X射線熒光儀檢測晶體的介紹
分光晶體是具有把 X 射線熒光按波長順序分開成光譜作用的晶體。 晶體應該具備的條件：衍射強度大；應該適用于所測量的分析線；分辨率高；峰背比高；不產生附加發射和異常反射；熱膨脹系數小、溫度效應低；經受 X 射線長期照射，穩定性好；機械強度良好；容易加工等等。......閱讀全文
X－射線熒光儀檢測晶體的介紹
分光晶體是具有把 X 射線熒光按波長順序分開成光譜作用的晶體。 晶體應該具備的條件：衍射強度大；應該適用于所測量的分析線；分辨率高；峰背比高；不產生附加發射和異常反射；熱膨脹系數小、溫度效應低；經受 X 射線長期照射，穩定性好；機械強度良好；容易加工等等。
常用的X－射線熒光儀檢測晶體的介紹
常用晶體有 LiF、PET（用于檢測 Si、Al）、Ge（用于檢測P）、NaCl 、TAP （用于檢測 Mg 、Na 、F），其中 TAP、PET、NaCl 等都是耐潮能力差的晶體，容易損壞，特別是 NaCl 容易潮解。TAP、PET的使用壽命一般為 5~6 年，因為太硬，容易出現裂紋，一般不
關于X－射線熒光儀檢測晶體的清洗介紹
晶體的清洗：LiF、Ge 使用二甲苯清洗；PET、TAP 使用丙酮清洗，但是二者表面鍍有 C，以防止晶體潮解，使用的時候不要擦掉，洗后如果失去 C，晶體就容易損壞。另外，清洗時應該將晶體在容器洗液中來回晃動，一般不要擦拭。 晶體有很大的溫度系數，所以，反射角很大的元素將很容易受溫度影響。A
影響X－射線熒光儀檢測晶體的因素
（1）溫度變化：溫度變化能改變分子間距； （2）濕度變化：有些晶體如果濕度太高表面就易模糊了； （3）酸堿影響：有些晶體會由于對強酸或強堿的吸附作用而大大降低其衍射強度。
X射線熒光光譜儀分光晶體簡介
分光晶體是光譜儀的重要元件，應用了X射線的衍射特性，將樣品發射的各元素的特征X射線熒光，按波長分開以便測量每條譜線。不同的晶體和同一晶體的不同晶面具有不同的色散率和分辨率。 由上式可以看出，晶體角色散率和所用晶體的晶面間距2d、衍射角θ及衍射級有關，即2d間距越小，角色散率越大；衍射角越大，角
X射線單晶體衍射儀的介紹
X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規律，也即解出
X射線熒光儀的相關介紹
X射線熒光儀一般是采用，激發樣品中的目標元素，使之產生特征X射線，通過測量特征X射線的照射量率來確定目標元素及其含量的儀器。 儀器分為室內分析、野外便攜式和X射線熒光測井儀三種類型。各種類型的儀器均由探測器和操作臺兩部分組成。由于目前使用的探測器（正比計數管及閃爍計數器）能量分辨率不高，不能區
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹
除光電吸收外，入射光子還可與原子碰撞，在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種，即相干散射和非相干散射。 相干散射：當X射線照射到樣品上時，X射線便與樣品中的原子相互作用，帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多，原子核的振動可忽略不計，主要是原
X射線熒光分析儀的介紹
X射線熒光分析儀主要由激發、色散（波長和能量色散）、探測、記錄和測量以及數據處理等部分組成。X射線光譜儀與X射線能譜儀兩類分析儀器有其相似之處，但在色散和探測方法上卻完全不同。在激發源和測量裝置的要求上，兩類儀器也有顯著的區別。X射線熒光分析儀按其性能和應用范圍，可分為實驗室用的X射線熒光光譜儀
X射線單晶體衍射儀
X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規律，也即解出
自動X射線晶體定向儀
X射線自動定向儀是根據市場對晶體角度測量越來越高的精度要求而推出的手動定向儀的升級產品，它是利用X射線衍射原理，設計制造的光，機，電三為一體精密儀器，能快速地測定天然和人造晶體（壓電晶體、光學晶體、激光晶體、半導體晶體）的晶面，可與各種切割、研磨等加工設備配套使用。是精密加工制造晶體器件不可缺少
x射線單晶體衍射儀
X射線單晶體衍射儀X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer,簡寫為XRD)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析可以解
X射線晶體定向衍射歷史介紹
射線晶體衍射是人們了解原子世界的利器，這一技術為人們解析了大量的重要生物學結構。今年是這一技術的百年誕辰，本期Nature雜志以特刊形式，介紹了X射線晶體衍射的過去、現在和將來。1914年，德國科學家Max?von?Laue因為發現晶體中的X射線衍射現象，獲得了諾貝爾物理學獎，這一發現直接催生了X射
X射線晶體光譜儀的簡介
中文名稱X射線晶體光譜儀英文名稱X-ray crystal spectrometer定 義利用晶體作分光器的X射線光譜儀。晶體具有適當的點陣間隔，對一定波長的X射線產生衍射作用，可起到類似于光學式分析儀器中衍射光柵的作用。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜
X射線熒光光譜儀檢測礦石的介紹
礦石檢測是選礦企業選礦和生產的利器，沒有快速準確的數據支持，難以達到高效的生產。隨著科學技術的進步，現代分析儀器功能十分強大，在效率、環保、職業健康方面優勢巨大，因此用途也相當廣泛，已逐步取代傳統化學分析。X-射線熒光光譜儀(XRF)就是其中的一種定量分析儀器。
X射線熒光分析的介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
X射線熒光（XRF）儀的結構組成介紹
一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。 然后，儀器
關于X－射線熒光儀真空系統的介紹
真空系統是 X射線熒光光譜儀的重要組成部分。儀器工作時，光譜室被抽成真空狀態，以減少空氣對 X 射線的干擾，提高儀器的分辨率。 真空系統容易出問題的地方主要有 3 部分：真空泵、樣品室、光譜室。分析樣品時，在快門打開之前，真空泵是與樣品室相通的。當采用壓片法進行分析時，由于抽真空會使一部分
X射線熒光光譜儀－檢測標準
JJG810-1993《波長色散X射線熒光光譜儀》檢定周期為1年。
X射線晶體定向儀工作原理
? 利用X射線衍射原理，精密快速地測定天然和人造單晶(壓電晶體，光學晶體，激光晶體，半導體晶體)的切割角度，與切割機配套可用于上述晶體的定向切割,是精密加工制造晶體器件不可缺少的儀器·該儀器廣泛應用于晶體材料的研究，加工，制造行業。? 工作原理? X射線晶體定向儀利用X射線衍射原理，精密快速地測定天
x射線單晶體衍射儀的應用
晶體結構的測定對學科的發展、物體性能的解釋、新產品的生產和研究等方面都有很大的作用,其應用面很寬,不能盡述,略談幾點如下: (一)．晶體結構的成功測定,在 晶體學學科的發展上起了決定的作用。因為他將晶體具有周期性結構這一推測得到了證實,使晶體的許多特性得到了解釋:如晶體能自發長成 多面體外形(
X射線單晶體衍射儀的應用
晶體結構的測定對學科的發展、物體性能的解釋、新產品的生產和研究等方面都有很大的作用，其應用面很寬，不能盡述，略談幾點如下：（一）．晶體結構的成功測定，在晶體學學科的發展上起了決定的作用。因為他將晶體具有周期性結構這一推測得到了證實，使晶體的許多特性得到了解釋：如晶體能自發長成多面體外形（自范性），如
X射線熒光光譜儀檢測金屬元素的介紹
當使用X射線光照樣品時，樣品可以被激發出各種波長的熒光X射線，把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，就可以進行定性和定量分析，為此使用的儀器為X射線熒光光譜儀（以下簡稱XRF）。 實驗室如何利用XRF這種較為成熟的分析技術檢測固體樣品中的金屬元素？微源實
關于X射線單晶體衍射儀結構的發展介紹
目前雖已有各種方法用來解決相角的問題，但要置換許多同晶化合物還是頗費時和頗昂貴的，如果能如小分子那樣用直接法來解決相角問題，將會方便許多。中國科學家范海福院士是研究直接法的世界權威人物，正在進行這方面的研究。
概述X射線熒光光譜儀X射線的產生
根據經典電磁理論，運動的帶電粒子的運動速度發生改變時會向外輻射電磁波。實驗室中常用的X射線源便是利用這一原理產生的：利用被高壓加速的電子轟擊金屬靶，電子被金屬靶所減速，便向外輻射X射線。這些X射線中既包含了連續譜線，也包括了特征譜線。 1、連續譜線 連續光譜是由高能的帶電粒子撞擊金屬靶面時受
X射線熒光分析技術介紹
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；與其
X射線熒光分析的相關介紹
確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。它用外界輻射激發待分析樣品中的原子，使原子發出標識X射線（熒光），通過測量這些標識X射線的能量和強度來確定物質中微量元素的種類和含量。根據激發源的不同，可分成帶電粒子激發X熒光分析，電磁輻射激發X熒光分析和電子激發X熒光分析。
X射線熒光分析的基本介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Bir