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    美研發出測量納米級材料相互作用的探針

    美國加州大學洛杉磯分校17日表示,該校納米系統科學主任保羅·維斯領導的研究小組開發出了研究納米級材料相互作用的工具——雙掃描隧道顯微和微波頻率探針,可用于測量單個分子和接觸基片表面的相互作用。 過去50年中,電子工業界努力遵循著摩爾定律:每兩年集成電路上晶體管的尺寸將縮小大約50%。隨著電子產品尺寸的不斷縮小,目前已到了需要制作納米級晶體管才能繼續保持摩爾定律正確性的地步。 由于納米級材料和大尺寸材料所展現的特性存在差異,因此人們需要開發新的技術來探索和認識納米級材料的新特征。然而,研究人員在研發納米級電子元器件方面遇到的障礙是,人們沒有相應的能力去觀察如此小尺寸材料的特性。 元器件間的連接是納米級電子產品至關重要的部分。就分子設備而言,分子極化性測量的范圍涉及到電子與單個分子接觸的相互作用。極化性測量有兩個重要方面,它們分別是接觸表面以次納米分辨率精度進行測量的能力,以及認識和控制分子開關兩個狀態的能力......閱讀全文

    美研發出測量納米級材料相互作用的探針

      美國加州大學洛杉磯分校17日表示,該校納米系統科學主任保羅·維斯領導的研究小組開發出了研究納米級材料相互作用的工具——雙掃描隧道顯微和微波頻率探針,可用于測量單個分子和接觸基片表面的相互作用。   過去50年中,電子工業界努力遵循著摩爾定律:每兩年集成電路上晶體管的尺寸將縮小大約50%。隨

    美研發出雙掃描隧道顯微和微波頻率探針

      美國加州大學洛杉磯分校17日表示,該校納米系統科學主任保羅?維斯領導的研究小組開發出了研究納米級材料相互作用的工具――雙掃描隧道顯微和微波頻率探針,可用于測量單個分子和接觸基片表面的相互作用。   過去50年中,電子工業界努力遵循著摩爾定律:每兩年集成電路上晶體管的尺寸將縮小大約50%。

    能用掃描隧道顯微鏡觀察分子圖像

    當然不行掃描隧道顯微鏡亦稱為“掃描穿隧式顯微鏡”、“隧道掃描顯微鏡”,是一種利用量子理論中的隧道效應探測物質表面結構的儀器。它于1981年由格爾德·賓寧(G.Binning)及海因里希·羅雷爾(H.Rohrer)在IBM位于瑞士蘇黎世的蘇黎世實驗室發明,兩位發明者因此與恩斯特·魯斯卡分享了1986年

    能用掃描隧道顯微鏡觀察分子圖像嗎?

    當然不行? ? ? ?掃描隧道顯微鏡亦稱為“掃描穿隧式顯微鏡”、“隧道掃描顯微鏡”,是一種利用量子理論中的隧道效應探測物質表面結構的儀器。它于1981年由格爾德·賓寧(G.Binning)及海因里希·羅雷爾(H.Rohrer)在IBM位于瑞士蘇黎世的蘇黎世實驗室發明,兩位發明者因此與恩斯特·魯斯卡分

    渦輪分子泵分子束外延 MBE 與掃描隧道顯微鏡 STM 聯用

      Pfeiffer 分子泵應用于分子束外延 MBE 與掃描隧道顯微鏡 STM 聯用系統 --分析生長晶體表面結構   分子束外延 MBE 是一種晶體生長技術, 將半導體襯底放置在超高真空腔體中, 和將需要生長的單晶物質按元素的不同分別放在噴射爐中, 由分別加熱到相應溫度的各元素噴射出的分子流能

    掃描隧道顯微鏡 (STM)隧道針尖簡介

    ? ? ? ?隧道針尖的結構是掃描隧道顯微技術要解決的主要問題之一。針尖的大小、形狀和化學同一性不僅影響著掃描隧道顯微鏡圖象的分辨率和圖象的形狀,而且也影響著測定的電子態。針尖的宏觀結構應使得針尖具有高的彎曲共振頻率,從而可以減少相位滯后,提高采集速度。如果針尖的尖端只有一個穩定的原子而不是有多重針

    掃描隧道顯微鏡

       掃描隧道顯微鏡(scanning tunneling microscope,STM) 由Binnig等1981年發明,根據量子力學原理中的隧道效應而設計。當原子尺度的針尖在不到一個納米的高度上掃描樣品時,此處電子云重疊,外加一電壓(2mV~2V),針尖與樣品之間產生隧道效應而有電子逸出,形成隧

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      隧道針尖的結構是掃描隧道顯微技術要解決的主要問題之一。針尖的大小、形狀和化學同一性不僅影響著掃描隧道顯微鏡圖象的分辨率和圖象的形狀,而且也影響著測定的電子態。  針尖的宏觀結構應使得針尖具有高的彎曲共振頻率,從而可以減少相位滯后,提高采集速度。如果針尖的尖端只有一個穩定的原子而不是有多重針尖,那

    掃描隧道顯微鏡簡介

      掃描隧道顯微鏡 Scanning Tunneling Microscope 縮寫為STM。它作為一種掃描探針顯微術工具,掃描隧道顯微鏡可以讓科學家觀察和定位單個原子,它具有比它的同類原子力顯微鏡更加高的分辨率。  此外,掃描隧道顯微鏡在低溫下(4K)可以利用探針尖端精確操縱原子,因此它在納米科技

    掃描隧道顯微鏡(STM)

    掃描隧道顯微鏡(STM)的基本原理是利用量子理論中的隧道效應。將原子線度的極細探針和被研究物質的表面作為兩個電極,當樣品與針尖的距離非常接近時(通常小于1nm),在外加電場的作用下,電子會穿過兩個電極之間的勢壘流向另一電極。這種現象即是隧道效應。

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