X射線能譜儀應用范圍
1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點分布分析。X射線光電子能譜分析X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子，可以測量光電子的能量，以光電子的動能為橫坐標，相對強度(脈沖/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖，從而獲得待測物組成。XPS主要應用是測定電子的結合能來實現對表面元素的定性分析，包括價態。 X射線光電子能譜因對化學分析最有用，因此被稱為化學分析用電子能譜受激發射（stimulated em......閱讀全文
X射線光電子能譜（－XPS）
XPS：X射線光電子能譜分析(XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)測試的是物體表面10納米左右的物質的價態和元素含量，而EDS不能測價態，且測試的深度為幾十納米到幾微米，基本上只能定性分析，不好做定量分析表面的元素含量。?原理：用X射線去輻射樣品，使原子或分子
太陽耀斑硬X射線能譜演變特征
太陽硬Ｘ射線是耀斑高能電子束流與太陽大氣相互作用產生的韌致輻射，根據簡單的太陽耀斑環物理模型，假定具有流量與能譜同步變化的高能電子束流從耀斑環頂部注入，計算了硬Ｘ射線輻射在不同的靶物質密度區的能譜演變特征．結果表明：硬Ｘ射線輻射在低大氣密度靶區呈現軟一硬一硬的能譜演變特征，在高密度靶區硬Ｘ射線能譜則
衰減透射法測量高能X射線能譜
研究了基于衰減透射原理的高能X射線能譜測量與重建。利用蒙特卡羅方法對神龍一號直線感應加速器的X射線源穿過不同厚度鋁時的衰減透射過程進行模擬實驗。解譜方法采用迭代擾動法,對不同的初始能譜估計和測量噪聲水平條件下的能譜重建進行計算分析。結果表明:實驗測量不包含噪聲時,選擇合適的初始能譜可以獲得比較準確的
概述熒光X射線測厚儀的應用范圍
－測厚范圍可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。請告訴牛津儀器您的具體應用，我們將列表可測定的厚度范圍－基本分析功能無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數方法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍
微分消卷積法在分析X射線能譜和衍射譜中的應用
x射線譜圖中,譜峰的重疊現象十分常見。本文應用微分消卷積法,對實測的譜圖進行消卷積處理,從而提高了x射線譜圖的分辨率,使原來重疊的譜峰得以分離,通過譜峰面積的計算,得到了它們的相對含量,與配置值基本符合。?
X射線能譜微區分析中出射角對X射線強度的影響
利用SEM-EDS研究了硅襯底上Au、Cu薄膜發射的不同線系特征X射線相對強度間比值隨出射角的變化規律,探討了影響其變化的原因。結果顯示:隨著出射角變大,同一元素不同線系X射線相對強度間比值具有一定變化規律。低能量譜線的強度相對高能量譜線逐漸變大,這種變化主要是受X射線被基體吸收效應的影響所致。在低
小波變換法在X射線能譜去噪聲中的應用
闡述了二進小波變換法的去噪聲原理和方法 ,并將其應用于 X射線能譜分析中噪聲的去除。實驗結果表明 ,該去噪方法能夠解決傳統平滑方法的不足 ,改善 X射線能譜的定性、定量分析結果?
黃金首飾的鑒定（X射線能譜儀應用之一）
黃金首飾的鑒定（Ｘ射線能譜儀應用之一）山東工業大學侯緒榮，曹麗敏，費振義利用ｘ射線能譜儀定量測定黃金首飾成分，選擇合理測試參數，經多次測定取其平均值而獲得其成分，并借助改變加速電壓，判斷成分波動范圍的合理性。
掃描電鏡X射線能譜法在鍍層分析中的應用
以測定人民幣壹元和伍角硬幣的鍍層成分為例子來說明掃描電鏡-X射線能譜法在鍍層分析中的應用。這種無損、檢測速率快的分析方法,必將在電鍍工藝研究和開發等方面發揮更大的作用。?
快脈沖硬X射線能譜測量實驗研究
研究設計了以解析吸收片后的透射率來測量快脈沖硬X射線輻射場能譜的實驗方法。對實驗方案進行了理論模擬設計,并獲得了解譜必要的理論數據,通過測量不同吸收片后光強的實驗方法獲得了透射系數,用微擾的數學方法完成了測量譜的解析,復現了測量位置處快脈沖硬X射線輻射場能譜,最后對該方法的可靠性進行了驗證。?
多層鏡軟X射線能譜儀的研制
軟X射線能譜測量是ICF實驗中的重要內容,測量意義重大。軟X射線能診斷通過光譜分析,可以得到X射線總的通量,輻射溫度,轉換效率以及反照率。這些都是間接驅動黑腔熱力學的重要參數。作為黑體腔特征診斷系統,軟X射線能診斷系統測量黑體腔中發射出的X射線,可得出黑腔中輻射溫度的時間變化圖。針對目前常用的譜儀往
軟X射線能譜定量測量技術研究
采用每毫米 10 0 0線的自支撐透射光柵配上背照射軟X射線CCD(charge coupleddevice)組成了透射光柵譜儀 ,利用北京同步輻射裝置 (BSRF) 3W1B光束線軟X射線實驗站上X射線源分別對透射光柵的衍射效率和軟X射線CCD的響應靈敏度進行了準確的實驗標定 ,獲得了 15 0e
X射線能譜測量的蒙特卡羅成像模擬
針對高能強流電子束轟擊高Z靶產生的X射線的能譜測量問題,采用蒙特卡羅方法進行成像模擬研究。高能X射線能譜通常由對X射線經過衰減體的直穿透射率曲線進行解譜獲得。設計了帶多準直孔的截錐體模型,在單次模擬成像中獲得完整的衰減透射率曲線,有效避免了散射光子對透射率曲線以及X射線能譜重建的影響。成像面采用非均
美國KEVEX公司8000型x射線能譜儀
?8000型X射線能譜儀主要做能量分散X射線分析,可用于冶金、電子、地球化學勘探、化工、石油、生物醫學等許多領域。儀器由X射線探測器,分析儀,小型計算機、大容量存貯器,顯示器,鍵盤和軟件構成。?
X射線能譜儀和波譜儀的優缺點
能譜儀全稱為能量分散譜儀(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射線能譜儀，其關鍵部件是Si(Li)檢測器，即鋰漂移硅固態檢測器，它實際上是一個以Li為施主雜質的n-i-p型二極管。 Si(Li)能譜儀的優點 分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射線光子信號，故可在幾分
用于高能X射線能譜測量的MLS法
為滿足高能X射線能譜測量的需要,提出采用MLS法進行能譜測量的方案。MLS法克服了其他測量方法散射不易控制、光場不均勻性影響較大的缺點,還具有對不同角度能譜進行測量的優勢。對MLS法的測量原理以及測量過程中的注意事項進行了明確,并利用蒙特卡羅方法針對一特定的X射線能譜設計了兩種不同介質的測量裝置,并
氚鈦靶的X射線能譜初步研究
采用超低能鍺探測X射線技術和βIXS方法,研究了在Ar氣、空氣介質中鉬材料中氚和氚鈦靶中氚產生的X射線能譜。Ar氣介質與空氣介質相比,鉬材料中氚產生的X射線能譜除了與空氣介質在同樣的峰位能量2.2keV位置產生譜峰外,還增加了一個峰位能量為3.0keV的譜峰。
Z箍縮軟X射線連續能譜測量
診斷Z箍縮等離子體不同時刻的空間分布及狀態是認識等離子體運動規律進而控制其箍縮過程以便加以利用的必經環節。在箍縮過程中,離子、電子和光子發生強烈的相互作用,探測出射的X光可不破壞等離子體原有狀態而獲取三者運動信息。通過測量X光能譜可以探知輻射場溫度、離子密度、輻射沖擊過程等等。受現有裝置驅動能力的限
12MVX射線能譜的實驗測定
對于流體物理研究所的12MV脈沖X射線裝置,其光子能譜是一個重要的物理參量。當用12MV脈沖射線作為相關實驗研究的輻射源時,得到的實驗結果的物理解釋也需要足夠的譜的數據。但由于高能高注量軔致輻射的光子譜難以用通常的在線式γ譜儀測量,所以用透射系數數值分析的方法對12MV-X射線譜作了初步的實驗測定。
X射線能譜儀和波譜儀的優缺點
能譜儀全稱為能量分散譜儀(EDS)。 ?目前最常用的是Si(Li)X射線能譜儀，其關鍵部件是Si(Li)檢測器，即鋰漂移硅固態檢測器，它實際上是一個以Li為施主雜質的n-i-p型二極管。Si(Li)能譜儀的優點 ?分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射線光子信號，故可在幾分鐘內分析和
X射線光電子能譜儀原理
X射線光子的能量在1000～1500ev之間，不僅可使分子的價電子電離而且也可以把內層電子激發出來，內層電子的能級受分子環境的影響很小。 同一原子的內層電子結合能在不同分子中相差很小，故它是特征的。光子入射到固體表面激發出光電子，利用能量分析器對光電子進行分析的實驗技術稱為光電子能譜。?XPS的原理
6MV－X－射線能譜的實驗測定
用穿透系數數值分析的疊代最小二乘法對穩態加速器的Ｘ射線能譜進行了實驗測定，編寫了疊代最小二乘法的計算程序。?
基于MARS系統的X射線能譜CT研究
X射線是19世紀末物理學的三大發現（X射線1895年、放射性1896年、電子1897年）之一，這一發現標志著現代物理學的誕生。由于X射線是波長介于紫外線和γ射線之間的電磁輻射，因而它具有很高的穿透本領，能穿透許多對可見光不透明的物質，基于此，可用來幫助人們進行醫學診斷和治療，或者用于工業等領域的非破
電子探針分析的X射線能譜法
本文介紹了使用硅(鋰)檢測器進行定量電子探針分析的一種方法,這種方法使用了背景模擬技術及其它技術中的電荷收集不完全和電子噪聲的校正。輕元素分析的改進對硅酸鹽樣品是特別有利的,使之盡可能采用純金屬作分析標樣。這種方法已被用于各種地球化學樣品的分析中(包括用JG—1和JB—1巖石做成的玻璃)。與濕式化學
X射線能譜分析中譜線重疊問題
掃描電子顯微鏡上配接Si(Li)探測器X射線能譜儀,進行地質樣品分析時,由于它的峰,背比值較低和譜線分辨率不如X射線波譜儀,盡管探測效率很高,仍然存在譜線的干擾或重疊現象。譜線的干擾或重疊現象主要劃分為三個類型:相鄰或相近元素同一線系(K、L、M)的譜線之間重疊;原子序數較低的K線系譜線與原子序數較
X射線衍射儀的原理和應用范圍
X射線衍射儀是一種常用的檢測儀器，利用波長很短的電磁波能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離，測定物質的晶體結構，織構及應力，的進行物相分析，定性分析，定量分析。 X射線衍射儀的原理： x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，
X射線能譜法與X射線光譜法最小濃度檢測極限的對比
自從1968年Fitzgerald等人把x射線能譜法[EDX]引用于電子光學儀器以來,不少專家就著手評價這兩種系統的優劣了。Servant等人在普通掃描電鏡[SEM]上加裝束流調節器和防污染裝置,用能譜儀[EDX]對濃度大于2(wt)%的二元合金。
NaI晶體譜儀采集X射線能譜測量方法研究
為準確測量軔致輻射X射線能譜,利用NaI晶體譜儀對于測量光子的能譜展寬效應,結合理論模擬分析,提出了采用變能量矩陣求解法實現X射線能譜的重建。該方法通過合理選擇能量區間,可有效消除能譜響應矩陣中各矢量的相關性,從而實現能譜的準確重建。并分別以均勻能譜分布和實際軔致輻射X射線能譜為例,進行了X射線的能
HPGe測量連續硬X射線能譜的解譜方法研究
結合數值模擬得到的單能光子在HPGe探測器上能量響應函數,用改進的剝譜法對測量得到的連續硬X射線能譜進行解譜。扣除測量譜中康普頓、反散射等效應產生的計數對測量能譜的影響,得到了僅反映探測器對光電效應的能量響應的能譜。最后,通過效率修正,完成了測量譜到實際能譜的還原,為連續硬X射線能譜解析提供了可靠方
用透射光柵譜儀測量金箔背側X射線能譜
在星光激光裝置上利用波長為 0 3 5 μm的激光輻照金箔靶 ,在金箔靶背側用透射光柵配X射線chargecoupleddevice系統測量了其發射的軟X射線能譜 ,并與用亞千能譜儀測量的結果進行了比較 ,獲得了比較一致的結果 .測量結果表明 ,0 17μm厚度的金箔靶背側的X射線能譜偏離平衡輻射譜