利用X射線熒光分析法分析質量和干擾源
如今，化學和醫藥產品的質量穩定有著非常重要的意義。一些干擾性的影響因素，例如生產設備中出現有害沉積物，不僅會影響產品質量，還會損壞生產設備的零部件。而在現代化分析技術的幫助下，用戶在幾分鐘內即可完成故障的分析診斷。 在流程工藝設備中總是不斷出現由有害沉積物在生產設備中的沉積而帶來的故障和干擾。其存在可能導致嚴重后果：包括從影響產品質量開始到損壞生產設備零部件直至代價昂貴的生產設備全部停產。而在出現這些“致命后果”前人們往往不知道哪里出了問題，是在反應器中?還是在管道中? 因此，實驗分析技術服務商——德國Currenta分析技術公司提供了一種利用X 射線熒光分析儀進行現狀分析的技術服務，能夠快速、定性和半定量地發現生產設備中沉積殘留物的檢測分析方法。 圖1. Currenta 公司的分析師利用S8 Tiger 型的X 射線熒光分析可自動對多個被測樣本依次進行分析檢驗。 該項元素分析技術的負責人HansC......閱讀全文
利用X射線熒光分析法分析質量和干擾源
如今，化學和醫藥產品的質量穩定有著非常重要的意義。一些干擾性的影響因素，例如生產設備中出現有害沉積物，不僅會影響產品質量，還會損壞生產設備的零部件。而在現代化分析技術的幫助下，用戶在幾分鐘內即可完成故障的分析診斷。 在流程工藝設備中總是不斷出現由有害沉積物在生產設備中的沉積而帶來的故障和干
X射線熒光分析法
原子發射與原子吸收光譜法是利用原子的價電子激發產生的特征光譜及其強度進行分析。?X-?射線熒光分析法則是利用原子內層電子的躍遷來進行分析。?X?射線是倫琴于?1895?年發現的一種電磁輻射，其波長為?0.01?～?10nm。在真空管內用電加熱燈絲（鎢絲陰極）產生大量熱電子，熱電子被高壓（萬伏）加速撞
X射線熒光分析法簡介
X射線熒光分析法（X-ray fluorescence analysis），是對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依據。
X射線熒光分析法的簡介
中文名稱X射線熒光分析法英文名稱X-ray fluorescence analysis定 義對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依
X射線熒光分析法的應用
X射線熒光分析法用于物質成分分析，檢出限一般可達3-10～10-6克/克(g/g)，對許多元素可測到10-7～10-9g/g，用質子激發時 ，檢出可達10-12g/g；強度測量的再現性好；便于進行無損分析；分析速度快；應用范圍廣，分析范圍包括原子序數Z≥3的所有元素。除用于物質成分分析外，還可用
激發X射線熒光分析法的概念
當α 、β、γ或X射線作用于樣品時，由于庫侖散射，軌道電子吸收其部分動能，使原子處于激發狀態。由激發態返回基態時發射特征X射線，根據此特征X射線的能量和強度來分析元素的種類和含量。其靈敏度很高，用途很廣。
X射線熒光分析法的未來展望
X射線熒光分析法同其他分析技術一樣，不是完美無缺的。在物質成分分析中，它對一些最輕元素（Z≤8）的測定還不完全成熟，只能是屬于初期應用的階段。常規分析中某些元素的測定靈敏度不如原子發射光譜法高（采用同步輻射和質子激發的X射線熒光分析除外），根據各個工業部門生產自動化的要求（例如選礦流程中的自動控
X射線熒光分析法的應用特點
X射線熒光分析法用于物質成分分析，檢出限一般可達3-10～10-6克/克(g/g)，對許多元素可測到10-7～10-9g/g，用質子激發時 ，檢出可達10-12g/g；強度測量的再現性好；便于進行無損分析；分析速度快；應用范圍廣，分析范圍包括原子序數Z≥3的所有元素。除用于物質成分分析外，還可用于原
X射線熒光光譜分析法
利用原級 X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。在成分分析方面,X射線熒光光譜分析法是現代常規分析中的一種重要方法。 簡史 20世紀20年代瑞典的G.C.de赫維西和R.格洛克爾曾先后試圖應用此法從事定量分析，但由于當時記錄
X射線熒光分析法的特點與適應范圍
(1)適應范圍廣 除了H，He，Li，Be外，可對周期表中從5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。 (2)操作快速方便 在短時間內可同時完成多種元素的分析。 (3)不受試樣形狀和大小的限制，不破壞試樣，分析的試樣應該均勻。 (4)靈敏度偏低 一般只能分析含量大于0.01%的