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    AvaLIBS激光誘導擊穿光譜測量系統技術參數

    技術數據 光譜范圍 *200-1070 nm分辨率(FWHM) 0.1 nm探測器 CCD,每通道2048像元積分時間 1.1毫秒-10分鐘觸發延遲 -20納秒-89秒,步長21納秒觸發抖動 ± 21納秒溫漂系數 環境溫度每變化1℃僅漂移0.1個像元;計算機接口 USB 2.0,RS-232I/O接口 HD-26接口, 2路模擬輸入, 2路模擬輸出,3路數字輸入, 12路數字輸出,觸發, 同步電源要求 100-240 VAC軟件 AvaSoft-Full光譜儀操作軟件和AvaLIBS-Specline譜線分析軟件輸入光纖 1分8光纖束,標準2米長(可選別的長度),抗紫外處理,鎧甲封裝......閱讀全文

    AvaLIBS激光誘導擊穿光譜測量系統技術參數

    技術數據 光譜范圍 *200-1070 nm分辨率(FWHM) 0.1 nm探測器 CCD,每通道2048像元積分時間 1.1毫秒-10分鐘觸發延遲 -20納秒-89秒,步長21納秒觸發抖動 ± 21納秒溫漂系數 環境溫度每變化1℃僅漂移0.1個像元;計算機接口 USB 2.0,RS-232I/O接

    AvaLIBS激光誘導擊穿光譜測量系統

    AvaLIBS激光誘導擊穿光譜測量系統 AvaLIBS激光誘導擊穿光譜測量系統,可以對固體、液體、氣體中元素做快速定性定量分析。AvaLIBS的光譜分析范圍是200-1070 nm,光學分辨率0.1nm(FWHM),檢測靈敏度達到ppm級。特點 :● 寬光譜,高分辨率光譜分析(波長范圍200-107

    AvaLIBS激光誘導擊穿光譜測量系統

    AvaLIBS激光誘導擊穿光譜測量系統,可以對固體、液體、氣體中元素做快速定性定量分析。AvaLIBS的光譜分析范圍是200-1070 nm,光學分辨率0.1nm(FWHM),檢測靈敏度達到ppm級。特點:● 寬光譜,高分辨率光譜分析(波長范圍200-1050 nm,光學分辨率0.1 nm) ● 快

    AvaLIBS激光誘導擊穿光譜測量系統原理

    AvaLIBS工作原理 激光誘導等離子光譜(LIPS)或者更常見的叫法激光誘導擊穿光譜(LIBS)是一種原子發射光譜,它使用脈沖激光器作為激發源。激光脈沖(典型值10 ns)聚焦到被測物體的表面,使被測材料表面的激光功率密度超過1 GW/cm2。在如此之高的激光功率密度作用下,被測材料表面就

    激光誘導擊穿光譜儀技術參數

    元素測量范圍原子序數Z>=1 (包括C, H, O等有機元素,以及N, Li, Be, B等輕元素,以及幾乎所有金屬、非金屬元素)濃度范圍10ppm至%級別(取決于元素及儀器配置)分析時間一般20s左右樣品形態固體或粉末(粉末需要壓片后測量)。直接測量,無需特別的樣品制備樣品放置及定位XYZ三

    激光誘導擊穿光譜系統測量原理

    激光誘導擊穿光譜系統可以同時分析材料中的有機元素(C, H, O, N)、超輕元素(例如Li, B, Be, Na, Mg等)、以及重金屬元素。進而計算出諸如碳納米管粉末中的雜質以及化學配方。又由于同時具有高分辨率的樣品成像能力、電腦控制的樣品操作以及可調整的激光強度等優點,成為研究人員、科學家、以

    激光誘導激光光譜系統技術參數

    技術參數系統性能參數可測元素原子序數Z≥1濃度范圍≥10ppm,取決于元素種類樣品性狀固體或壓片粉末最大樣品尺寸30*30*20mm(x*y*z)最大樣品重量2kg平移臺行程范圍60*60*60mm(x*y*z)光斑尺寸≤50um,激光波長1064nm激光器波長Nd:YAG 1064nm/532nm

    激光誘導擊穿光譜

    激光誘導擊穿光譜(英語:Laser-induced breakdown spectroscopy,LIBS) 技術,通過超短脈沖激光聚焦樣品表面形成等離子體,進而對等離子體發射光譜進行分析以確定樣品的物質成分及含量。中文名激光誘導擊穿光譜外文名Laser Induced Breakdown Spec

    激光誘導擊穿光譜(LIBS)元素測量

    LIBS的工作原理 激光弧光光譜(LASS)、激光誘導等離子光譜(LIPS)或者更常見的叫法激光誘導擊穿光譜(LIBS)是一種原子發射光譜,它使用脈沖激光器作為激發源。它的基本原理請參見下面的示意圖。脈沖激光器  ( 比如調Q的Nd:YAG激光器 )  的輸出激光脈沖被聚焦到被測

    激光誘導擊穿光譜技術特點

    激光誘導擊穿光譜技術特點激光誘導擊穿光譜技術系統在進行元素分析的時候,需要樣品量極少,對樣品的破壞性小;具有自清潔能力,幾乎不需要樣品制備;可以實現快速實時在線分析;具有遙測能力,可實現有毒、強輻射等惡劣環境中的遠距離、非接觸性測量;具有ppm量級探測靈敏度,可對痕量元素進行探測。

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