吉林大學采購真空轉移原子力顯微鏡與掃描電鏡聯用系統
分析測試百科網訊 近日，真空轉移原子力顯微鏡與掃描電鏡聯用系統（項目編號：JLU-ZC19131）進行公開招標， 配備如下功能模式：接觸式原子力顯微鏡（AFM）；輕敲式原子力顯微鏡(DFM)； 開爾文力顯微鏡(KFM)；壓電響應顯微鏡（PRM）等；預算金額：444.6萬。詳情如下： 項目聯系人：林老師 電話：0431-85167310 開標時間：2019年11月21日 08:30 開標地點：吉林省長春市前衛路10號吉林大學前衛校區商貿樓（北門外）四樓（致遠街與前衛路交匯，315路公交調度站旁）吉林大學招標與采購管理中心會議室 1.采購項目的名稱、數量、簡要規格描述或項目基本概況介紹：原子力顯微鏡配置功能要求：4英寸馬達臺的全自動型原子力顯微鏡，可自動安裝、更換探針，自動激光調整，并可實現測量參數自動優化。通過SEM-AFM共享坐標樣品臺，輕松實現掃描電鏡和原子力顯微鏡同視野觀察和分析。原子力顯微鏡與掃描電鏡所獲得的數......閱讀全文
AFM與掃描電鏡的區別
與掃描電鏡的區別可能有的人會問了，既然是測試材料表面的結構與形貌，SEM也是可以的，但是這二者的區別又在哪呢？不同于SEM只能提供二維圖像，AFM提供真正的三維表面圖。同時，AFM不需要對樣品的任何特殊處理，如鍍銅或碳，這種處理對樣品會造成不可逆轉的傷害。其次，SEM需要運行在高真空條件下，AFM在
掃描原子力顯微鏡（AFM）
掃描原子力顯微鏡（AFM）可以對納米薄膜進行形貌分析，分辨率可以達到幾十納米，比STM差，但適合導體和非導體樣品，不適合納米粉體的形貌分析。
原子力顯微鏡（AFM）分類
在原子力顯微鏡（AFM）成像模式中，根據針尖與樣品間作用力的不同性質可分為：接觸模式，非接觸模式，輕敲模式。 （1）接觸成像模式：針尖在掃描過程中始終同樣品表面接觸。 針尖和樣品間的相互作用力為接觸原子間電子的庫侖排斥力（其力大小為10-8~10-6N）。優點為圖像穩定，分辨率高，缺點為由于
原子力顯微鏡(AFM)概述
原子力顯微鏡(AFM)概述最早掃描式顯微技術(STM)使我們能觀察表面原子級影像，但是STM 的樣品基本上要求為導體，同時表面必須非常平整， 而使STM 使用受到很大的限制。而目前的各種掃描式探針顯微技術中，以原子力顯微鏡(AFM)應用是最為廣泛，AFM 是以針尖與樣品之間的屬于原子級力場作用力，所
原子力顯微鏡(AFM)綜述
原子力顯微鏡(AFM)綜述最早掃描式顯微技術(STM)使我們能觀察表面原子級影像，但是 STM 的樣品基本上要求為導體，同時表面必須非常平整， 而使 STM 使用受到很大的限制。而目前的各種掃描式探針顯微技術中，以原子力顯微鏡(AFM)應用是最為廣泛，AFM 是以針尖與樣品之間的屬于原子級力場作用力
如何激光檢測原子力顯微鏡/AFM/AFM探針工作
二極管激光器發出的激光束經過光學系統聚焦在微懸臂（Cantilever）背面，并從微懸臂背面反射到由光電二極管構成的光斑位置檢測器（Detector）。在樣品掃描時，由于樣品表面的原子與微懸臂探針尖端的原子間的相互作用力，微懸臂將隨樣品表面形貌而彎曲起伏，反射光束也將隨之偏移，因而，通過光電二極管檢
SEM 和AFM 相似之處
AFM 的最大特點是可以將不導電的樣品表面在液體池中掃描出高分辨的圖像。通常AFM 掃描含水的試樣是把它和掃描探針放在液體中進行的，因為AFM 不是以導電性為基礎,所以圖像和掃描模件在液體中都不會受干擾。AFM 最常見的應用是在生物材料、晶體生長、作用力的研究等方面。雖然SEM 和AFM 的表現形式
原子力顯微鏡（AFM）的原理
原子力顯微鏡/AFM的基本原理原子力顯微鏡/AFM的基本原理是：將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定,另一端有一微小的針尖,針尖與樣品表面輕輕接觸,由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力,通過在掃描時控制這種力的恒定,帶有針尖的微懸臂將對應于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣
原子力顯微鏡（AFM）的原理
原子力顯微鏡/AFM的基本原理原子力顯微鏡/AFM的基本原理是：將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對應于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣
什么是原子力顯微鏡(AFM)？
p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'}原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構