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在經典分析中，影響譜線強度的因素較多，尤其是試樣組份帶來的光譜重疊等，所以對標準參比的組份要求較高。 難于作絕對定量分析,需要精確的標樣做比較。含量（濃度）較大時，準確度較差。 對樣品化合物有共軛性要求,應用不廣泛.......閱讀全文
在經典分析中，影響譜線強度的因素較多，尤其是試樣組份帶來的光譜重疊等，所以對標準參比的組份要求較高。 難于作絕對定量分析,需要精確的標樣做比較。含量（濃度）較大時，準確度較差。 對樣品化合物有共軛性要求,應用不廣泛.
分子熒光光譜儀優勢 制樣簡單，試樣多數不需經過化學處理就可分析，且固體、液體試樣均可直接分析。 分析速度快。雖然測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。 多元素同時檢出能力。可同時檢測一個樣品中的多種元素。一個樣品一經激發，樣品中各元素都各自發射出
X熒光光譜儀適用于工廠來料及制程控制中的有害物質檢測，鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cr)、鉻(Cd)、溴(Br)、氯(Cl)控制的利器。無損檢測，可對電子電氣設備，玩具指令中的有害物質進行定性定量分析。 ? X熒光光譜儀優勢: ? a) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統
XRF熒光光譜儀根據其分光原理不同分成波長色散型X熒光光譜儀（波譜儀，WDXRF）和能量色散型X熒光光譜儀（能譜儀，EDXRF）。我們通常所說的X熒光光譜儀就是指波長色散的儀器。 1、XRF熒光光譜儀的優勢 （1）制樣簡單。通常情況下是物理制樣。試樣經過簡單的破碎、研磨成粉末壓片或熔
? ?優勢: a) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。 b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高
許多ROHS儀器用戶大概都不太清楚這款儀器是基于怎樣的應用原理來完成作業的，這就是今天我們要在這里為大家介紹的XRF-X射線熒光光譜儀的優缺點。X射線熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。 X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二
分子熒光光譜法又稱分子發光光譜法或熒光分光光度法，即通常所謂的熒光分析法。該法是一種利用某一波長的光線照射試樣，使試樣吸收這一輻射，然后在發射出波長相同或波長較長的光線的化學分析方法。如果這種再發射約在 s內發生，則稱為熒光；若能在 s或更長的時間后發生，則稱磷光。分子熒光光譜法就是利用這種再發射的
制樣簡單，試樣多數不需經過化學處理就可分析，且固體、液體試樣均可直接分析。 分析速度快。雖然測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。 多元素同時檢出能力。可同時檢測一個樣品中的多種元素。一個樣品一經激發，樣品中各元素都各自發射出其特征譜線，可以進行分
分子熒光光譜儀操作步驟HITACHI F-4500型熒光光譜儀操作規程一、開機前準備 1．實驗室溫度應保持在15℃～30℃之間，濕度應保持在45％～70％之間。 2．確認樣品室內無樣品后，關上樣品室蓋。 二、開機 1．打開電源開關（POWER→ON）待風扇正常運轉。?2．按（X。LAMR START