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1。樣品固定不牢固，或者樣品太。因此樣品大小要合適，并用導電膠固定牢固。2。剛放入樣品，開始觀察時圖像漂移較大，可等半小時左右在開始，圖像漂移消除或減弱。3。樣品導電性差，荷電現象導致圖像漂移不清楚，可降低電壓或者樣品表面噴金（碳）處理。4。掃描電鏡對中不好導致聚焦過程中圖像移動。5。高倍觀察時，環境振動也會導致圖像漂移或者浮動。......閱讀全文
SEM圖片是電子掃面的圖片，把微觀世界放大到幾千甚至上萬倍，這個圖片是需要你結合自身的知識背景加以專業的判斷才能得出的結論的，而不是有什么軟件會告訴你什么圖片能說明啥。
SPM(掃描探針顯微鏡)與SEM(掃描電子顯微鏡)相比，SEM歷史更長且在各方面的發展已日漸成熟。而SPM正處在方興未艾的發展之中，軟件/硬件不斷開發升級，應用技術也在不斷開拓。更重要的是，SPM并非是在溯尋SEM的發展歷史，而是朝著一個嶄新的方向在發展。雖然從名稱上看二者類似，但從本質來講，“掃描
1。樣品固定不牢固，或者樣品太。因此樣品大小要合適，并用導電膠固定牢固。2。剛放入樣品，開始觀察時圖像漂移較大，可等半小時左右在開始，圖像漂移消除或減弱。3。樣品導電性差，荷電現象導致圖像漂移不清楚，可降低電壓或者樣品表面噴金（碳）處理。4。掃描電鏡對中不好導致聚焦過程中圖像移動。5。高倍觀察時，環
對于多數薄膜SEM 和AFM 都可以掃描出相似的圖像,它們一個共同的應用就是觀測隨著沉積參數的變化(例如溫度、壓力、時間等)而引起的形態變化。許多樣品用SEM和AFM 都可以掃描出相似的表面結構的圖像。然而,對于這個試樣上可以獲得的其他信息,SEM 和AFM 是不同的,AFM 可以將測量到的試樣X、
激光共聚焦顯微鏡可用來觀察樣品表面亞微米級別的三維輪廓形貌, 也可以測量多種微幾何尺寸, 像晶粒度、體積、膜深、膜厚、深度、長寬、線粗糙度、面粗糙度等。激光共聚焦相比于其他測量手段有其獨特的優勢, 它提高了圖片的清晰度, 有很好的景深, 提高了分辨率, 可以進行無接觸的三維輪廓測試。在金屬材料研發
激光共聚焦顯微鏡可用來觀察樣品表面亞微米級別的三維輪廓形貌, 也可以測量多種微幾何尺寸, 像晶粒度、體積、膜深、膜厚、深度、長寬、線粗糙度、面粗糙度等。激光共聚焦相比于其他測量手段有其獨特的優勢, 它提高了圖片的清晰度, 有很好的景深, 提高了分辨率, 可以進行無接觸的三維輪廓測試。在金屬材料研發方
叢林中的長頸鹿寶寶 掃描電子顯微鏡（SEM）圖像描繪了Ni-Al-C樹叢中一只小長頸鹿。將坩堝內將要凝結的融化合金倒出后，一小束樹枝晶留了下來，并且表面覆蓋一層薄薄的融化物。“叢林”冷卻后，碳從薄層中析出，并結晶出一層石墨。進一步冷卻后，石墨層和金屬合金的熱傳導系數不同，便皺了起來，這樣小長
結構1．鏡筒鏡筒包括電子槍、聚光鏡、物鏡及掃描系統。其作用是產生很細的電子束（直徑約幾個nm），并且使該電子束在樣品表面掃描，同時激發出各種信號。2．電子信號的收集與處理系統在樣品室中，掃描電子束與樣品發生相互作用后產生多種信號，其中包括二次電子、背散射電子、X射線、吸收電子、俄歇（Auger）電子
特點（一）?能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。（二）?樣品制備過程簡單，不用切成薄片。（三）?樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察。（四）?景深大，圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍
工作程序 （1）開啟試樣室進氣閥控制開關（CHAMB VENT），將試樣放入試樣室后將試樣室進氣閥控制開關（CHAMB VENT）關閉抽真空。 （2）開啟鏡筒真空隔閥。 （3）加高壓（ACCELERATION POTENTIAL）至25KV. （4）加燈絲電流（FILAMENT）至7.5-8. （