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目前世界出貨量第一的型號吸收了最新的工藝科技例如OTS，QPU和TTG相關技術，這種全新的高精度系統為下一代小型化的設計及多種測試條件提供保證。特性1：OTS-最近的位置對正系統（光學目標對準） OTS通過對照相機相對位置的測量來保證其絕對位置的精度。這是非常引人注目的技術，來源于東京精密的度量技術。OTS實現了以自己為參照的光學對準系統。特性2：QPU-高剛性的硅片承載臺（四方型系統） 為了有效的達到接觸位置的精度，硅片承載臺各部分的剛性一致是非常重要的，UF3000使用新的4軸機械轉換裝置（QPU），達到高剛性，高穩定度的接觸。 更加方便的操作，UF3000采用在顯示屏上點一下，相關的屏幕就會切換到新的位置顯示。相關的設定十分方便。屏幕的顯示模式也可以由客戶自行定義。......閱讀全文
目前世界出貨量第一的型號吸收了最新的工藝科技例如OTS，QPU和TTG相關技術，這種全新的高精度系統為下一代小型化的設計及多種測試條件提供保證。特性1：OTS-最近的位置對正系統（光學目標對準） OTS通過對照相機相對位置的測量來保證其絕對位置的精度。這是非常引人注目的技術，來源于東京精密的度量技
探針臺從操作上來區分有：手動，半自動，全自動 從功能上來區分有：溫控探針臺，真空探針臺（超低溫探針臺），RF探針臺，LCD平板探針臺，霍爾效應探針臺，表面電阻率探針臺 經濟手動型 根據客戶需求定制 chuck尺寸：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可選） X-Y移動
探針臺主要應用于半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。 探針臺分類 探針臺從操作上來區分有：手動，半自動，全自動 從功能上來區分有：溫控探針臺，真空探針臺（超低溫探針臺），RF
探針臺主要應用于半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。手動探針臺的主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規格芯片，并提供多個可調測試針以及探針座，配合測
探針臺可以固定晶圓或芯片，并精確定位待測物。手動探針臺的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中，并使用顯微鏡將探針尖端放置到待測物上的正確位置。一旦所有探針尖端都被設置在正確的位置，就可以對待測物進行測試。對于帶有多個芯片的晶圓，使用者可以抬起壓盤，壓盤將探針頭與芯片分開，然后將工作臺移到下一個芯片
1.集成電路失效分析 2.晶圓可靠性認證 3.元器件特性量測 4.塑性過程測試(材料特性分析) 5.制程監控 6.IC封裝階段打線品質測試 7.液晶面板的特性測試 8.印刷線路板的電性測試 9.低噪音/低電流測試 10.微波量測(高頻) 11.太陽能電池領域檢測分析 12.
目前世界出貨量第一的型號吸收了最新的工藝科技例如OTS，QPU和TTG相關技術，這種全新的高精度系統為下一代小型化的設計及多種測試條件提供保證。 特性1：OTS-最近的位置對正系統（光學目標對準） OTS通過對照相機相對位置的測量來保證其絕對位置的精度。這是非常引人注目的技術，來源于東京精密
探針臺可以按照使用類型與功能來劃分，也可以按照操作方式來劃分成：手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺。 手動探針臺系統顧名思義是手動控制的，這意味著晶圓載物臺、顯微鏡以及定位器/操縱器都是由使用者手動移動的。因此一般是在沒有很多待測器件需要測量或數據需要收集的情況下使用手動探針臺。該類探針臺
磁場低溫探針臺是一種用于物理學領域的計量儀器，于2017年3月6日啟用。 技術指標 1、 ±2.5T垂直磁場 2、 10K基礎溫度，溫度范圍：10K-500K 3、 制冷方式：閉循環制冷，不需要消耗液氦 4、 控溫穩定性：優于±200mK 5、 探針臂X方向可移動距離不小于51mm
目前世界出貨量第一的型號吸收了最新的工藝科技例如OTS，QPU和TTG相關技術，這種全新的高精度系統為下一代小型化的設計及多種測試條件提供保證。 特性1：OTS-最近的位置對正系統（光學目標對準） OTS通過對照相機相對位置的測量來保證其絕對位置的精度。這是非常引人注目的技術，來源于東京精密