瑞利光譜五十載致敬改革開放四十年
瑞利光譜源自于“北京第二光學儀器廠”（后更名為“北京瑞利分析儀器有限公司”），產品先后創造多個“中國第一”曾被譽為中國光譜分析儀器的生產制造歷史“豐碑”。 1997 年北京瑞利分析儀器有限公司與北京分析儀器廠合并，成立北京北分瑞利分析儀器(集團)有限責任公司。瑞利的光譜與北分的色譜合并互補構成了北分瑞利的全系列產品。 1968 年，在中央“狠抓一下雷達、光學儀器，要提高質量，減輕重量”的重要指示下，機械工業部決定組建研制國產物理光學儀器的專業廠。由原北京市儀器儀表工業局撥款五十萬元，于 1968 年 12 月 26 日在原電機學校舊址成立北京第二光學儀器廠 即現在的北京瑞利分析儀器公司。 自此開啟了瑞利的光譜之路，引領了當時光學儀器發展的黃金時代，實現了我國研發制造光學分析商品儀器從無到有的突破。 我國第一臺大型真空光量計誕生在這里，第一批商用原子吸收和傅立葉變換紅外光譜儀也從這里走向市場。經過五十年的卓越發展，瑞利......閱讀全文
共振瑞利散射光譜在納米檢測、手性分析等領域前景光明
“七彩光譜 萬象更新”主題，訪重慶三峽學院楊季冬教授 光譜技術已邁過百年歷史長河，中國的光譜分析技術亦可追溯到上個世紀50年代，今日中國的光譜技術已從國際上“跟跑”躍升到部分領域領跑的地位。在這背后，老中青科學家，克服了嚴峻的挑戰、付出了辛勤的汗水。伴隨著將在成都召開的第21屆全國分子光譜學學
瑞利光譜五十載-致敬改革開放四十年
瑞利光譜源自于“北京第二光學儀器廠”（后更名為“北京瑞利分析儀器有限公司”），產品先后創造多個“中國第一”曾被譽為中國光譜分析儀器的生產制造歷史“豐碑”。 1997 年北京瑞利分析儀器有限公司與北京分析儀器廠合并，成立北京北分瑞利分析儀器(集團)有限責任公司。瑞利的光譜與北分的色譜合并互補構成
拉曼光譜儀使用什么樣的激光（瑞利）濾除裝置？
拉曼光譜儀使用什么樣的激光（瑞利）濾除裝置？圖：激光濾除裝置分類拉曼光譜儀中使用的激光濾光裝置主要有兩類，如圖3所示。Edge 濾光片是一種長波通光學濾光片，在吸收和透過光譜區域之間的帶邊極為陡峭，對激光線提供了非常有效的阻擋。拉曼光譜儀使用的陷波濾光片也是與特定的激光波長相匹配的，它有很銳利的
北分瑞利新春致辭
金虎長嘯辭舊歲，玉兔獻瑞迎新年。滿懷著豐收的喜悅，我們送走了輝煌的2010年，迎來了嶄新的2011年。征途如虹，歲月如歌，在這個美好的春天，北分瑞利全體職工向社會各界致以節日的祝賀! 辭舊迎新，回首過去，心中涌出無限感慨。2010年對于我公司來說，是頻頻取得成功、實現進一步發展的一年
瑞利干涉儀簡介
一種分波面雙光束干涉儀。1896年，瑞利研究制成，是楊氏雙縫干涉實驗裝置的改型，用于測定流體的折射率。單色縫光源S位于透鏡L1的前焦面，出射的平行光射到與S平行的狹縫S1和S2上，從雙縫出來的光分別通過長度為l的玻璃管T1和T2，接著分別通過補償板C1和C2，在透鏡L2的后焦面上相遇，產生干涉條
BCEIA 2015 北分瑞利WQF-530傅立葉變換紅外光譜儀
分析測試百科網訊 2015年10月27日，國內分析測試行業影響力最大的展會2015 BCEIA(bceia2015)在北京國家會議中心舉辦。作為業內規模和質量最高的盛會之一，本屆展覽會共有461家廠商參展，展出當今國內外分析測試領域的前沿技術和先進儀器設備。其中參展的分子光譜儀器眾多，分析測試百
FRS濾波瑞利散射測量
FRS-濾波瑞利散射是多功能的激光無接觸測量技術，它是通過測量分子的瑞利散射信號，得到一個激光平面上的壓力場、密度場、溫度場和速度場。 FRS的碘蒸氣分子盒和濾鏡，確保FRS系統可以在惡劣環境下實現其測量。碘蒸氣分子盒和濾鏡，可以消除壁面或者模型的激光反射光、流場中的大顆粒的米散射光、灰塵
北分瑞利：創新、整合、責任
分析測試百科網訊 談到國產分析儀器，毫無疑問，北分瑞利是一面旗幟。在2015年4月23-25日，2015 CISILE中國國際科學儀器及實驗室裝備展覽會期間，分析測試百科網采訪了北京北分瑞利分析儀器（集團）有限責任公司（以下簡稱北分瑞利）副總經理孫宏泉先生。采訪中，孫宏泉先生向我們說明
FRS濾波瑞利散射測量
FRS-濾波瑞利散射是多功能的激光無接觸測量技術，它是通過測量分子的瑞利散射信號，得到一個激光平面上的壓力場、密度場、溫度場和速度場。FRS的碘蒸氣分子盒和濾鏡，確保FRS系統可以在惡劣環境下實現其測量。碘蒸氣分子盒和濾鏡，可以消除壁面或者模型的激光反射光、流場中的大顆粒的米散射光、灰塵的激光散射光
瑞利干涉儀原理概述
如圖是瑞利干涉儀結構示意圖。從線光源發射的光波經準直透鏡射到兩個光縫和上，和都平行于線光源。從和出射的光分別通過氣室和，然后被透鏡會聚，在透鏡焦平面上形成干涉條紋。可以用放大鏡來觀察這些干涉條紋。在放大鏡中還可看到另一組條紋，這組條紋是從和發出但通過氣室下面光路的光波干涉而得的條紋(參看側視圖)