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通過掃描電子顯微鏡及其附帶的X射線能譜儀對鍍鋅鋼板表面出現腐蝕銹斑、耐腐蝕性能不合格的原因進行了分析.結果表明:鍍鋅鋼板通過熱鍍工藝生產出來后,未給予足夠的鍍后防護,同時長時間露在腐蝕性環境中,受到腐蝕產生了白銹甚至紅銹,最終導致其耐腐蝕性能不合格,通過一些改進措施可有效的解決質量問題. ......閱讀全文
通過掃描電子顯微鏡及其附帶的X射線能譜儀對鍍鋅鋼板表面出現腐蝕銹斑、耐腐蝕性能不合格的原因進行了分析.結果表明:鍍鋅鋼板通過熱鍍工藝生產出來后,未給予足夠的鍍后防護,同時長時間露在腐蝕性環境中,受到腐蝕產生了白銹甚至紅銹,最終導致其耐腐蝕性能不合格,通過一些改進措施可有效的解決質量問題.
對待掃描樣品進行什么處理？? 對樣品表面進行導電處理，常用導電處理法包括：真空鍍膜法和離子濺射鍍膜法。本次采用離子濺射鍍膜法。即在低真空狀態下，在陰極與陽極兩個電極之間加上幾百至上千伏的直流電壓時，電極之間會產生輝光放電。在放電的過程中，氣體分子被電離成帶正電的陽離子和帶負電的電子，并在電
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscopy,TEM）是通過穿透樣品的電子束進行成像的放大設備。電子束穿過樣品以后，帶有樣品之中關于微結構及組成等方面的信息，將這些信息進行方法和處理，便可得到所需要的顯微照片及多種圖譜。現在商業透射電鏡最高的分辨率已經達到了0
制備樣品低溫掃描電子顯微術是20世紀80年代迅速發展和廣泛應用的方法。它包括生物樣品的冷凍固定、冷凍干燥、冷凍割斷和冷凍含水樣品的掃描電子顯微術等。冷凍固定將生物材料投入低溫的致冷劑中，如液氦、液氮、液體氟利昂及丙烷等。快速冷凍可使生物組織細胞的結構和化學組成接近于生活狀態。被冷凍固定的生物樣品，可
The Transmission Electron Microscope (TEM) (HEI)An explanation of how the TEM works. TEM Specimen Preparation (HEI) Se
電子顯微鏡SEM原理圖 電子顯微鏡是根據電子光學原理，用電子束和電子透鏡代替光束和光學透鏡，使物質的細微結構在非常高的放大倍數下成像的儀器。 電子顯微鏡的分辨能力以它所能分辨的相鄰兩點的最小間距來表示。20世紀70年代，透射式電子顯微鏡的分辨率約為0.3納米(人眼的分辨本領約為0.1毫米)。現在
電子顯微鏡有與光學顯微鏡相似的基本結構特征，但它有著比光學顯微鏡高得多的對物體的放大及分辨本領，它將電子流作為一種新的光源，使物體成像。自1938年Ruska發明第一臺透射電子顯微鏡至今，除了透射電鏡本身的性能不斷的提高外，還發展了其他多種類型的電鏡。如掃描電鏡、分析電鏡、超高壓電鏡等。結合各種電鏡
電子顯微鏡原子是構成我們這個世界上物質的單元，是維持某一元素具有其化學特性的最小粒子。普遍認為古希臘哲學家德謨克里特提出的“原子論”應當是最接近現代科學認識的理論形態。他的學說用原子這一概念來指稱構成具體事物的最基本的物質微粒，是不可分割的。他指出，原子體積微小，是眼睛看不見的，即不能為感官所知覺。
分析原理：用電子技術檢測高能電子束與樣品作用時產生二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等并放大成象 譜圖的表示方法：背散射象、二次電子象、吸收電流象、元素的線分布和面分布等 提供的信息：斷口形貌、表面顯微結構、薄膜內部的顯微結構、微區元素分析與定量元素分析等
電子顯微鏡結構 電子顯微鏡由鏡筒、真空系統和電源柜三部分組成。鏡筒主要有電子槍、電子透鏡、樣品架、熒光屏和照相機構等部件，這些部件通常是自上而下地裝配成一個柱體；真空系統由機械真空泵、擴散泵和真空閥門等構成，并通過抽氣管道與鏡筒相聯接,電源柜由高壓發生器、勵磁電流穩流器和各種調節控制單元組成。