科學家首次清楚觀察分子反應過程中原子鍵
這是一個含有碳原子的環狀分子，圖片顯示了其重新排列前后的形態，右邊即兩種最常見的反應產物。比例尺為3埃(即埃格斯特朗Angstrom，符號?，一般用于表示原子半徑、鍵長和可見光波長，1?=0.1納米)。 反應之前，銀表面上的反應物分子。 反應產物2是該反應中兩種最常見的產物之一。 反應產物3是該反應中另一種最常見的產物。 反應產物4是一個意想不到的產物分子。 研究團隊預測了反應產物5的存在，但實際上該分子只占了反應混合物中不到1%。 這是科學家第一次以原子級的分辨率捕捉到分子反應過程的圖像。圖像中分子的原子鍵看起來與化學課本中的棒狀圖幾乎一模一樣。直到現在，科學家都還只能推斷分子的結構。實驗中的分子由26個碳原子和14個氫原子組成，利用原子力顯微鏡，我們可以清楚看到分子中各個原子之間的原子鍵，其長度只有幾埃(埃，符號?，一般用于表示原子半徑、鍵長和可見光波長，1?=0.1納米)。有關的研究結果在線發表在5月30日......閱讀全文
分子鍵長的測定方法
各種分子中鍵長的數值，大量地已通過晶體的X射線衍射法予以測定；為數較少的簡單的氣態分子和X-H鍵長已通過光譜法和中子衍射法測出。除了用光譜、衍射等物理方法測定鍵長外,量子化學中可以由從頭計算法或自洽場半經驗法計算鍵長 。
科學家首次清楚觀察分子反應過程中原子鍵
這是一個含有碳原子的環狀分子，圖片顯示了其重新排列前后的形態，右邊即兩種最常見的反應產物。比例尺為3埃(即埃格斯特朗Angstrom，符號?，一般用于表示原子半徑、鍵長和可見光波長，1?=0.1納米)。 反應之前，銀表面上的反應物分子。 反應產物2是該反應中兩種最常見的產物之一。 反應產物3是
影響分子鍵角偏離的因素有哪些？
鍵角與鍵長是決定分子構型的基本參數，除少數規則構型分子的鍵角與分子中中心原子價層中電子對的排布一致外，絕大多數分子的鍵角偏離標準鍵角。影響分子鍵角偏離的因素很多，但主要因素是中心原子價層中電子對的類型和成鍵原子的電負性。孤對效應孤電子對與成鍵電子對的電子云分布不同，成鍵電子又受到兩個成鍵原子核的吸引
科學家首次改變單分子內原子鍵
來自IBM歐洲研究院、西班牙圣地亞哥·德·孔波斯特拉大學和德國雷根斯堡大學的研究人員首次改變了單個分子內原子之間的鍵，并在此基礎上創造出新鍵。相關研究刊發于最新一期《科學》雜志，有助科學家進一步理解氧化還原反應并創造出新分子。 研究人員指出，目前制造復雜分子或分子裝置的方法通常相當具有挑戰性，
原子力顯微鏡實空間分辨分子鍵
中科院國家納米科學中心22日宣布，該中心科研人員在國際上首次“拍”到氫鍵的“照片”，實現了氫鍵的實空間成像，為“氫鍵的本質”這一化學界爭論了80多年的問題提供了直觀證據。這為科學家理解氫鍵的本質，進而改變化學反應和分子聚集體的結構奠定了基礎，也為科學家在分子、原子尺度上的研究提供了更精確的方法。
離子鍵
離子鍵 ：使陰、 陽離子結合成化合物的 靜電作用。 離子鍵是由電子轉移（失去電子者為陽離子，獲得電子者為陰離子）形成的。即 正離子和 負離子之間由于 靜電引力所形成的 化學鍵。離子既可以是單離子，如Na +、Cl -；也可以由 原子團形成；如SO 4 2-，NO 3 -等。離子鍵的作用力強，無
重金屬污染治理技術有了新選擇：分子鍵合技術
重金屬污染事件近年來層出不窮，部分地方政府部門在解決這一難題時，工藝技術選擇卻令人撓頭。最近，環境保護部發布《2010年度國家先進污染防治示范技術名錄(重金屬污染防治技術領域)》，列入22種針對于各種重金屬的檢測、治理技術，可望為地方政府的選擇提供指導性參考。 在
雙分子消除反應
反應一步完成，離去基團的斷裂、β氫原子與堿中和、π鍵的生成三者協同進行（見協同反應），反應物和堿同時參加反應。E2的速率與反應物濃度和堿濃度都成正比。有些E2中，β氫的斷裂稍先于離去基團的離去，情況在一定程度上與E1CB相似，稱為“接近E1CB的E2”；另一些E2的情況剛好相反，離去基團的離去稍先于
單分子消除反應的反應機理
第一步是底物分子的離去基團離去，生成中間體碳正離子，這一步較慢；第二步是溶劑分子奪取碳正離子β-氫，生成烯烴。由于反應的速率控制步驟只與一個底物分子有關，是單分子過程，在反應動力學上是一級反應。 例子：單分子消除反應
雙分子消除反應的反應機理
以鹵代烷烴為例鹵代烷在發生E2反應時，堿首先進攻β-氫，并逐漸與之結合，β-碳原子與氫原子之間的共價鍵部分斷裂；與此同時，中心碳原子與鹵素之間的共價鍵也部分斷裂，鹵素X帶著一對電子逐漸離開中心碳原子。在此期間電子云也重新分配，α-碳原子與β-碳原子間的π鍵已部分形成，經過如下所示過渡態后，反應繼續進