材料分析
俄歇電子能譜儀具有很高表面靈敏度 , 在材料表面分析測試方面有著不可替代的作用。通過正確測定和解釋 AES 的特征能量、強度、峰位移、譜線形狀和寬度等信息 , 能直接或間接地獲得固體表面的組成、濃度、化學狀態等多種信息 , 所以在國內外材料表面分析方面 AES 技術得到廣泛運用 。......閱讀全文
材料分析
俄歇電子能譜儀具有很高表面靈敏度 , 在材料表面分析測試方面有著不可替代的作用。通過正確測定和解釋 AES 的特征能量、強度、峰位移、譜線形狀和寬度等信息 , 能直接或間接地獲得固體表面的組成、濃度、化學狀態等多種信息 , 所以在國內外材料表面分析方面 AES 技術得到廣泛運用 。
材料失效分析
由于材料成型過程中存在的缺陷或貯存和使用環境等方面的原因 , 使得材料或構件在貯存和使用過程中失去原來的使用性能。通過對失效材料或失效件結構或斷面進行分析 , 可以了解失效的原因 ,為材料改進和構件設計提供技術支持 , 也可澄清因失效而引起的事故責任。運用俄歇電子能譜儀可以分析斷口的化學成分和元素分
材料形貌分析
相貌分析的主要內容是分析材料的幾何形貌，材料的顆粒度，及顆粒度的分布以及形貌微區的成份和物相結構等方面。形貌分析方法主要有：光學顯微鏡(Opticalmicroscopy,OM)、掃描電子顯微鏡(Scanningelectron microscopy, SEM)、透射電子顯微鏡(Transmis
材料質譜分析
主要包括電感耦合等離子體質譜ICP-MS和飛行時間二次離子質譜法TOF-SIMS（1） 電感耦合等離子體質譜(inductively coupled plasma mass spectrometry, ICP-MS)ICP-MS是利用電感耦合等離子體作為離子源的一種元素質譜分析方法；該離子源
材料能譜分析
主要包括X射線光電子能譜XPS和俄歇電子能譜法AES（1）X射線光電子能譜(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射線光電子能譜(XPS )就是用X射線照射樣品表面，使其原子或分子的電子受激而發射出來，測量這些光電子的能量分布，從而獲得所需的信息。隨著
材料熱分析測試？
熱重分析(TGA)，熱機械分析(TMA)，材料導熱性能分析，動態熱機械分析(DMA)，差示掃描量熱分析(DSC分析)材料熱分析：是在程序控制溫度下，測量物質的物理性能隨溫度變化的技術。材料熱分析目的：熱分析通過測定物質加熱或者冷卻過程中物理性質的變化來研究物質性質及變化，或者對物質進行鑒別分形。物理
AFM納米材料與粉體材料的分析
?納米材料與粉體材料的分析在材料科學中，無論無機材料或有機材料，在研究中都有要研究文獻，材料是晶態還是非晶態。分子或原子的存在狀態中間化物及各種相的變化，以便找出結構與性質之間的規律。在這些研究中AFM?可以使研究者，從分子或原子水平直接觀察晶體或非晶體的形貌、缺陷、空位能、聚集能及各種力的相互作用
金屬材料分析方法
一．金屬成分分析傳統方法?1.分光光度法?是基于Lam bert-Bee定律而對金屬元素進行定量分析與表征的分析方法。在此法中會用到不同波長的光，并將其連續射入含有金屬離子的溶液中，與此同時會得到不同波長所對應的吸收強度。通過繪出該金屬離子的吸收光譜曲線，就可以對溶液中的金屬離子進行定量分析，得到其
材料成分分析流程
成分分析流程通常如下：1、首先檢測樣品的理化指標（pH，粘度，酸值等）2、對樣品進行分離提純，得到各性狀下的單一成分3、SEM+EDS，可以通過掃描電鏡和能譜，獲知形貌、粒徑分布、元素半定量等，為后續分析做個參考4、FITR，紅外光譜分析。通過紅外，可以或者很多官能團結構或者直接獲得樣品成分5、進行
材料成分分析流程
如果樣品沒有上述4個問題，那么接下來分析過程中還會碰到如下問題：1、有效成分含量太低，在分離過程中獲取不到或者被分離手段污染得不到相應成分。2、樣品雜質含量太多，在檢測過程中，雜質會對結果造成誤判。3、樣品中有同分異構體，這樣的成分在檢測手段上很難區分。4、樣品中有螯合物或者聚合物，這樣分析的結果很