TESCAN與北工大攜手召開SEM原位高溫拉伸成像技術研討會
分析測試百科網訊 2019年11月1日，為推動國內掃描電鏡高溫原位應用技術的推廣，TESCAN（中國）公司與北京工業大學固體微結構與性能研究所聯合舉辦了掃描電鏡原位高溫-拉伸-成像技術研討會。會議以原位高溫技術新進展為主題開展了三場別開生面的學術報告會，來自清華大學、北京科技大學、中國科學院金屬研究所、北京航空材料研究院、鋼鐵研究總院等40余位材料領域專家學者親臨現場，分析測試百科網作為會議的支持媒體，全程跟蹤報道。會議現場北京工業大學固體所 張躍飛教授 北京工業大學固體所張躍飛教授致辭。首先歡迎各位專家學者能夠到場參會，固體所近年來始終探索先進的電子顯微學方法。張澤院士主持的國家重大科研儀器設備研制專項（11327901），今年5月剛剛通過國家自然基金委組織的驗收。其中部分成果是微觀尺度高溫力學原位研究系統，項目成功開發了在掃描電鏡腔室內從室溫～1200℃高溫同時可以施加到3000N載荷，并能進行原位高溫顯微成像的原位儀......閱讀全文
TESCAN與北工大攜手召開SEM原位高溫拉伸成像技術研討會
分析測試百科網訊 2019年11月1日，為推動國內掃描電鏡高溫原位應用技術的推廣，TESCAN（中國）公司與北京工業大學固體微結構與性能研究所聯合舉辦了掃描電鏡原位高溫-拉伸-成像技術研討會。會議以原位高溫技術新進展為主題開展了三場別開生面的學術報告會，來自清華大學、北京科技大學、中國科學院金屬
高溫拉伸試驗機中高溫箱技術規格
高溫拉伸試驗機中高溫箱技術規格：1、溫度偏差：±2℃（≤+200℃） ?≤±4℃（+200℃～+350℃）2、溫控表顯示精度：≤0.1℃3、制冷方式：液氮/單壓縮機/雙壓縮機4、工作室尺寸（深×寬×高）：240×200×600mm或400×360×600mm5、使用環境：溫度+5℃～+35℃ ?；濕
推動材料學與生命科學發展－記2019北京市電子顯微學年會
分析測試百科網訊 2019年12月17日，2019年度北京市電子顯微學年會隆重舉行。本次會議旨在推動北京及周邊省市廣大電子顯微學的學術及技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流。會議共有200余人出席、參與。分析測試百科網作為支持媒體為您帶來全程跟蹤報道。年會簽
攜手共贏，再創輝煌－TESCAN發布全新AMBER電鏡系統
分析測試百科網訊 2019年10月15日，2019年全國電子顯微學學術年會前夕，TESCAN隆重發布了新一代超高分辨率鎵離子FIB-SEM——TESCAN AMBER。中國科學院院士、浙江大學學術委員會主任張澤教授出席本次發布會，分析測試百科網作為合作媒體為您帶來此次發布會的精彩內容。發布會現場
第二屆進博會中國鋼研與3家公司簽約－TESCAN電鏡大放光彩
分析測試百科網訊 11月5日，第二屆中國國際進口博覽會（以下簡稱“進博會”）在上海國家會展中心正式開幕（相關鏈接：直擊第二屆進博會：這些分析儀器廠商的高光時刻來了！）。本屆展會規模空前，約有來自150多個國家和地區的3000多家企業簽約參展，共分為國家展區和七個企業展區。第二屆中國國際進口博覽會
電鏡綜合分析拓展！華東地區顯微學學術交流會隆重舉行
2019年4月19-21日，“2019年華東地區(電子) 顯微學學術交流會”在浙江省杭州市順利召開，會議由山東省、江蘇省、安徽省、上海市、福建省、浙江省電鏡學會聯合舉辦，主題涵蓋電子顯微學相關技術的應用基礎研究，以及綜合運用多種顯微形態學技術的研究和實驗室技術、實驗室管理等經驗交流。 本次會議
兩臺“特殊”質譜儀落戶核工業北京地質研究院
核工業北京地質研究院分析測試研究中心是以核能材料、放射性標準物質的制備、地質礦產和環境分析測試技術研究與服務為主的綜合性檢測實驗室技術機構，也是核工業地質行業的仲裁分析測試實驗室，是地質行業同位素分析、微束分析等領域的權威機構。 核工業北京地質研究院分析測試研究中心采購了兩臺特殊的質譜儀，今年
TESCAN新一代電鏡中的－“極優等生”MAGNA
繼上篇文章中介紹了TESCAN“最靚麗的女兒”—— CLARA克拉拉，在TESCAN新一代電鏡中，還有一位“極優等生”—— MAGNA麥格娜。MAGNA MAGNA麥格娜同樣是出自拉丁語，寓意是偉大的（great）、優秀的。 早先喜歡追劇的朋友有沒有印象，在《越獄》第一集中，典獄長和男主會面
JKSEM1900A型原位拉伸冷熱臺
JK-SEM1900A型原位拉伸冷熱臺JK-SEM1900A原位拉伸冷熱臺是在SEM(掃描電子顯微鏡)下的一款研究樣品在變溫條件下進行應力應變測試的產品。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）溫度下材料的動態應力應變特性測試，可與顯微分析、電學分析
聚焦離子束技術使電鏡分析從二維走向三維
人類對于微觀世界的認知有著漫長的歷史。自300年前第一臺顯微鏡問世以來，人們便開啟了探索微觀世界的大門。隨著科學技術的發展，光學顯微鏡、透射電子顯微鏡和掃描電鏡逐漸作為工具被人們熟知，并且，應科學發展的需求，各項技術均在不斷的創新與發展。如今，作為材料分析的重要工具，電鏡技術已廣泛應用于材料、化工、
TESCAN連續推出三款電子顯微鏡新品！第四代電鏡驚艷現世
2018年11月，TESCAN先后發布了三款掃描電子顯微鏡新品：S9000G超高分辨型鎵離子源雙束FIB系統，S9000超高分辨型場發射掃描電鏡，S8000X高分辨型氙等離子源雙束FIB系統！作為全球電子顯微鏡及聚焦離子束等設備的主要供應商，TESCAN一直致力于新產品、新技術的創新和研發，以滿
SEM掃描電鏡成像質量影響因素
本文介紹影響掃描電鏡圖像質量的因素及其對圖像質量的影響，分別從加速電壓、掃描速度和信噪比、束斑直徑、探針電流、消像散校正、工作距離以及反差對比等分析圖像質量的變化原因，提出提高圖像質量的方法。 ??? ? 掃描電子顯微鏡是（Scanning?Electron?Microscope,SEM）是20 世
金屬材料高溫拉伸試驗方法
一、適用范圍：? 該標準規定了溫度在大于35℃條件下金屬材料拉伸試驗方法的術語及定義?、符號及名稱、試驗原理、試驗設備、試樣、試驗方法、結果處理和試驗報告。? 本標準適用于溫度在大于?35℃條件下金屬材料?的拉伸試驗。? 應用文件資料：? GB/?T?228金屬材料室溫拉伸試驗方法(GB/
TESCAN新一代電鏡誕生－最靚麗的“她”取名CLARA
2019年8月，TESCAN陸續更新了場發射掃描電鏡和Ga、Xe離子源的FIB-SEM產品線。TESCAN對于新產品的期望就像父母面對疼愛的子女一樣，起名的時候會很糾結，既希望特別，又不能太生僻；既希望飽含寓意，還得朗朗上口。TESCAN在給新產品命名時也是絞盡了腦汁。最后決定給第一個“娃”起名
中科院上海微系統所、TESCAN聯合展示電鏡拉曼一體化設備
近日，2019年（第五屆）石墨烯/碳納米材料制備技術及終端應用創新論壇在中科院上海微系統所落下帷幕，這是石墨烯/碳納米材料行業全產業鏈的盛會，會議邀請國內外石墨烯/碳納米材料產業鏈上下游配套企業及國內外科研機構的頂級專家做了精彩報告。 在本次創新論壇，中科院上海微系統所聯合TESCAN公司展示
電鏡技術“鏡”相開放，看2022年北京市電子顯微學年會
——2022 年度北京市電子顯微學年會順利召開2023年2月26日，由北京理化分析測試技術學會電子顯微學專業委員會主辦的2022年度北京市電子顯微學年會在北京順利召開。本次會議旨在推動北京及周邊省市廣大電子顯微學的學術及技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流，邀請
TESCAN－TESNOR－–－關于傳承，追求和期待的故事
2022年11月25-28日，由電鏡學會電子顯微學報編輯部主辦、南方科技大學承辦的“2022年全國電子顯微學學術年會”在東莞市會展國際大酒店龍泉廳順利召開。受全球持續的新冠疫情影響，大會主會場和12個專題分會場采用線下交流+線上直播方式進行，吸引來自高校院所、企事業單位等電子顯微學領域專家學者三千余
SEM如何利用二次電子成像
從書上查了一些內容，書的年代比較久遠，可能買不到...有興趣的話，嘗試著去圖書館借一下吧。 SEM工作時，電子槍發射的入射電子束打在試樣表面上，向內部穿透一定的深度，由于彈性和非彈性散射形成一個呈梨狀的電子作用體積。電子與試樣作用產生的物理信息，均由體積內產生。 二次電子是入射電子在試樣內部
SEM如何利用二次電子成像
SEM工作時，電子槍發射的入射電子束打在試樣表面上，向內部穿透一定的深度，由于彈性和非彈性散射形成一個呈梨狀的電子作用體積。電子與試樣作用產生的物理信息，均由體積內產生。 二次電子是入射電子在試樣內部穿透和散射過程中，將原子的電子轟擊出原子系統而射出試樣表面的電子，其中大部分屬于價子激發，所以能量
SEM如何利用二次電子成像
SEM工作時，電子槍發射的入射電子束打在試樣表面上，向內部穿透一定的深度，由于彈性和非彈性散射形成一個呈梨狀的電子作用體積。電子與試樣作用產生的物理信息，均由體積內產生。 二次電子是入射電子在試樣內部穿透和散射過程中，將原子的電子轟擊出原子系統而射出試樣表面的電子，其中大部分屬于價子激發，所以
吉林省第12屆電子顯微學會議隆重舉行，郭作興任理事長
2019年4月20-21日，由吉林省電鏡學會主辦的“吉林省第十二屆電子顯微學會議”在長春市吉林大學南嶺校區成功舉辦。本次會議期間進行了吉林省電鏡學會組織領導機構換屆、電子顯微學及最新技術和應用發展交流。吉林省第十二屆電子顯微學會議 本次會議開幕式由上屆吉林省電鏡學會理事長崔麗教授致開幕詞，并主
推動電鏡技術新發展－看2020北京電鏡年會
分析測試百科網訊 2020年12月19日，由北京理化分析測試技術學會電鏡專業委員會主辦的2020年度北京市電子顯微學年會隆重舉行。本次會議旨在推動北京及周邊省市廣大電子顯微學的學術及技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流。本次會議共有近200人出席、參與。分析
TESCAN董事會主席Jaroslav－Klíma獲終身成就獎
TESCAN董事會主席兼CEO Jaroslav Klíma成為今年捷克斯洛伐克顯微學會的獲獎者，他于5月14日在2019年度捷克和斯洛伐克顯微學會會議上被授予終身成就獎。圖：TESCAN CEO Jaroslav Klíma被授予終身成就獎 致力于“顯微鏡事業”的一生 Jaroslav K
結合SEM和TEM技術
結合SEM和TEM技術?還有一種電子顯微鏡技術被提及，它是透射電鏡（TEM）和掃描電鏡（SEM）的結合，即掃描透射電鏡（STEM）。?如今，大多數透射電鏡（TEM）可以切換到“STEM模式”，用戶只需要改變其對準程序。?在掃描透射電鏡（STEM）模式下，光束被精確聚焦并掃描樣品區域（如SEM），而圖
25年電鏡老將加入TESCAN－曾任FEI技術專家
近日，TESCAN宣布任命Ronald Daas為TESCAN全球客戶支持總監，負責全球的客戶服務和運營方面的工作，向TESCAN董事兼首席戰略官Radomír Kop?iva匯報，任命于2019年2月1日正式生效。TESCAN全球客戶支持總監Ronald Daas TESCAN產品涵蓋電子和
TESCAN公司推出最新一代分析系統TESCAN－TIMA
2020年11月25日，TESCAN ORSAY HOLDING a.s.宣布正式發布最新一代綜合礦物分析系統---TESCAN TIMA，TIMA（TescanIntegrated Mineral Analyzer）是一款可滿足地球科學研究和工業礦物分析的巖石礦物全自動化定量分析系統。 TE
時隔五年共襄盛舉，第十一次華北五省市電鏡會延安召開
2023年7月22日，由華北五省電子顯微鏡學會和北京理化分析測試技術學會主辦的“第十一次華北五省市電子顯微學研討會及第十三屆全國實驗室協作服務交流會”在陜西省延安市榮華大廈酒店舉辦，會議旨在推動華北五省市電子顯微分析技術的發展，促進電子顯微分析工作者的學術交流，以及分析測試實驗室面向社會開放服務，加
新技術，真應用——第10次華北五省電鏡研討會的饕餮盛宴
分析測試百科網訊 2018年7月22日，第十次華北五省市電子顯微學研討會及2018年全國實驗室協作服務交流會在山東省煙臺市舉行。本次會議由華北五省電子顯微鏡學會主辦，北京理化分析測試技術學會協辦。此次會議旨在推動華北五省市電子顯微分析技術的發展，促進電子顯微分析工作者的學術交流，加強實驗室資源共
TESCAN收購比利時XRE－NV公司－正式進入3D－X射線成像領域
近日，TESCAN宣布收購位于比利時的動態3D和4D X射線成像系統設計和制造商XRE NV！TESCAN是全球領先的電子顯微鏡，聚焦離子束和光學顯微系統供應商，此次收購完成，TESCAN將正式進入3D X射線成像領域。 XRE NV成立于2011年，總部位于比利時根特市，是由比利時根特大學成
sem的二次電子像的成像原理
SEM電鏡吧，這主要是它的成像原理導致的其可以反映樣品表面或者斷面的形貌信息。SEM的工作原理為：從電子槍陰極發出的直徑20(m～30(m的電子束，受到陰陽極之間加速電壓的作用，射向鏡筒，經過聚光鏡及物鏡的會聚作用，縮小成直徑約幾毫微米的電子探針。在物鏡上部的掃描線圈的作用下，電子探針在樣品表面作光