SPM與SEM的圖像比較
SPM(掃描探針顯微鏡)與SEM(掃描電子顯微鏡)相比，SEM歷史更長且在各方面的發展已日漸成熟。而SPM正處在方興未艾的發展之中，軟件/硬件不斷開發升級，應用技術也在不斷開拓。更重要的是，SPM并非是在溯尋SEM的發展歷史，而是朝著一個嶄新的方向在發展。雖然從名稱上看二者類似，但從本質來講，“掃描探針”與“掃描電子”既有類似之處，又有完全不同之處。 本文通過觀察常見的昆蟲復眼為例來比較兩種儀器，介紹SEM無法獲得而SPM可以獲得的高度分析結果。該昆蟲復眼觀察實例，也適用于其他各種材料的觀察、測定。 1. SPM與SEM的圖像比較 ? SPM像（圖1） 圖為螞蟻復眼的三維圖像。在準確測定各點高度基礎上形成的三維圖像，能夠真實的反映出復眼表面的凹凸。 SPM觀察不到樣品的顏色，通過模擬色......閱讀全文
SPM與SEM的圖像比較
SPM(掃描探針顯微鏡)與SEM(掃描電子顯微鏡)相比，SEM歷史更長且在各方面的發展已日漸成熟。而SPM正處在方興未艾的發展之中，軟件/硬件不斷開發升級，應用技術也在不斷開拓。更重要的是，SPM并非是在溯尋SEM的發展歷史，而是朝著一個嶄新的方向在發展。雖然從名稱上看二者類似，但從本質來講，“掃描
SEM圖像分析軟件
SEM圖片是電子掃面的圖片，把微觀世界放大到幾千甚至上萬倍，這個圖片是需要你結合自身的知識背景加以專業的判斷才能得出的結論的，而不是有什么軟件會告訴你什么圖片能說明啥。
相關探針和電子顯微鏡?（CPEM）的關聯成像技術簡介
LiteScope?是一種獨特的掃描探針顯微鏡（SPM）。?它設計用于輕松集成到各種掃描電子顯微鏡（SEM）中。?組合互補的SPM和SEM技術使其能夠利用兩者的優勢。使用LiteScope?及其可更換探針系列，可以輕松進行復雜的樣品分析，包括表面形貌，機械性能，電性能，化學成分，磁性能等的表征。相關
一種新型的掃描探針顯微鏡SPM和掃描電子顯微鏡SEM簡介
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如何解決SEM圖像的漂移問題
1。樣品固定不牢固，或者樣品太。因此樣品大小要合適，并用導電膠固定牢固。2。剛放入樣品，開始觀察時圖像漂移較大，可等半小時左右在開始，圖像漂移消除或減弱。3。樣品導電性差，荷電現象導致圖像漂移不清楚，可降低電壓或者樣品表面噴金（碳）處理。4。掃描電鏡對中不好導致聚焦過程中圖像移動。5。高倍觀察時，環
圖像處理法與油脂煙點儀法比較
不同品級的食用油脂的質量指標不同，主要包括：煙點、冷凍試驗、滋味、透明度、色澤、280度加熱實驗、水分及揮發物、雜質、酸值、過氧化物、不皂化物及殘皂量等項內容。其中煙點是非常重要的一項指標，它是指油脂在標準規定的測定條件下，加熱至開始連續發藍煙時的溫度，煙點的測量可以使用煙點儀，同時也可以使用圖
如何獲得清晰的掃描電鏡（SEM）圖像
1、制樣：成功制備出所要觀察的位置，樣品如果不導電，可能需要鍍金2、環境：電鏡處在無振動干擾和無磁場干擾的環境下3、設備：電鏡電子槍仍在合理的使用時間內4、拍攝：找到拍攝位置，選擇合適距離，選擇合適探頭→對中→調像散→聚焦，反復操作至最清晰
SEM掃描電鏡與透射電鏡的主要比較
SEM掃描電鏡從電子槍陰極發出的直徑20-30μm的電子束，受到陰陽極之間加速電壓的作用，射向鏡筒，經過聚光鏡及物鏡的會聚作用，縮小成直徑約幾毫微米的電子探針。在物鏡上部的掃描線圈的作用下，電子探針在樣品表面作光柵狀掃描并且激發出多種電子信號。這些電子信號被相應的檢測器檢測，經過放大、轉換，變成
SEM掃描電鏡與透射電鏡的主要比較
SEM掃描電鏡從電子槍陰極發出的直徑20-30μm的電子束，受到陰陽極之間加速電壓的作用，射向鏡筒，經過聚光鏡及物鏡的會聚作用，縮小成直徑約幾毫微米的電子探針。在物鏡上部的掃描線圈的作用下，電子探針在樣品表面作光柵狀掃描并且激發出多種電子信號。這些電子信號被相應的檢測器檢測，經過放大、轉換，變成電
SEM掃描電鏡與透射電鏡的主要比較
SEM掃描電鏡從電子槍陰極發出的直徑20-30μm的電子束，受到陰陽極之間加速電壓的作用，射向鏡筒，經過聚光鏡及物鏡的會聚作用，縮小成直徑約幾毫微米的電子探針。在物鏡上部的掃描線圈的作用下，電子探針在樣品表面作光柵狀掃描并且激發出多種電子信號。這些電子信號被相應的檢測器檢測，經過放大、轉換，變成
HORIBA收購SPM制造商－首次實現拉曼與SPM真正耦合
具有50多年拉曼光譜儀制造經驗的全球拉曼(Raman)技術領導者HORIBA Scientific今年年初宣布成功收購美國頂尖掃描探針顯微鏡(SPM)制造商AIST-NT。收購前，雙方經歷了長達四年的合作。這次收購意味著掃描探針顯微鏡與拉曼光譜技術實現真正意義的耦合，NanoRaman將會有完整
油脂煙點儀與圖像處理法對煙點測定的比較
??? 有些朋友當看到煙點時，對這兩個字充滿了疑惑，不明白這是什么物質，什么是煙點呢？所謂的煙點就是指在不通風的條件下加熱油脂，觀察到樣品發煙時的溫度。油脂煙點儀測定的煙點可以用來評價油脂的品質。測定煙點最原始的方法就是目視法，而后面又有了圖像處理法及油脂煙點儀。下面內容主要分析油脂煙點儀與圖像處理
原子力顯微鏡在材料科學研究中的應用
? ? ? ?AFM 是利用樣品表面與探針之間力的相互作用這一物理現象，因此不受STM 等要求樣品表面能夠導電的限制，可對導體進行探測，對于不具有導電性的組織、生物材料和有機材料等絕緣體，AFM 同樣可得到高分辨率的表面形貌圖像，從而使它更具有適應性，更具有廣闊的應用空間。AFM 可以在真空、超高真
比較分析多光譜和高光譜圖像
重磅干貨，第一時間送達當你閱讀這篇文章時，你的眼睛會看到反射的能量。但計算機可以通過三個通道看到它：紅色、綠色和藍色。如果你是一條金魚，你會看到不同的光。金魚可以看到人眼看不見的紅外輻射。大黃蜂可以看到紫外線。同樣，人類無法用我們眼睛看到紫外線輻射。（UV-B傷害了我們）現在，想象一下，如果我們能夠
SEM與TEM的區別
一、性質不同1、SEM：根據用戶使用搜索引擎的方式利用用戶檢索信息的機會盡可能將營銷信息傳遞給目標用戶。2、TEM：把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。二、原理不同1、TEM（1）吸收像：當電子被發射到高質量和高密度的樣品時，主要的相位形
SEM與TEM的區別
一、性質不同1、SEM：根據用戶使用搜索引擎的方式利用用戶檢索信息的機會盡可能將營銷信息傳遞給目標用戶。2、TEM：把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。二、原理不同1、TEM（1）吸收像：當電子被發射到高質量和高密度的樣品時，主要的相位形
SEM－和AFM－都可以掃描出薄膜相似的圖像
對于多數薄膜SEM 和AFM 都可以掃描出相似的圖像,它們一個共同的應用就是觀測隨著沉積參數的變化(例如溫度、壓力、時間等)而引起的形態變化。許多樣品用SEM和AFM 都可以掃描出相似的表面結構的圖像。然而,對于這個試樣上可以獲得的其他信息,SEM 和AFM 是不同的,AFM 可以將測量到的試樣X、
SPM的成像模式有些哪？
? ? ? SPM是一類儀器的統稱，最主要的SPM是STM和以AFM為代表的掃描力顯微鏡（Scanning Force Microscope，SFM）。SPM的兩個關鍵部件是探針（Probe）和掃描管（Scanner），當探針和樣品接近到一定程度時，如果有一個足夠靈敏且隨探針-樣品距離單調變化的物理
掃描探針的顯微術
? ? ? ?自從1933年德國Ruska和Knoll等人在柏林制成第一臺電子顯微鏡后，幾十年來，有許多用于表面結構分析的現代儀器先后問世。如透射電子顯微鏡（TEM）、掃描電子顯微鏡（SEM）、場電子顯微鏡（FEM ）、場離子顯微鏡（FIM）、低能電子衍射（LEED）、俄歇譜儀（AES）、光電子能譜
金相圖與SEM圖的區別
金相觀察是依賴可見光的反射,其原理是被腐蝕的晶界處發生漫反射,在照片上是暗的;未被腐蝕的晶粒內部發生的是鏡面反射,在照片上是亮的.SEM分二次電子像和背散射電子像:二次電子像必須腐蝕樣品,不腐蝕的話什么都看不到.照完金相的樣品可以直接照二次電子,但照片的情況有所不同,
島津參加2011年中國國際納米科學技術會議
島津公司于2011年5月新品推出了SPM-9700掃描探針顯微鏡 ??? 掃描探針顯微鏡(SPM)是在樣品表面用微小的探針進行掃描，高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700更是性能高、速度快、操作簡單的新一代掃描探針顯微鏡。? ??? ZL技術的頭部滑
SPM納米加工技術
? ? ? ?提示：掃描探針顯微鏡( scanning probe microscopes，SPM)，包括掃描隧道顯微鏡( STM)、原子力顯微鏡(AFM)、激光力顯微鏡(LFM)、磁力顯微鏡(MFM)等。SPM成為人類在納米尺度上，觀察、改造世界的一種新工具。STM是通過探測隧道電流來感知物體表面
掃描探針顯微鏡測量單根四針狀氧化鋅晶須電阻方法
? ? ? 由于難以解決在微觀尺度下電極與測量對象的準確接觸,因此傳統的電阻測量方法無法適用于微納結構的電阻測量。? ? ? 尋找新的微小結構電阻測量方法,成為納米技術關注的重點。掃描探針顯微鏡(SPM)能夠觀察到微觀物質的表面形貌,其中STM具有納安級電流的檢測能力,而且在微觀操控上具備優勢。?
采用激光共聚焦顯微鏡可以獲取媲美SEM的顯微圖像
激光共聚焦顯微鏡可用來觀察樣品表面亞微米級別的三維輪廓形貌, 也可以測量多種微幾何尺寸, 像晶粒度、體積、膜深、膜厚、深度、長寬、線粗糙度、面粗糙度等。激光共聚焦相比于其他測量手段有其獨特的優勢, 它提高了圖片的清晰度, 有很好的景深, 提高了分辨率, 可以進行無接觸的三維輪廓測試。在金屬材料研發方
采用激光共聚焦顯微鏡可以獲取媲美SEM的顯微圖像
激光共聚焦顯微鏡可用來觀察樣品表面亞微米級別的三維輪廓形貌, 也可以測量多種微幾何尺寸, 像晶粒度、體積、膜深、膜厚、深度、長寬、線粗糙度、面粗糙度等。激光共聚焦相比于其他測量手段有其獨特的優勢, 它提高了圖片的清晰度, 有很好的景深, 提高了分辨率, 可以進行無接觸的三維輪廓測試。在金屬材料研發方
元素面能譜mapping圖標尺和sem圖像是一樣的嗎
EDS自動采集SEM設定圖像采集參數，包括放大倍數和像素尺寸。EDS采集SEM圖像，然后在SEM圖像上做Maping. 標尺是同一個
ICP與AAS的比較與選擇
20世紀90年代以來，隨著ICP技術的不斷發展，它的優勢越來越突出，大有取代AAS之勢，而ICP—MS的問世，不但具有優于GFAAS的檢出限，而且還能測量同位素，更顯示了其強大的優勢。ICP是否會完全取代AAS，它們各有什么優缺點，下面對ICP—MS（等離子體質譜）、ICP—AES（全譜直讀等離子體
常見的圖像軟件與器件介紹
?圖像軟件與器件：普及版軟件、CCD器件、金相分析軟件、USB轉換器、顯微測量軟件、測微尺、影像測量軟件、攝相機；
SEM工作原理與使用方法
SEM通過電子來使樣本放大50萬倍，相當于將1毫米放大到500米。同時，SEM也可以分析樣品的組成元素。SEM產生電子束撞擊樣品原子的電子層，產生X射線，釋放不同程度的能力，從而判斷原子的種類。這項技術也被稱為X射線微探技術，對于分析槍擊痕跡非常有用。
超簡潔！SEM與EPMA對比總結
掃描電子顯微鏡（SEM），主要用于固體物質表面電子顯微高分辨成像，接配電子顯微分析附件，可做相應的特征信號分析。 最常用的分析信號是聚焦電子束和樣品相互作用區發射出的元素特征X-射線，可用EDS（X-射線能譜儀）或者WDS（X-射線波譜儀）進行探測分析，獲得微區（作用區）元素成分信息，而WDS這