帕納科Empyrean銳影X射線衍射系統獲2011R&D100大獎
帕納科最新的X射線衍射儀——Empyrean銳影由著名的獨立評審委員會評定為今年頂尖的技術創新之一。 2011年7月7日在荷蘭阿爾默洛 - 帕納科-世界領先的X -射線衍射(XRD)和X -射線熒光光譜儀(XRF)分析儀器及軟件的供應商宣布，其新設計的Empyrean銳影X射線衍射系統已被確認為2011年R&D 100大獎得主。在49年的歷程里R&D 100大獎是舉世公認的確定并表彰高科技產品的“創新奧斯卡獎”。 “獲獎技術” 指出，Empyrean銳影具有在一臺儀器上測量各種類型樣品的獨特能力——從粉末到薄膜、從納米材料到固體物質。Empyrean銳影系統真正的獨特之處是具有可以進行CT掃描固體物質內部結構而不必將它們切開的能力。使用CT分析，使得X -射線衍射分析檢查區域內存在的孔隙或物體內夾雜物成為可能。 帕納科X-射線系統總經理Jan van Rijn說“獲得這一......閱讀全文
“帕納科科技日2010”在上海成功舉辦
“2010帕納科科技日”于10月27日在帕納科亞太區應用實驗室(上海)落下帷幕。現場及網絡參會共百余人。此次科技日又稱為“帕納科衍射新品-Empyrean銳影中國發布會”。活動分為會場講座部分和實驗室現場演示兩部分，并借助動畫虛擬揭幕、網上直播方式，讓人為之眼前一亮!帕納科衍射新
帕納科Empyrean銳影X射線衍射系統獲2011－RD－100大獎
帕納科最新的X射線衍射儀——Empyrean銳影由著名的獨立評審委員會評定為今年頂尖的技術創新之一。 2011年7月7日在荷蘭阿爾默洛 - 帕納科-世界領先的X -射線衍射(XRD)和X -射線熒光光譜儀(XRF)分析儀器及軟件的供應商宣布，其新設計的Empyrean銳影X射線衍射系統
帕納科在Pittcon－2017發布新型臺式XRD系統Aeris
分析測試百科網訊 帕納科是全球領先的分析型X射線儀器和軟件供應商，在伊利諾伊州?芝加哥的Pittcon 2017展會上展示他們的新型臺式XRD系統Aeris。與會者可以親身體驗這種新開發的系統的易用性和高性能。 目前為止，Aeris在全功率系統中的數據質量和數據采集速度將令人印象深刻。每個人都
馬爾文帕納科X射線衍射技術(XRD技術)在電池領域的應用
馬爾文儀器有限公司是激光粒度分析儀的發明人，世界最著名的激光粒度儀專業生產廠家，其產品分布于石化、石油、陶瓷、粉體、涂料、制藥、水泥、軍工等各個領域，占有世界絕大部分激光粒度儀市場。許多領域指定要用該儀器進行質量檢測和控制。 馬爾文儀器有限公司射線衍射（XRD）技術可廣泛應用于鋰離子電池
帕納科衍射、熒光新品即將亮相BCEIA
10月12日-15日，北京展覽館，第13屆BCEIA即將開幕，帕納科作為X射線分析儀器市場領袖將在此次分析儀器展覽盛會上展示自己最新的、具有開創性的研發成果——Empyrean銳影X射線衍射系統，剛剛在歐洲獲得2011 R&D 100大獎的銳影X射線系統，具有在一臺儀器上測量各種類型樣品
十年一劍，帕納科系列新品網上發布
帕納科于2010年3月15日向中國X射線分析儀器分析用戶隆重推出最新研制的一系列新產品，他們將會提供更快，更靈活的解決方案，并提高了系統運行時間。新產品包括： Empyrean XRD system: 銳影X射線衍射儀系統：唯一可滿足當前所有4類X-射線分析要求，即粉末，薄膜，納米
PANalytical－Award－帕納科獎
第二屆帕納科獎已經開始征文啦!為了鼓勵和支持那些剛開始他們職業生涯的優秀青年科學家們，帕納科特設立該獎項。 目的 帕納科獎旨在表彰那些青年科學家在實驗室使用X射線衍射、X射線熒光或X射線散射儀作為主要的分析技術從而取得的突破性研究。基于上述原因，參賽人將不會被局限于任何品牌的儀器，凡
解析水分活度儀對蛋糕的有什么影響
馬爾文儀器有限公司是激光粒度分析儀的發明人，世界最著名的激光粒度儀專業生產廠家，其產品分布于石化、石油、陶瓷、粉體、涂料、制藥、水泥、軍工等各個領域，占有世界絕大部分激光粒度儀市場。許多領域指定要用該儀器進行質量檢測和控制。 馬爾文儀器有限公司射線衍射（XRD）技術可廣泛應用于鋰離子電池
帕納科2011年展望：來新體驗、新思路開創新市場
2010年帕納科公司在中國的業務繼續保持穩步增長。回顧全年的情況，可分成兩個完全不同的時間階段。上半年，由于我國較快地克服了金融危機的影響，經濟快速復蘇，傳統工業領域利潤上升。公司在傳統工業領域，例如水泥和鋼鐵的業務繼續上升。而下半年，國家為防止經濟過熱，出臺的調控措施開始生效，使我們在傳統工業
XRD衍射儀簡介
XRD衍射儀是一種用于化學工程、化學、中醫學與中藥學、生物學領域的分析儀器。 1、技術指標 X射線發生器，最大功率3KW，最大管電壓60HV，電流80mA，垂直型測角儀，掃描范圍:-6°~163°(2θ), -180°~180°(θ)，掃描速度:0.1~50o/min(2θ),0.05~25
XRD衍射儀簡介
XRD衍射儀是一種用于化學工程、化學、中醫學與中藥學、生物學領域的分析儀器，于2018年3月1日啟用。 技術指標 X射線發生器，最大功率3KW，最大管電壓60HV，電流80mA，垂直型測角儀，掃描范圍:-6°~163°(2θ), -180°~180°(θ)，掃描速度:0.1~50o/min(
XRD小角衍射與普通XRD的區別
一、指代不同1、小角衍射：利用電子顯微鏡中聚焦的電子束照射 樣品，電子在原子的靜電場作用下發生散射。2、XRD：通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。二、特點不同1、小角衍射：消除反射、折射 和二次散射后，經放大得到試樣的高分散衍射
XRD小角衍射與普通XRD的區別
一、指代不同1、小角衍射：利用電子顯微鏡中聚焦的電子束照射 樣品，電子在原子的靜電場作用下發生散射。2、XRD：通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。二、特點不同1、小角衍射：消除反射、折射 和二次散射后，經放大得到試樣的高分散衍射
XRD小角衍射與普通XRD的區別
一、指代不同1、小角衍射：利用電子顯微鏡中聚焦的電子束照射 樣品，電子在原子的靜電場作用下發生散射。2、XRD：通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。二、特點不同1、小角衍射：消除反射、折射 和二次散射后，經放大得到試樣的高分散衍射
XRD衍射儀－測什么
測晶格常數，衍射峰強度等，能夠做物相分析，看出物質組成，以及物質的相。高分辨的還可以測小角度散射&衍射，薄膜反射率，密度，多層膜厚度，表面與界面粗糙度，RSM，pole figure。
XRD衍射儀－測什么
測晶格常數，衍射峰強度等，能夠做物相分析，看出物質組成，以及物質的相
什么叫單晶XRD衍射
X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射，主要有連續X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數目的原子或離子/分子所產生的相干散射將會發生光的干涉作用，從而影響散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量原子散射波的疊加，互相干涉而產生最大強度的光束稱為X射線的衍射線。
什么叫單晶XRD衍射
X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射，主要有連續X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數目的原子或離子/分子所產生的相干散射將會發生光的干涉作用，從而影響散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量原子散射波的疊加，互相干涉而產生最大強度的光束稱為X射線的衍射線。
什么叫單晶XRD衍射
X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射，主要有連續X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數目的原子或離子/分子所產生的相干散射將會發生光的干涉作用，從而影響散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量原子散射波的疊加，互相干涉而產生最大強度的光束稱為X射線的衍射線。
Aeris，重新定義臺式X射線衍射儀
Aeris，重新定義臺式X射線衍射儀：（1）Aeris內置的觸摸屏界面直觀，可直接顯示各種分析結果，所有人都可以無障礙地使用這款儀器。（2）Aeris 還具有擁有成本低的優點 - 它僅需要一個單相電源插口，既不需要冷卻水，也不需要壓縮空氣。（3）Aeris還具備帕納科設備所含的多種成熟技術，其性能超
思百吉旗下馬爾文和帕納科合并
分析測試百科網訊 近日，思百吉宣布其材料分析部門旗下的馬爾文和帕納科將合并。 馬爾文是著名的材料表征領域的儀器企業。據分析測試百科網的數據顯示，在粒度儀領域，其在中國中高端實驗室的市場上占有率高達57%（未計入其旗下粒度儀企業歐美克的市場份額）。 帕納科是知名的X射線儀器企業，在中國中高端實
臺式X射線衍射（XRD）儀
MiniFlex2012年最新添加了MiniFlex系列的臺式X射線衍射（XRD）分析儀。第5代MiniFlex可以進行多晶材料的定性分析與定量分析，是一般用途的X射線分衍射儀。本次MiniFlex提供兩種類型以供選擇，當運行600W（X射線管）時，MiniFlex600的能量比其他臺式模型高兩倍，
馬爾文帕納科2021年財報：訂單量增長25％，創歷史新高
近日，馬爾文帕納科公布2021年財報，報告顯示其銷售額增長8%，達到4.012億英鎊，營業利潤為5750萬英鎊，調整后的營業利潤為7220萬英鎊，同比增長了36%。市場復蘇、新品推出等有利因素推動了馬爾文帕納科的財務增長，這使得訂單同比增長25%，銷售額同比增長11%。思百吉集團財報馬爾文帕納科
帕納科公司在Pittcon－2011推出新型Epsilon－3－－EDXRF
荷蘭帕納科公司最新推出的Epsilon 3 EDXRF集成了最新的激發和探測技術以及最頂級的分析軟件。臺式能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)能提供簡單、可靠的結果，它們的性能可以與體積更大、功能更強的光譜儀相媲美，有些情況下甚至可以超越它們。 挑戰傳統——超出預期 選擇與探測
XRD衍射峰強度越大說明什么
只有一個衍射強峰，樣品有擇優取向。 （謝樂公式，打不出來） 式中B表示單純因晶粒度細化引起的寬化度，單位為弧度． B為實測寬度BM與儀器寬化Bs之差, Bs可通過測量標準物(粒徑>10-4cm)的半峰值強度處的寬度得到． Bs的測量峰位與BM的測量峰位盡可能靠近．最好是選取與被測量納米粉相同材料的粗
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只有一個衍射強峰，樣品有擇優取向。 （謝樂公式，打不出來） 式中B表示單純因晶粒度細化引起的寬化度，單位為弧度． B為實測寬度BM與儀器寬化Bs之差, Bs可通過測量標準物(粒徑>10-4cm)的半峰值強度處的寬度得到． Bs的測量峰位與BM的測量峰位盡可能靠近．最好是選取與被測量納米粉相同材料的粗
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只有一個衍射強峰，樣品有擇優取向。 （謝樂公式，打不出來） 式中B表示單純因晶粒度細化引起的寬化度，單位為弧度． B為實測寬度BM與儀器寬化Bs之差, Bs可通過測量標準物(粒徑>10-4cm)的半峰值強度處的寬度得到． Bs的測量峰位與BM的測量峰位盡可能靠近．最好是選取與被測量納米粉相同材料的粗
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只有一個衍射強峰，樣品有擇優取向。 （謝樂公式，打不出來） 式中B表示單純因晶粒度細化引起的寬化度，單位為弧度． B為實測寬度BM與儀器寬化Bs之差, Bs可通過測量標準物(粒徑>10-4cm)的半峰值強度處的寬度得到． Bs的測量峰位與BM的測量峰位盡可能靠近．最好是選取與被測量納米粉相同材料的粗
電子衍射和－XRD的區別
電子衍射是二維衍射和 XRD 是一維衍射，電子衍射和XRD的基本原理和衍射花樣的幾何特征相似，而且都遵循勞厄方程或布拉格方程。兩者區別包括：(1) 電子波的波長短，則受物質散射強（原子對電子的散射能比 X 射線強一萬倍）；(2) 電子衍射強度大，要考慮它們之間的相互作用，使電子衍射花樣分析，特別是強
XRD衍射峰強度越大說明什么
只有一個衍射強峰，樣品有擇優取向。 （謝樂公式，打不出來） 式中B表示單純因晶粒度細化引起的寬化度，單位為弧度． B為實測寬度BM與儀器寬化Bs之差, Bs可通過測量標準物(粒徑>10-4cm)的半峰值強度處的寬度得到． Bs的測量峰位與BM的測量峰位盡可能靠近．最好是選取與被測量納米粉相同材料的粗