新型ZEISSMultiSEM505用于腦神經組織成像
蔡司將在2014年11月15日-19日，于華盛頓舉行的神經系統科學年會上展出ZEISS MultiSEM 505，這是蔡司推出的一款新型掃描電鏡。該儀器將會同時產生61條電子束，并提供每秒達到1220百萬像素(每個像素尺寸為4nm)的捕獲速度。如此高的捕獲速度可用于大腦研究中神經組織成像，當前的大腦研究可以觀察比以前大得多的樣本。ZEISS MultiSEM 505能夠適應接連不斷的運行，并可以和直觀的ZEN軟件相兼容。 蔡司將在神經系統科學年會上展出ZEISS MultiSEM 505 傳統的掃描電鏡采用單電子束，電子束在樣品表面被引導著獲取一個個像素來形成樣本的一組圖像。ZEISS MultiSEM同時使用61條電子束，可同時獲取61組圖像。因此，利用ZEISS MultiSEM 505現在可以快速獲取大面積的圖像，圖像采集時間也從數年減少到只需幾周而已。 ZEISS MultiSEM 505最早的使用者有美國哈佛......閱讀全文
蔡司的場發射掃描電鏡家族又添新成員
蔡司（ZEISS）的場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）家族又添新成員。蔡司近日宣布推出最新的旗艦產品 – ZEISS GeminiSEM 450。這臺儀器融合了超高分辨率的成像和先進的分析功能，同時維持了靈活性和易用性。 GeminiSEM 450更快的響應和更高的表面靈敏度使用戶能快速、靈
材料科學公共平臺工作流程的主要改進
分析、斷層掃描、樣品制備和數據完整性得到提升圖片由 Bruce W. Arey 和 Andrew R. Felmy提供 德國耶拿，2019年7月24日，蔡司推出了新功能，在分析、斷層掃描、樣品制備和數據整合方面均得到了提升。這為工程材料、能源材料、軟材料和地球科學的研究帶來了新的可能性，順應了增材
創新先鋒－|－蔡司開啟離子顯微鏡新篇章
材料科學公共平臺工作流程的主要改進分析、斷層掃描、樣品制備和數據完整性得到提升圖片由 Bruce W. Arey 和 Andrew R. Felmy提供 德國耶拿，2019年7月24日 蔡司推出了新功能，在分析、斷層掃描、樣品制備和數據整合方面均得到了提升。這為工程材料、能源材料、軟材料和地球科
卡爾·蔡司公司推出跨越顯微鏡平臺的Shuttle－－Find解決方案
在材料分析領域中連接光學顯微鏡和掃描電子顯微鏡(SEM) 在2009年奧地利格拉茨舉辦的顯微鏡大會上，卡爾·蔡司公司推出了一項在材料領域中連接光學顯微鏡和掃描電子顯微鏡(SEM)的綜合解決方案。該解決方案的核心元件是樣品臺、適配器，以及特定的軟件模塊，該軟件能夠使SEM快速找到樣品在光學顯
新型ZEISS－MultiSEM－505－用于腦神經組織成像
蔡司將在2014年11月15日-19日，于華盛頓舉行的神經系統科學年會上展出ZEISS MultiSEM 505，這是蔡司推出的一款新型掃描電鏡。該儀器將會同時產生61條電子束，并提供每秒達到1220百萬像素(每個像素尺寸為4nm)的捕獲速度。如此高的捕獲速度可用于大腦研究中神經組織成像，當前的
蔡司發布超快掃描電子顯微鏡的升級版本
分析測試百科網訊 2015年10月17-21日，在芝加哥舉行的年度神經科學大會上，蔡司將目前世界上速度最快之一的掃描電子顯微鏡進行了升級，推出了一款新產品：ZEISS MultiSEM 506。該儀器擁有91束并行工作能力，并通過三個因素增加了ZEISS MultiSEM 5
德國蔡司顯微鏡ZEISS顯微鏡常見故障解析
故障1：顯微鏡使用一段時間圖像質量下降，關機一段時間再打開圖像質量就會明顯好轉。 診斷：鏡頭鍍膜技術不過關，長時間使用鏡頭受熱后鍍膜發散導致。 故障2：手動調焦時圖像清晰，松手后圖像模糊。 診斷：調焦機構老化。 故障3：目鏡觀察時圖像清晰，但采集到的圖像卻不清晰。把采集到的圖像調整清晰時,
華南理工與德國卡爾蔡司共建實驗室
10月25日，華南理工大學材料科學與工程學院與德國卡爾蔡司納米技術公司(Carl Zeiss NTS)合作共建實驗室，地址選在學校的材料學院，蔡司電子顯微鏡(中國)總經理Guido Bauhammer先生、華工實驗室與設備管理處負責人及學院相關負責人出席揭牌儀式。 在儀式上，雙方就合作共建
透射電鏡廠商大揭秘（四）：－光學“大咖”——卡爾－蔡司
世界上能生產透射電子顯微鏡的廠家并不多，除了上述三家之外，德國的蔡司（Zeiss）公司也在電子光學儀器領域占有一席之地。 蔡司公司是一家老牌光學儀器公司，蔡司的歷史相比于其他幾家公司的歷史都來得悠久。公司名稱起源于創始人，德國光學家卡爾·蔡司（Carl Zaiss），上圖為蔡司商標的演變。最后
2013年度北京電子顯微學年會大會報告（一）
2013年12月24日， 2013年度北京市電子顯微學年會在北京天文館隆重召開，會上，來自中科院、北京大學、北京工業大學、北京建筑大學、鋼鐵研究總院等多位專家學者帶來了關于電鏡在教學科研、納米材料、生物醫藥、探傷等方面應用的精彩報告，科揚、FEI、蔡司、布魯克、牛津
蔡司－場發射掃描電子顯微鏡共享
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固
蔡司－場發射掃描電子顯微鏡應用
儀器名稱：2號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：14013319產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin出廠日期：2013.9購置日期：201407所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固定email：聯
650萬大單！這一公司中標南京大學場發射掃描電鏡項目
近日，南京大學發布了場發射掃描電子顯微鏡系統采購結果，蔡司以649.86萬元中標，中標儀器型號為GeminiSEM360。詳情如下： 一、項目編號：ZH2022020072、JG066022982409（招標文件編號：ZH2022020072、JG066022982409） 二、項目名稱：南京大
清華大學儀器共享平臺Zeiss－FIB－聚焦離子束
儀器名稱：聚焦離子束 Zeiss FIB儀器編號：16005806產地：德國生產廠家：蔡司型號：Auriga出廠日期：201506購置日期：201603所屬單位：材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點：主樓東配樓11-112固定電話：固定手機：固定email：聯系人：王永力（010-62773015
Zeiss－FIB聚焦離子束－共享
儀器名稱：聚焦離子束 Zeiss FIB儀器編號：16005806產地：德國生產廠家：蔡司型號：Auriga出廠日期：201506購置日期：201603所屬單位：材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點：主樓東配樓11-112固定電話：固定手機：固定email：聯系人：王永力（010-62773015
清華大學儀器共享平臺Zeiss－FIB－聚焦離子束
儀器名稱：聚焦離子束 Zeiss FIB儀器編號：16005806產地：德國生產廠家：蔡司型號：Auriga出廠日期：201506購置日期：201603樣品要求：FIB樣品要求：制備TEM樣品要求：直徑12.5mm以內，高度2mm以內，拋光級別0.5um以上。其他FIB加工要求：直徑32.5mm以內
Zeiss－FIB聚焦離子束共享應用
儀器名稱：聚焦離子束 Zeiss FIB儀器編號：16005806產地：德國生產廠家：蔡司型號：Auriga出廠日期：201506購置日期：201603所屬單位：材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點：主樓東配樓11-112固定電話：固定手機：固定email：聯系人：王永力（010-62773015
2016北京市電子顯微學年會召開－探討電鏡技術應用新進展
分析測試百科網訊 2016年12月20日，2016年度北京市電子顯微學年會在北京天文館召開，會議旨在推動北京及周邊省市廣大電子顯微學學術及技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流。來自電子顯微學領域相關單位的200余人參加了此次會議。2016年度北京市電子顯微學
蔡司場發射掃描電子顯微鏡共享應用
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固
蔡司場發射掃描電子顯微鏡共享應用
儀器名稱：2號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：14013319產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin出廠日期：2013.9購置日期：201407所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固定email：聯
ZEISS三維層切掃描電子顯微鏡共享
儀器名稱：三維層切掃描電子顯微鏡儀器編號：22020037產地：英國生產廠家：ZEISS型號：GeminiSEM 300&3View 2.XP出廠日期：購置日期：2022-10-07所屬單位：生命學院>清華-IDG/麥戈文腦科學共享儀器開放實驗室放置地點：清華大學生物醫學館U6-013固定電話：固定
掃描電子顯微鏡(Scanningelectron－microscopy,－SEM)
掃描電鏡分析可以提供從數納米到毫米范圍內的形貌像，觀察視野大，其分辯率一般為6納米，對于場發射掃描電子顯微鏡，其空間分辯率可以達到0.5納米量級。其提供的信息主要有材料的幾何形貌，粉體的分散狀態，納米顆粒大小及分布以及特定形貌區域的元素組成和物相結構。掃描電鏡對樣品的要求比較低，無論是粉體樣品還是大
什么是掃描電子顯微鏡－SEM？
掃描電鏡的應用較為普遍，掃描電子顯微鏡原理是：通過光柵掃描技術來產生標本的放大圖像。它引導聚焦的電子束穿過樣品的矩形區域，當電子束通過時會產生能量損失。該能量會被轉換成熱、光、二次電子等能量同時反向散射電子。此時通過軟件系統進行翻譯轉換后得到清晰的標本圖像信息。從成像原理分析，掃描電子顯微鏡的分辨率
掃描電子顯微鏡SEM工作原理
透射電鏡原理 目前，主流的透射電鏡鏡筒是電子槍室和由6～8 級成像透鏡以及觀察室等組成。陰極燈絲在燈絲加熱電流作用下發射電子束，該電子束在陽極加速高壓的加速下向下高速運動，經過*聚光鏡和第二聚光鏡的會聚作用使電子束聚焦在樣品上，透過樣品的電子束再經過物鏡、*中間鏡、第二中間鏡和投影鏡四級放大后在熒
蔡司－高分辨場發射掃描電子顯微鏡共享
儀器名稱：3號高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：17023948產地：中國生產廠家：蔡司型號：GEMINISEM 500出廠日期：2017.2購置日期：201709所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A125固定電話：62795910固定手機
蔡司增強在多尺度和多模態圖像工作流程方面的效率
研究人員將實現更快速的FIB-SEM樣品制備、獲得更精準的3D斷層掃描圖像和更完整的數據報告。 德國耶拿，2019年12月2日 現在，材料和生命科學領域的研究人員在研究3D樣品時，可以更快速便捷地獲取樣品更深層次研究區域的信息。借助蔡司Crossbeam 350/550和Atlas 5的新功
JKSEM1900型原位冷熱臺
JK-SEM1900型原位冷熱臺? ? ? ?JK-SEM1900型原位冷熱臺是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標準樣品臺上（無需改造電鏡內部），提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實現對冷熱臺上的樣品進行控溫，穩定后溫控精度可達±0.1℃ 可實現樣品變溫測試的溫度范圍：-185~50℃
掃描電子顯微鏡（SEM）樣品制備詳解
一、樣品處理的要求掃描電子顯微鏡的優勢為可以直接觀察非常粗糙的樣品表面，參差起伏的材料原始斷口。但其劣勢為樣品必須在真空環境下觀察，因此對樣品有一些特殊要求,籠統的講：干燥，無油，導電。1、形貌形態，必須耐高真空。例如有些含水量很大的細胞，在真空中很快被抽干水分，細胞的形態也發生了改變，無法對各類型
第9次華北五省市電鏡會在呼倫貝爾召開－新技術層出不窮
分析測試百科網訊 2016年7月23日，由華北五省電子顯微鏡學會和北京理化分析測試技術學會組織的“第九次華北五省市電子顯微學研討會及2016年全國實驗室協作服務交流會”在內蒙古呼倫貝爾市召開。會議囊括了透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、微束分析、掃描探針顯微鏡、激光共聚焦顯微鏡等在材料、生命科學、
只需3分鐘，2018年電鏡重點大事了然于胸
500萬以上電鏡中標匯總及分析 #abcd2 td{border:1px solid #666666} 采購單位