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    我國石墨烯專利存在的諸多問題

    我國石墨烯專利申請量居世界第一,數量上遠超歐美發達國家。但我國石墨烯專利存在以下問題: (1)重視數量,忽略質量。我國石墨烯專利數量龐大,但對專利質量的忽視,使得專利技術成果的轉換大打折扣,也降低了技術應用中可能獲利的概率。 (2)基礎專利少。石墨烯專利可分為基礎專利和應用專利。基礎專利是涉及石墨烯原材料及其制備工藝的專利,是石墨烯核心技術分布區域。應用專利是涉及石墨烯應用的專利,技術門檻相對較低。基礎專利位于石墨烯產業鏈的最頂端,誰在基礎專利獲得有利地位,誰就擁有了權威話語權。目前,我國石墨烯專利大部分集中于下游應用產品,而下游應用產品的開發受制于石墨烯的原材料量產技術,但量產技術的專利國人持有比例偏低。......閱讀全文

    石墨烯國際專利悄然布局

      一年前,英國曼徹斯特大學國家石墨烯研究院發布首個商業化應用產品,卻因知識產權有可能歸屬海外而遭到國會質疑。不久,研究院成立了一家公司,專門用于保護其產品不被侵權。  有多位業內人士斷言,未來3到5年,石墨烯專利訴訟如同沒有硝煙的戰爭會時常發生。這主要是因為,很多企業的國際專利布局意識薄弱,不懂如

    全球石墨烯專利58%來自中國

      從國際石墨烯產品認證中心獲悉:中國已是石墨烯研究和應用開發最為活躍的國家之一,全球石墨烯專利中58%來自中國。  據悉,國際石墨烯產品認證中心(IGCC)由中國石墨烯產業技術創新戰略聯盟聯合歐洲石墨烯平臺機構Phantoms Foundation等組織發起成立。作為第三方認證機構,該中心將為全球

    全球石墨烯專利58%來自中國

      從日前成立的國際石墨烯產品認證中心(IGCC)獲悉,中國已是石墨烯研究和應用開發最為活躍的國家之一,全球石墨烯專利中58%來自中國。  據悉,國際石墨烯產品認證中心(IGCC)由中國石墨烯產業技術創新戰略聯盟聯合歐洲石墨烯平臺機構Phantoms Foundation等組織發起成立。作為第三方認

    石墨烯專利申請范圍有待擴大

       不久前,中科院寧波材料所會同浙江工業技術研究院、中國石墨烯產業技術創新戰略聯盟、寧波市科技信息研究院等多家單位,撰寫完成了《2015石墨烯技術專利分析報告》并向社會公開發布。作為2015中國國際石墨烯創新大會的前奏,該報告分析了全球石墨烯技術的整體專利態勢和研發熱點,為石墨烯學術界和產業界指明

    我國石墨烯專利存在的諸多問題

      我國石墨烯專利申請量居世界第一,數量上遠超歐美發達國家。但我國石墨烯專利存在以下問題:  (1)重視數量,忽略質量。我國石墨烯專利數量龐大,但對專利質量的忽視,使得專利技術成果的轉換大打折扣,也降低了技術應用中可能獲利的概率。  (2)基礎專利少。石墨烯專利可分為基礎專利和應用專利。基礎專利是涉

    中國寶安再獲石墨烯領域發明專利

      國家知識產權局官網顯示,中國寶安于近日再次獲得一項石墨烯領域發明專利。   據了解,作為國內石墨烯研發領先企業,此前貝特瑞向國家知識產權局提交了與石墨烯相關的4項專利申請,其中“制備球狀石墨烯的方法”于今年4月28日收到發明專利證書;而中國國家知識產權局官網顯示,另一項“帶狀石墨烯的制備方法”

    寧波材料所完成《2017石墨烯技術專利分析報告》

      5月23日,由中國石墨烯產業技術創新戰略聯盟、中國科學院寧波材料技術與工程研究所、寧波石墨烯創新中心(籌)、浙江石墨烯制造業創新中心、浙江省石墨烯應用研究重點實驗室、寧波市科技信息研究院聯合策劃推出的《2017石墨烯技術專利分析報告》在中科院寧波材料所召開的“石墨烯標準與專利融合戰略研討會”上公

    石墨烯檢測方法大匯總,石墨烯快速檢測

      超全面石墨烯檢測方法大匯總,看完就是石墨烯檢測專家了!  2004年,康斯坦丁博士通過膠帶從石墨上分離出石墨烯這種“神器的材料”,它的出現在全世界范圍內引起了極大轟動……  石墨烯具有非同尋常的導電性能、極低的電阻率極低和極快的電子遷移的速度、超出鋼鐵數十倍的強度,極好的透光性……這些優異的性能

    氧化石墨烯和石墨烯性能的區別

    氧化石墨烯和石墨烯性能的區別采用改進的Hummers法制備了氧化石墨烯,將其采用水合肼還原獲得石墨烯,以氧化石墨烯和石墨烯為吸附劑,分別采用透射電鏡(TEM),傅里葉變換紅外光譜(FT-IR),拉曼光譜(RS)和X射線衍射光譜(XPS)對陰陽離子的不同吸附性能進行了分析表征.結果表明:兩吸附劑對羅丹

    石墨烯表征手段

    石墨烯的表征主要分為圖像類和圖譜類圖像類以光學顯微鏡透射電鏡TEM掃描電子顯微鏡、SEM和原子力顯微分析AFM為主而圖譜類則以拉曼光譜Raman紅外光譜IRX射線光電子能譜、XPS和紫外光譜UV為代表其中TEM、SEM、Raman、AFM和光學顯微鏡一般用來判斷石墨烯的層數而IRX、XPS和UV則可

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