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基于掃描探針電子能譜學的表面等離子體激元研究

掃描隧道顯微鏡(STM)已經成為表面科學中一種極其重要的測量分析手段,用于對固體表面形貌的測量以及費米面附近電子態的探測。然而STM在能譜測量方面的不足限制了它在固體表面微區元素分析及能譜譜學成像方面的應用,將STM與電子能譜技術相結合組建掃描探針電子能譜儀(SPEES)是解決這個問題的一種方案。本文介紹了針對SPEES裝置開展的模擬和實驗工作,包括:SPEES針尖樣品區域電場分布及電子飛行特性模擬,SPEES能量掃描模式下電子能譜測量以及進一步開展的不同厚度Ag和Au樣品的等離子體激元實驗研究。第一章介紹了基于掃描探針的表面原子識別中的基本概念,能譜譜學成像領域的研究進展,STM的工作原理以及掃描探針能譜儀的研究進展,表面等離子體激元(SPs)的原理及應用,利用SPEES裝置研究SPs的優勢。在第二章中,我以俄歇電子為研究對象利用SIMION軟件系統地模擬了掃描探針電子能譜儀(SPEES)針尖樣品區域的電場分布及出射電子的飛行......閱讀全文