關于“X射線能譜定量分析通則”國家標準制訂的幾個問題
Si(Li)探測器類的 X 射線能譜儀已廣泛地應用于電子探針和掃描電鏡的分析領域,據不完全統計, 我國大約有500多臺 X 射線能譜儀與電子探針或掃描電鏡(包括透視電子顯微鏡)聯用,已成為最為主要的微區元素分析的工具,發揮了重要的作用。但也存在著分析結果上的明顯缺陷,嚴重地影響定量分析的質量,并導致許多不應有的研究成果謬誤的 ......閱讀全文
X射線能譜定量分析
隨著探頭制造技術水平的提高、電子學技術的發展,以及對脈沖處理技術和重疊峰處理方法的改進,能譜定量分析的精度得到不斷提高。目前,對原子序數在11～30之間的常用元素,其分析精度大體上可以達到波長譜儀的水平。由于能譜定量分析的方法簡單、操作方便,它既能進行大試樣的平均成份分析,也能進行微粒、薄板、鍍層、
X 射線能譜
X 射線能譜（ Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS）是微區成分分析最為常用的一種方法，其物理基礎是基于樣品的特征 X 射線。當樣品原子內層電子被入射電子激發或電離時，會在內層電子處產生一個空缺，原子處于能量較高的激發狀態，此時外層電子將向內層躍遷以填補
軟骨鈣化的X射線能譜半定量分析
軟骨的鈣化過程實質上是鈣鹽在軟骨內沉積的積累過程。盡管人們一直關注這個問題,但并未完全清楚。本文利用透射電鏡觀察了鈣鹽在軟骨細胞內外沉積的部位和形態,利用 X 射線能譜儀對沉積鈣鹽的 Ca- P 強度、濃度和摩爾數進行了半定量分析。
硫化物X射線能譜定量分析探討
７１１－Ｆ型能譜儀對常見硫化物（黃鐵礦、磁黃鐵礦、方鉛礦、閃鋅礦等）元素定量分析的條件試驗結果表明，一定要選擇好儀器的最佳試驗條件；保證分析樣品的質量，排除影響元素定量分析精度的因素。經反復條件試驗，獲得硫化物的最佳試驗測試參數：電壓２５ｋＶ、束流６４μＡ、束斑０．１２５μｍ、計數率２３００ｃ／ｓ、
不銹鋼X射線能譜定量分析方法研究
配備X射線能譜儀的掃描電子顯微鏡不僅能夠觀察材料的微觀形貌還可對微區成分進行分析，現已廣泛應用于材料分析測試領域。提高能譜儀定量分析的準確度，是科學研究和工業生產的重要課題。本論文對能譜儀的物理基礎、工作原理、定性分析、定量分析等方面進行了闡述，并圍繞如何獲得不銹鋼標樣定量分析的最佳工作條件以及提高
多相體系銀焊條的X射線能譜定量分析
稀土銀焊條屬多相體系,它由低含量微細稀土氧化物彌散分布在銀基體中所組成。文獻[1][2]提出的多相體系樣品電子探針定量分析法均由樣品面掃描譜獲得實驗數據,對焊條中低含量的第二相元素,其峰強很低,實驗誤差大。因在銀焊條中:基體對第二相各元素無熒光效應;基體對第二相各元素的質量吸收系數相近,第二相各元素
軟X射線能譜儀
本文描述了一個用于托卡馬克雜質譜線精細測量的高分辨軟X射線譜儀。譜儀采用Johann型彎晶衍射結構,以多絲正比室作探測器件。其測量范圍為2—8keV(1—6),能量分辨為4.1eV(在6.4keV處)。多絲正比室采用陽極絲逐絲讀出法,位置讀出精度2mm。譜儀配有自動數據記錄系統。?
X射線能譜儀簡介
能譜儀是利用X射線能譜分析法來對材料微區成分元素種類與含量分析的儀器，常常配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。
X射線機重過濾X射線能譜的測量
本文報道了用 NaI(Tl)閃爍譜儀對國產 F34-Ⅰ型 X 射線機的重過濾 X 射線能譜的測量和解譜方法,給出一組測量結果,并對測量結果進行了比較和討論。
軟X射線源上X射線能譜與X射線能量的測量
本文介紹了國內首次利用針孔透射光柵譜儀對金屬等離子體Ｚ箍縮Ｘ射線源能譜的測量結果及數據處理方法。同時用量熱計對該源的單脈沖Ｘ射線能量進行了測量并討論了其結果。