
  • <td id="omoqo"></td>
  • <option id="omoqo"><noscript id="omoqo"></noscript></option>
  • <noscript id="omoqo"><source id="omoqo"></source></noscript>
  • 1v3多肉多车高校生活的玩视频