興安礦深部軟巖的掃描電鏡X射線能譜分析
為了探討鶴崗興安礦深部軟巖水理特性和塑性變形原因,分別在埋深500和740 m的不同巖性特征處,選取5個試樣,采用掃描電鏡-X射線能譜儀,對該礦深部軟巖礦物成分與微觀結構進行實驗分析。結果表明:興安礦深部軟巖中主要礦物成分為石英、長石、方解石及黏土礦物,各別試樣中含有菱鐵礦和金紅石。黏土礦物的主要成分為伊/蒙(I/S)混層、伊利石、高嶺石、綠泥石等。I/S混層中蒙脫石的類型有鈉蒙脫石和鈣蒙脫石。碎屑礦物中有石英加大、方解石溶蝕、長石淋濾、菱鐵礦解理發育等現象。黏土礦物I/S混層主要呈片架結構、蜂窩結構和絮狀結構,高嶺石呈書本狀結構,伊利石與綠泥石呈片架結構。 ......閱讀全文
化學氣相沉積金剛石探測器測量軟X射線能譜
金剛石具備高熱導率、高電阻率、高擊穿電場、大的禁帶寬度、介電系數小、載流子遷移率高以及抗輻射能力強等特性,可作為已應用于慣性約束聚變(ICF)實驗X射線測量的硅與X射線二極管的較好替代品.隨著化學氣相沉積(CVD)技術的發展,CVD金剛石受到人們越來越多的關注.文中利用拉曼譜儀和X射線衍射儀對1mm
復雜X射線能譜構造方法研究
本文提出了基于最小二乘法的復雜X射線能譜構造方法,介紹了其構造原理,設計了由35~100kV加速電壓條件下的14個X射線過濾譜組成的構造子譜組。目標能譜模擬構造結果表明,構造能譜與目標能譜總體的相對偏差基本控制在10%以內;影響其偏差的主要因素包括構造子譜數量與形態,目標能譜的非連續可微以及射線源特
X射線光電子能譜
X射線光電子能譜(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)技術也被稱作用于化學分析的電子能譜(electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA).XPS屬表面分析法,它可以給出固體樣品表面所含的元素種類、化學組成以及有
X射線能譜定量分析
隨著探頭制造技術水平的提高、電子學技術的發展,以及對脈沖處理技術和重疊峰處理方法的改進,能譜定量分析的精度得到不斷提高。目前,對原子序數在11～30之間的常用元素,其分析精度大體上可以達到波長譜儀的水平。由于能譜定量分析的方法簡單、操作方便,它既能進行大試樣的平均成份分析,也能進行微粒、薄板、鍍層、
X射線能譜儀的原理介紹
在許多材料的研究與應用中，需要用到一些特殊的儀器來對各種材料從成分和結構等方面進行分析研究。 其中，X射線能譜儀(XPS)就是常用儀器之一。下面詳細介紹一下X射線能譜儀的基本原理、結構、優缺點及應用。 X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析用電子能譜(ESCA)。該方法
X射線能譜重疊峰的識別
提出了一種通過譜線權重來正確識別X射線能譜重疊峰的新方法。應用該方法 ,成功地分析了Ti合金微區中能量差為 2 0eV的Ti和V的重疊峰。實驗表明 ,該方法簡便、可靠 ,并可適用于K Zn之間元素的分析?
軟X射線的發展背景
軟X射線投影光刻技術是現有可見-近紫外投影光刻技術向軟X射線波段(1～30nm)的延伸。但是，由于此波段任何材料的折射率均接近于1，而且吸收較大，微縮投影光學系統必須采用反射系統，而單層膜反射鏡對正入射軟X 射線的反射率幾乎為零，無法利用其組成正入射系統。70年代后，隨著超光滑表面加工技術和超薄
武漢巖土所提出深部軟巖隧道擾動應力測試新技術
深埋軟巖隧道的修建一直是世界級的技術難題。由于軟巖隧道圍巖軟弱破碎、自穩性差，在施工和運營過程中經常易出現圍巖大變形、塌方失穩及襯砌病害等典型工程災害，給深埋隧道的設計、施工及災害處理帶來了嚴峻的挑戰。因此，開展軟巖隧道施工開挖前的準確圍巖動態變形及應變測試是為軟巖隧道提供合理支護設計及災害控制
X射線能譜儀譜峰重疊問題的探討
針對X射線能譜儀在對樣品進行定性分析時經常出現的元素譜峰重疊問題,進行機理分析和歸納總結,提出在物證檢驗中如何避免譜峰重疊帶來定性分析偏差的方法.?
噴氣式Z箍縮等離子體輻射軟X射線能譜的研究
研制了一臺五通道ROSS-FILTER-PIN軟X射線能譜儀,能譜范圍為0·28—1·56keV.它由5個連續能段組成,每個能段的起止邊由羅斯濾片對(ROSS-FILTERS)的L或K吸收邊確定.羅斯濾片對的厚度通過優化計算得到,為了使每個通道的靈敏區外響應(即所測能段外響應)與通道總響應之比最小
EAST全超導托卡馬克上硅漂移探測器軟X射線能譜診斷
采用性能優越的15道硅漂移探測器(SDD)陣列,在EAST全超導托卡馬克上建立了1套較為完善的軟X射線能譜診斷系統,用以測量等離子體在軟X射線輻射能段(1～20keV)的能譜。該診斷系統的觀測范圍基本覆蓋了整個等離子體空間,因此,可滿足EAST不同放電位形下電子溫度測量的要求。利用該診斷系統,可獲得
分時高速Si(Li)軟X射線能譜儀測量高溫等離子體電子溫度
本文敘述了用三探頭Si(Li)漂移探測器測量HL—1M托卡馬克等離子體輻射的軟X射線能譜,得到等離子體溫度以及重金屬雜質水平隨時間變化,自制4096道快速分時多道分析器,其時間分辨可達50ms,每次放電可測16個譜,每個譜256道,探測系統的能量測量范圍1．25～25keV之間。
應用X射線能譜儀檢驗原子印油
?原子印章是一種新型的印章。原子印章攜帶和使用極為方便,已被普遍使用。由于原子印章的特殊結構,其印油的成份不同于普通的印臺油及印泥。早期的原子印油多為國外進口,目前國內亦有一些廠家生產。我們應用掃描電子顯微鏡和 X 射線能譜儀對原子印油進行檢驗,獲得一些有用的信息。
衰減透射法測量高能X射線能譜
研究了基于衰減透射原理的高能X射線能譜測量與重建。利用蒙特卡羅方法對神龍一號直線感應加速器的X射線源穿過不同厚度鋁時的衰減透射過程進行模擬實驗。解譜方法采用迭代擾動法,對不同的初始能譜估計和測量噪聲水平條件下的能譜重建進行計算分析。結果表明:實驗測量不包含噪聲時,選擇合適的初始能譜可以獲得比較準確的
X射線能譜過濾的MC模擬研究
能量低于300 keV且能譜簡單的穩定放射性核素較少,作為替代,利用X射線機產生X射線,并經過不同厚度的材料的過濾,可以得到用于對輻射防護儀器進行校準和確定其能量響應和角響應的一系列規定輻射質的參考輻射。由于材料的質量衰減系數與X射線在物質中各種作用過程有關,并強烈的依賴于光子的能量,基于這一物理現
衰減透射法測量高能X射線能譜
研究了基于衰減透射原理的高能X射線能譜測量與重建。利用蒙特卡羅方法對神龍一號直線感應加速器的X射線源穿過不同厚度鋁時的衰減透射過程進行模擬實驗。解譜方法采用迭代擾動法,對不同的初始能譜估計和測量噪聲水平條件下的能譜重建進行計算分析。結果表明:實驗測量不包含噪聲時,選擇合適的初始能譜可以獲得比較準確的
太陽耀斑硬X射線能譜演變特征
太陽硬Ｘ射線是耀斑高能電子束流與太陽大氣相互作用產生的韌致輻射，根據簡單的太陽耀斑環物理模型，假定具有流量與能譜同步變化的高能電子束流從耀斑環頂部注入，計算了硬Ｘ射線輻射在不同的靶物質密度區的能譜演變特征．結果表明：硬Ｘ射線輻射在低大氣密度靶區呈現軟一硬一硬的能譜演變特征，在高密度靶區硬Ｘ射線能譜則
X射線光電子能譜（－XPS）
XPS：X射線光電子能譜分析(XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)測試的是物體表面10納米左右的物質的價態和元素含量，而EDS不能測價態，且測試的深度為幾十納米到幾微米，基本上只能定性分析，不好做定量分析表面的元素含量。?原理：用X射線去輻射樣品，使原子或分子
ICF實驗軟X射線能譜儀對輻射能流時間關聯測量時標系統
介紹了時標系統的構成、原理和數據處理方法,并對時間關聯的不確定度進行了分析.該時標系統成功將軟X射線能譜儀自身多個探測通道的信號以及三臺不同位置處的譜儀的時間信號關聯起來,關聯精度約為70ps.在神光Ⅲ原型激光裝置上進行的實驗中用軟X射線能譜儀從不同方向測得輻射源和輻射輸運管末端口輻射能流隨時間的
X射線能譜微區分析中出射角對X射線強度的影響
利用SEM-EDS研究了硅襯底上Au、Cu薄膜發射的不同線系特征X射線相對強度間比值隨出射角的變化規律,探討了影響其變化的原因。結果顯示:隨著出射角變大,同一元素不同線系X射線相對強度間比值具有一定變化規律。低能量譜線的強度相對高能量譜線逐漸變大,這種變化主要是受X射線被基體吸收效應的影響所致。在低
快脈沖硬X射線能譜測量實驗研究
研究設計了以解析吸收片后的透射率來測量快脈沖硬X射線輻射場能譜的實驗方法。對實驗方案進行了理論模擬設計,并獲得了解譜必要的理論數據,通過測量不同吸收片后光強的實驗方法獲得了透射系數,用微擾的數學方法完成了測量譜的解析,復現了測量位置處快脈沖硬X射線輻射場能譜,最后對該方法的可靠性進行了驗證。?
12MVX射線能譜的實驗測定
對于流體物理研究所的12MV脈沖X射線裝置,其光子能譜是一個重要的物理參量。當用12MV脈沖射線作為相關實驗研究的輻射源時,得到的實驗結果的物理解釋也需要足夠的譜的數據。但由于高能高注量軔致輻射的光子譜難以用通常的在線式γ譜儀測量,所以用透射系數數值分析的方法對12MV-X射線譜作了初步的實驗測定
用于高能X射線能譜測量的MLS法
為滿足高能X射線能譜測量的需要,提出采用MLS法進行能譜測量的方案。MLS法克服了其他測量方法散射不易控制、光場不均勻性影響較大的缺點,還具有對不同角度能譜進行測量的優勢。對MLS法的測量原理以及測量過程中的注意事項進行了明確,并利用蒙特卡羅方法針對一特定的X射線能譜設計了兩種不同介質的測量裝置,并
氚鈦靶的X射線能譜初步研究
采用超低能鍺探測X射線技術和βIXS方法,研究了在Ar氣、空氣介質中鉬材料中氚和氚鈦靶中氚產生的X射線能譜。Ar氣介質與空氣介質相比,鉬材料中氚產生的X射線能譜除了與空氣介質在同樣的峰位能量2.2keV位置產生譜峰外,還增加了一個峰位能量為3.0keV的譜峰。
電子探針分析的X射線能譜法
本文介紹了使用硅(鋰)檢測器進行定量電子探針分析的一種方法,這種方法使用了背景模擬技術及其它技術中的電荷收集不完全和電子噪聲的校正。輕元素分析的改進對硅酸鹽樣品是特別有利的,使之盡可能采用純金屬作分析標樣。這種方法已被用于各種地球化學樣品的分析中(包括用JG—1和JB—1巖石做成的玻璃)。與濕式化學
美國KEVEX公司8000型x射線能譜儀
?8000型X射線能譜儀主要做能量分散X射線分析,可用于冶金、電子、地球化學勘探、化工、石油、生物醫學等許多領域。儀器由X射線探測器,分析儀,小型計算機、大容量存貯器,顯示器,鍵盤和軟件構成。?
6MV－X－射線能譜的實驗測定
用穿透系數數值分析的疊代最小二乘法對穩態加速器的Ｘ射線能譜進行了實驗測定，編寫了疊代最小二乘法的計算程序。?
X射線能譜測量的蒙特卡羅成像模擬
針對高能強流電子束轟擊高Z靶產生的X射線的能譜測量問題,采用蒙特卡羅方法進行成像模擬研究。高能X射線能譜通常由對X射線經過衰減體的直穿透射率曲線進行解譜獲得。設計了帶多準直孔的截錐體模型,在單次模擬成像中獲得完整的衰減透射率曲線,有效避免了散射光子對透射率曲線以及X射線能譜重建的影響。成像面采用非均
X射線能譜儀的工作原理和應用
1 X射線能譜儀的工作原理 當電子槍發射的高能電子束進入樣品后，與樣品原子相互作用，原子內殼層電子被電離后，由較外層電子向內殼層躍遷產生具有特定能量的電磁輻射光子，即特征X射線。X射線能譜儀就是通過探測樣品產生的特征X射線能量來確定其相對應的元素，并對其進行相應的定性、定量分析。 2 掃描電
基于MARS系統的X射線能譜CT研究
X射線是19世紀末物理學的三大發現（X射線1895年、放射性1896年、電子1897年）之一，這一發現標志著現代物理學的誕生。由于X射線是波長介于紫外線和γ射線之間的電磁輻射，因而它具有很高的穿透本領，能穿透許多對可見光不透明的物質，基于此，可用來幫助人們進行醫學診斷和治療，或者用于工業等領域的非破