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塞曼效應校正背景可在全波段進行,可校正吸光度高達1.5～2.0A的背景,而氘燈只能校正吸光度小于1A的背景,塞曼效應背景校正的準確度較高。采用恒定磁場調制方式,測定靈敏度比常規原子吸收法有所降低,可變磁場調制方式的測定靈敏度已接近常規原子吸收法。塞曼效應能在共振線同一波長處校正背景它不僅對連續背景具有精細結構的分子光譜背景以及鄰近某些共存原子吸收譜線,乃至某些重疊的原子吸收線背景都能校正。對于反常塞曼效應,其靈敏度低于一般原子吸收法。......閱讀全文
塞曼效應校正背景可在全波段進行,可校正吸光度高達1.5～2.0A的背景,而氘燈只能校正吸光度小于1A的背景,塞曼效應背景校正的準確度較高。采用恒定磁場調制方式,測定靈敏度比常規原子吸收法有所降低,可變磁場調制方式的測定靈敏度已接近常規原子吸收法。塞曼效應能在共振線同一波長處校正背景它不僅對連續背景具
當光源處于一定強度的磁場內時,光源發射出單一波長的譜線分裂為π,α±三種不同波長的譜線,π和α±偏振方向互相垂直π(可用P表示)保持原來波長,和磁場方向平行,α±(可用P⊥表示)為離開原波長0.1A以上的兩條譜線,和磁場方向垂直。由于基態原子只吸收波長差在0.1A以下的共振線,而背景吸收波長范圍從1
在原子吸收光譜分析法中，背景校正都是通過兩次測量完成的。*次是在分析線波長處，測量被測元素原子蒸氣和共存氣相物質所產生的吸收信號，稱為樣品信號。第二次在分析線波長處，或鄰近位置測量共存物質的吸收信號，稱為參考信號。兩者吸光度相減，即為扣除了背景吸收后的原子吸收信號。連續光譜法是1965年由S.R K
背景吸收隨波長而改變,因此,非共振線校正背景法的準確度較差。這種方法只適用于分析線附近背景分布比較均勻的場合。有些元素的分析線和非共振線由同一支空心陰極燈產生,有些元素由于在分析線附近找不到合適的非共振線,需要借助其他元素的空心陰極燈產生。
塞曼效應實驗是大學物理中的一個實驗，許多院校都正在開設或準備開設。 以往塞曼效應實驗儀的觀測方法各有缺陷，因此我們重新設計了塞曼效應實驗儀的光學部件和光路； 采用了CCD攝像頭和圖像采集卡與微機相連，構成微機化塞曼效應實驗儀，不僅克服了以往實驗方法的缺點；
在正常塞曼效應中,每條譜線分裂為3條分線,中間1條為π組分,其頻率不受磁場的影響;其他兩條稱為組分,其頻率與磁場強度成正比。在反常塞曼效應中,每條譜線分裂為3條分線或更多條分線,這是由譜線本身的性質所決定的。反常塞曼效應,是原子譜線分裂的普遍現象,而正常塞曼效應僅僅是假定電子自旋動量矩為零,原子只有
對于正常塞曼分裂的元素,如果磁場強度足夠高,可以使成分與π成分分離(如鋇約為0.8特斯拉),得到的靈敏度與普通的原子吸收光譜儀相同。如果磁場強度不夠高,靈敏度將會降低。對于呈現反常塞曼分裂的元素,其靈敏度和磁場強度有著密切的關系。隨著磁場強度增大,成分離開共振線的頻移更大,從而靈敏度增大。當磁場強度
風電機組偏航對風不準對機組發電量會產生明顯影響，直接影響了風電場發經濟效益。引起機組對風不準的主要原因是由于位于機艙上測采集風向的傳感器采集到的零方向并不是機頭實際方向。目前在維護和安裝中風向標零位校正采用觀察法，靠維護人員的直觀感受將風向標零刻度所指方向與機頭方向校正平行，由于每個人感觀差異易導
做原子吸收測試如何進行條件優化？如何消除干擾和背景？ 原子化器工作條件的選擇主要考慮的是測定元素充分原子化。通過改變空心陰極燈的工作條件減小發射線變寬。塞曼變寬和自吸收變寬被用于背景校正時。原子吸收測量中，吸收線比發射線寬，但兩者之比相對較小，吸光度值與濃度成線性關系的結果，即符合比爾定律：
1896年,荷蘭物理學家塞曼使用半徑10英尺的凹形羅蘭光柵觀察磁場中的鈉火焰的光譜,他發現鈉的D譜線似乎出現了加寬的現象。這種加寬現象實際是譜線發生了分裂。隨后不久,塞曼的老師、荷蘭物理學家洛侖茲應用經典電磁理論對這種現象進行了解釋。他認為,由于電子存在軌道磁矩,并且磁矩方向在空間的取向是量子化的,