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用流動電位法Zeta電位測量生產中所用紙漿、填料和紙料的Zeta電位非常方便，可以隨時取樣，隨時測量，而所測樣品的組成和性質不發生任何改變，測量結果真實反映了生產中的Zeta電位，對控制紙廠生產具有很好的指導作用。在測量過程中，影響Zeta電位的因素是多方面的，并且測量樣品不同，影響因素也不同，其中BC值影響較大。所以測量前，應先測BC值，BC值的影響。 使用流動電位法Zeta電位儀不論是在線測量或實驗室測量都是很實用的，測量前不需要濾漿是其一大優點。從造紙業多次測量結果看，生產一般文化用紙的紙料Zeta電位多在A1@A,16之間，達到等電點的很少。 測量結果的再現性測試結果的再現性是衡量測試儀器質量的重要技術指標之一。由于流動電位法在測量時，以一定的方式變化壓力，造成水溶液中的平衡離子往復多次與纖維塞剪切分離，使測量結果的再現性特別高。所以需要用幾種......閱讀全文
談粒度不得不說zeta電位，很多微納米產品都需要表征其穩定性，粒度大小、zeta電位、PH值、溫度、產品配方等會影響樣品穩定性，而zeta電位是樣品穩定性比較直觀的一個參數。 很多資料都談及樣品的zeta電位絕對值在30mV以上就代表樣品比較穩定。事實是如此嗎？30mV是體系的平均zeta電位
測量結果的再現性測試結果的再現性是衡量測試儀器質量的重要技術指標之一。由于流動電位法Zeta電位儀在測量時，以一定的方式變化壓力，造成水溶液中的平衡離子往復多次與纖維塞剪切分離，使測量結果的再現性特別高。我們用幾種不同的樣品進行多次測量。 Zet
Zeta電位是納米材料的一種重要表征參數。現代儀器可以通過簡便的手段快速準確地測得。大致原理為：通過電化學原理將Zeta電位的測量轉化成帶電粒子淌度的測量，而粒子淌度的測量測是通過動態光散射，運用波的多普勒效應測得。 1、Zeta電位與雙電層 粒子表面存在的凈電荷影響粒子界面周圍區域的離子分
分析測試百科網訊 在零部件全球化采購和相關技術壁壘已經消失的今天，顆粒分析儀器的同質化競爭愈發明顯。因此，眾多廠家也根據自身情況進行改進。 縱觀2018年，眾多儀器出現在顆粒分析市場上。有的廠家對產品進行了升級換代，有的廠家對多種儀器一體化進行了研發，有的廠家則在應用市場攻堅克難。整個顆粒分析市
由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周圍的反號離子，這些反號離子在兩相界面呈擴散狀態分布而形成擴散雙電層。根據Stern雙電層理論可將雙電層分為兩部分，即Stern層和擴散層。當分散粒子在外電場的作用下，穩定層與擴散層發生相對移動時的滑動面即是剪切面，該處對遠離界面的流體中的某
由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周圍的反號離子，這些反號離子在兩相界面呈擴散狀態分布而形成擴散雙電層。根據Stern雙電層理論可將雙電層分為兩部分，即Stern層和擴散層。當分散粒子在外電場的作用下，穩定層與擴散層發生相對移動時的滑動面即是剪切面，該處對遠離界面的流體中的某
Zeta電位又叫電動電位或電動電勢（ζ-電位或ζ-電勢），是指剪切面(Shear Plane)的電位，是表征膠體分散系穩定性的重要指標。 由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周圍的反號離子，這些反號離子在兩相界面呈擴散狀態分布而形成擴
Zeta電位又稱表面電位，可為正也可為負，與用的輔料有關，如用卵磷脂作乳化劑制得的脂脂乳表面電位為負。zeta電位是微粒表面所帶電荷數量的表征，與微粒體系的穩定性有關，電位越低穩定性越好。zeta電位一般用來評價或預測微粒分散體系的物理穩定性,一般zeta電位絕對值越高,其
zeta電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強度的度量。zeta電位的測量使我們能夠詳細了解分散機理，它對靜電分散控制至關重要。對于釀造、陶瓷、制藥、藥品、礦物處理和水處理等各個行業，zeta電位 是極其重要的參數。 Zeta電位可用于測定分散體系
Zeta電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強度的度量。zeta電位的測量使我們能夠詳細了解分散機理，它對靜電分散控制至關重要。對于釀造、陶瓷、制藥、藥品、礦物處理和水處理等各個行業，zeta電位 是極其重要的參數。 Zeta電位可用于測定分散體系顆粒物的固－
ZETA電位（Zeta potential）是指剪切面(Shear Plane)的電位，又叫電動電位或電動電勢（ζ-電位或ζ-電勢），是表征膠體分散系穩定性的重要指標。 目前測量Zeta 電位的方法主要有電泳法、電滲法、流動電位法以及超聲波法,其中以電泳法應用最廣。 由于分散粒子表面帶有電荷
目前測量Zeta 電位的方法主要有電泳法、電滲法、流動電位法以及超聲波法,其中以電泳法應用最廣。 Zeta電位的重要意義在于它的數值與膠態分散的穩定性相關。Zeta電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強度的度量。分子或分散粒子越小，Zeta電位（正或負）越高，體系
2010年7月，美國康塔儀器公司(Quanatachrome Instruments)與美國分散技術公司（Dispersion Technology, Inc）簽署協議，由康塔公司中國分部負責 DT全系列產品在中國及其周邊地區的市場，銷售及服務。 美國分散技術公司（DTI）成立于1996年
分析測試百科網訊 明亮的落地玻璃窗，琳瑯滿目的儀器設備，嚴肅認真的研究人員穿梭忙碌。這是分析測試百科小編對復旦大學先進材料實驗室的第一印象。 復旦大學先進材料實驗室是教育部“985工程”二期重點建設項目之一，于2005年4月成立，通過物理、化學、生物、材料、信息、
ZETA電位（Zeta potential）是指剪切面(Shear Plane)的電位，又叫電動電位或電動電勢（ζ-電位或ζ-電勢），是表征膠體分散系穩定性的重要指標。 目前測量Zeta 電位的測試方法主要有電泳法、電滲法、流動電位法以及超聲波法,其中以電泳法應用最廣。
流動電位法Zeta電位儀由測量單元與真空泵兩大部分組成。測量單元又由測量池、微型信息處理器、控制板、數字顯示屏和打印機等組成。該電位儀的中心元件是一個由篩網電極、連接套管和環形電極組成的測量池。測量時樣品（0..12）在真空泵的抽吸作用下進入測量池，在篩網電極下形成纖維塞
電動力學修復技術是處理污染土壤的一項新的化學技術方法，已進入現場修復應用階段。電動力學修復是通過電化學和電動力學的復合作用(電滲、電遷移和電泳等)驅動污染物富集到電極區，進行集中處理或分離的過程。近年來，中國先后開展了銅、鉻等重金屬、菲和五氯酚等有機污染土壤的電動修復技術研究。與傳統的清洗法、生物處
化療作為癌癥治療的主要手段，存在兩大問題：一是化療藥物缺乏選擇性，二是多藥耐藥性[1-2]。靶向藥物制劑成為當今抗腫瘤領域的研究主流[3-4]。高通透性和高滯留性[高滲透長滯留效應（EPR效應）]是腫瘤靶向藥物設計的金標準[5]。醇質體是一種新型的柔性脂質體，是在脂質體的雙分子層中加入不同的柔軟劑，
161GB/T 37504-2019連鑄工序能效評估導則2020-05-01162GB/T 37505-2019表面活性劑 分散劑中喹啉含量的測定2020-05-01163GB/T 37508-2019造型黏土中防腐劑的測定 高效液相色譜法2019-10-01164GB/T 37516-2019就業
圖1. 粒徑對懸浮體系粘度的影響。 影響懸浮體系流變性能的因素有顆粒大小、顆粒粒徑分布、填充顆粒的體積含量，以及衡量體系內部顆粒帶電荷量參數的zeta電位等。本文主要研究了體系流變性能特別是粘度與顆粒粒徑參數、zeta電位之間的關系。以幫助制造商們提供相關信息，并依此適當
1.超聲譜法可以測量納米顆粒的粒度嗎？高頻率超聲衰減譜法（簡稱超聲譜法）是近年來新出現的納米顆粒粒度測量方法。因超聲具有強穿透力，該方法尤其適用于高濃度納米顆粒的測量。它的基本原理是：不同頻率的超聲在納米顆粒懸浮液中傳播時，受到納米顆粒的吸收和散射會產生衰減。不同大小的納米顆粒對不同頻率超聲的衰減作
美國康塔公司將參加2010第八屆山東國際科學儀器及實驗室裝備展覽會 美國康塔儀器公司將于2010年7月22日-24日參加“2010第八屆山東國際科學儀器及實驗室裝備展覽會”，展臺號：B067，歡迎各大廠商參觀、洽談。 美國康塔儀器公司(Quantachrome Instrume
分散體系、膠體和界面物理化學已經滲透到物理化學、高分子材料、涂料工業、環境保護、新材料、微電子、生命科學、造紙、水處理、日用化工、農業土壤、選礦、制藥等諸多學科和領域，各領域中涉及膠體及各類分散體系的重要理論探討及解決實際問題時，往往都要測定表面
Zetasizer Nano ZSP是全世界性能最高的系統，特別適用于需要最高粒度及ZETA電位測量靈敏度的蛋白質及納米顆粒的表征。Zetasizer Nano ZSP測量的參數：顆粒粒度及分子大小、平移擴散、電泳遷移率、高濃度及低濃度顆粒的ZETA電位、蛋白質與聚合物溶液的粘性及粘彈性、濃度、MW
動態光散射（DLS）是一項用于蛋白質、膠體和分散體的極具價值的粒度測量技術，其應用范圍可輕松擴展到1nm以下。本文中，馬爾文儀器公司產品營銷經理Stephen Ball將向您介紹DLS的工作原理，并就購買光散射系統時的關注事項為您并提供一些專業建議。
zeta電位儀的主要用途之一就是研究膠體與電解質的相互作用。由于許多膠質，特別是那些通過離子表面活性劑達到穩定的膠質是帶電的，它們以復雜的方式與電解質產生作用。與它表面電荷極性相反的電荷離子會與之吸附，而同樣電荷的離子會被排斥。因此，表面附近的離子濃度與溶液中與表面有一定
對粒度分析來說，沒有一種測試技術能夠滿足所有材料的應用需求，選擇正確的測試方法是獲得可靠數據的關鍵，因此美國麥克儀器公司提供多種測定顆粒數量以及粒度分布的儀器，對應不同的測試方法，滿足不同的應用。產品特點動態光散射（DLS）和Zeta電位動態光散射（DLS），也稱為光子相關光譜法（PCS），是測量納
NICOMP 380 Z3000納米粒徑與電位分析儀采用先進的設計理念優化結構設計，充分有效地融合了動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和電泳光散射(ELS)技術，即可以多角度（步長0.9μm;）檢測分析液態納米顆粒系的粒度
隨著納米技術的繁榮發展，基于DLS技術的納米激光粒度儀也日益普及，掌握其基本特性及基礎知識，相信會對關注納米粉體材料的粉體圈內人士有所幫助。本文將以問答的形式，向讀者介紹一些納米激光粒度儀的基本常識。1、納米激光粒度儀的測量原理是什么？由于分子熱運動，懸浮介質（多數情況下是水或者有機溶劑）的分子不斷
根據DLVO理論,Zeta電位的絕對值越小,顆粒之間的排斥力越弱,則分散體系穩定性越差,越容易聚沉,從而發生絮凝現象。反之,分散體系越穩定,不易聚沉。目前Zeta電位已經廣泛應用于造紙、礦物浮選、醫藥、粘結劑、廢水絮凝處理、高嶺土絮凝處理、菌類懸浮液絮凝處理和膜處理等,而在