AFM探針制備石墨烯納米氣泡及其三軸對稱的贗磁場
7月16日，中國科學院上海微系統與信息技術研究所信息功能材料國家重點實驗室于Nature Communications在線發表了題為“程序化制備石墨烯納米氣泡及其三軸對稱的贗磁場”的論文（Nature Communications, 10, 3127 (2019)）。該研究提出了一種利用原子力顯微鏡探針可控制備石墨烯納米氣泡的方法，并實驗證實了拋物線型氣泡上存在具有三軸對稱性的贗磁場。 石墨烯納米氣泡由于其特殊的應變結構，可以在垂直方向產生幾十乃至上百特斯拉大小的贗磁場，因此能夠應用于谷電子學器件制備及Aharonov-Bohm效應的探測，但是常規石墨烯氣泡的制備很難控制氣泡的大小、位置以及形狀。上海微系統所研究人員創造性地提出利用導電原子力顯微鏡探針對H鈍化Ge表面石墨烯施加偏置電壓，可以使Ge-H鍵斷裂，隨后分離出的H原子會結合形成H2分子，讓上方覆蓋的石墨烯鼓起來，從而形成石墨烯納米氣泡。通過控制施加偏置電壓，可以控......閱讀全文
AFM探針制備石墨烯納米氣泡及其三軸對稱的贗磁場
7月16日，中國科學院上海微系統與信息技術研究所信息功能材料國家重點實驗室于Nature Communications在線發表了題為“程序化制備石墨烯納米氣泡及其三軸對稱的贗磁場”的論文（Nature Communications, 10, 3127 (2019)）。該研究提出了一種利用原子力顯
AFM表征石墨烯原理
AFM可用于了解石墨烯細微的形貌和確切的厚度信息，屬于掃描探針顯微鏡，它利用針尖和樣品之間的相互作用力傳感到微懸臂上，進而由激光反射系統檢測懸臂彎曲形變，這樣就間接測量了針尖樣品間的作用力從而反映出樣品表面形貌。因此，表征方法主要表征片層的厚度、表面起伏和臺階等形貌，及層間高度差測量。原子力顯微技術
石墨烯AFM測試詳解
單層石墨烯的厚度為０.335ｎｍ，在垂直方向上有約１ｎｍ的起伏，且不同工藝制備的石墨烯在形貌上差異較大，層數和結構也有所不同，但無論通過哪種方法得到的最終產物都或多或少混有多層石墨烯片，這會對單層石墨烯的識別產生干擾，如何有效地鑒定石墨烯的層數和結構是獲得高質量石墨烯的關鍵步驟之一。本文材料+小編將
AFM表征石墨烯的優缺點
由于單層石墨烯理論厚度很小，在掃描電鏡中很難觀察到。原子力顯微鏡是表征石墨烯片層結構的最有力、最直接有效的工具。它可以清晰的反映出石墨烯的橫向尺寸、面積和厚度等方面的信息，但一般只能用來分辨單層或雙層的石墨烯。原子力顯微鏡可以表征單層石墨烯，但也存在缺點：耗時且在表征過程中容易損壞樣品；此外，由于C
AES、STM、AFM的區別
AES、STM、AFM的區別主要是名稱不同、工作原理不同、作用不同、一、名稱不同1、AES，英文全稱：Auger Electron Spectroscopy，中文稱：俄歇電子能譜2、STM，英文全稱： Scanning Tunneling Microscope，中文稱：掃描隧道顯微鏡3、AFM，英文
導電型原子力顯微鏡的研制和應用研究
? ? ?掃描隧道顯微鏡只能測量導電的樣品，原子力顯微鏡對樣品是否導電沒有特殊要求，但是無法測量樣品導電性。在實際應用中，更多的研究對象是導電質與非導電質的混合物。特別是近年來人們感興趣的金屬有機復合材料、納米顆粒鑲嵌材料、納米電子學等方面，都涉及到局域導電性及非導電性等問題。? ? 鑒于STM和A
石墨烯納米帶電觸頭技術最新研究成果
6月13日，來自荷蘭Aalto大學的一項研究稱，科學家們成功展示了如何利用單個化學鍵在石墨烯納米帶上建立電觸頭。石墨烯是一種蜂窩晶格狀排列的碳原子單層物質材料，近年來被科學家們看好其在電子領域的無限前景。 室溫下工作的石墨烯晶體管需要小于10納米尺寸的工作條件，這就意味著石墨烯納米結構需滿
雙極性氧化還原電對提高石墨烯基微型超級電容器贗電容
近日，我所催化基礎國家重點實驗室二維材料化學與能源應用研究組（508組）吳忠帥研究員團隊與納米與界面催化研究組（502組）傅強研究員團隊合作，在高濃度ZnCl2電解液中加入具有雙極性氧化還原電對的ZnI2電解質，實現在石墨烯正負極同時引入贗電容，構筑出高容量、長循環水系石墨烯基微型超
stm和afm比較有什么差別
掃描隧道顯微鏡的基本原理是將原子線度的極細探針和被研究物質的表面作為兩個電極，當樣品與針尖的距離非常接近(通常小于1nm)時，在外加電場的作用下，電子會穿過兩個電極之間的勢壘流向另一電極。 利用掃描隧道顯微鏡可直接觀測材料表面原子是否具有周期性的表面結構特征，表面的重構和結構缺陷等。 原子力
AFM和STM有什么不同呢？
? ? ? ?掃描隧道顯微鏡STM(scanning tunneling microscopy, STM) 于1982 年, 由IBM 瑞士蘇黎世實驗室的科學家Binning 等發明。STM的原理是利用針尖和樣品之間的隧道電流對樣品表面進行表征。所以理論上它只適用于導電樣品，因而限制了其應用范圍。但