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    X射線熒光分析技術的應用

    X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段,開始于20世紀50年代初,經歷了50多年的不斷發展,現在已成為物質組成分析的必備方法之一。在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中,X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑;與其他分析方法(例如:發射光譜、吸收光譜、分光光度計、色譜質譜等)比較而言,作為過程控制和檢測使用,氣相液相色譜儀特別適合用于各類相關生產企業,具有無需對樣品進行特別的化學處理,以及方便、測量成本低、快速等明顯優勢。X射線熒光分析技術可以分為兩大類型:波長色散X射線熒光分析(WDXRF)和能量色散X射線熒光分析(EDXRF);而能量色散型又根據探測器的類型分為(Si-PIN)型和SDD型。在不同的應用條件下,這幾種類型的技術各有其突出的特點。目前,X射線熒光分析不僅材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一種快速、準確而又經濟的多元素分析方法。也是......閱讀全文

    X射線熒光分析技術的應用

       X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段,開始于20世紀50年代初,經歷了50多年的不斷發展,現在已成為物質組成分析的必備方法之一。   在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中,X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑;

    X射線熒光分析技術的應用

       X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段,開始于20世紀50年代初,經歷了50多年的不斷發展,現在已成為物質組成分析的必備方法之一。  在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中,X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑;與其

    X射線熒光分析技術的應用

    X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段,開始于20世紀50年代初,經歷了50多年的不斷發展,現在已成為物質組成分析的必備方法之一。在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中,X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑;與其他分析方法

    X射線熒光分析技術的應用介紹

      隨著儀器技術和理論方法的發展,X射線熒光分析法的應用范同越來越廣。在物質的成分分析上,在冶金、地質、化工、機械、石油、建筑材料等工業部門,農業和醫藥衛生,以及物理、化學、生物、地學、環境、天文及考古等研究部門都得到了廣泛的應用:有效地用于測定薄膜的厚度和組成.如冶金鍍層或金屬薄片的厚度,金屬腐蝕

    關于X射線熒光分析技術應用的誤區

      X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程,在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展,基本上是在近25 年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初,一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進,大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業,另一方面,隨著鈣鐵 分析

    X射線熒光應用及分析

      a) X射線用于元素分析,是一種新的分析技術,但在經過二十多年的探索以后,現在已完全成熟,已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。  b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外,還與這種元素在樣品中的含量。  c) 根據各元素的特征X射線的強度,

    X射線熒光應用及分析

    a) X射線用于元素分析,是一種新的分析技術,但在經過二十多年的探索以后,現在已完全成熟,已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外,還與這種元素在樣品中的含量。c) 根據各元素的特征X射線的強度,也可以獲得各

    X射線熒光應用及分析

    a)?X射線用于元素分析,是一種新的分析技術,但在經過二十多年的探索以后,現在已完全成熟,已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。? ??b)?每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外,還與這種元素在樣品中的含量。????c)?根據各元素的特征X射線的強

    X射線熒光分析技術應用的原理分析及誤區

    ?X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程,在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展,基本上是在近25年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初,一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進,大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業,另一方面,隨著鈣鐵分析儀的研

    X射線熒光分析技術簡介

      X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術,即是利用初級x射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子,使之產生熒光(次級x射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。

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