一文了解能譜儀和波譜儀的對比
波譜儀 波譜儀全稱為波長分散譜儀(WDS)。 在電子探針中，X射線是由樣品表面以下 m數量級的作用體積中激發出來的,如果這個體積中的樣品是由多種元素組成，則可激發出各個相應元素的特征X射線。 被激發的特征X射線照射到連續轉動的分光晶體上實現分光（色散），即不同波長的X射線將在各自滿足布拉格方程的2方向上被（與分光晶體以2：1的角速度同步轉動的）檢測器接收。 波譜儀的特點 波譜儀的突出優點是波長分辨率很高。但由于結構的特點,譜儀要想有足夠的色散率，聚焦圓的半徑就要足夠大，這時彎晶離X射線光源的距離就會變大，它對X射線光源所張的立體角就會很小，因此對X射線光源發射的X射線光量子的收集率也就會很低，致使X射線信號的利用率極低。 此外，由于經過晶體衍射后強度損失很大，所以，波譜儀難以在低束流和低激發強度下使用，這是波譜儀的兩個缺點。 能譜儀 能譜儀全稱為能量分散譜儀(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射線能譜......閱讀全文
一文了解能譜儀和波譜儀的對比
波譜儀 波譜儀全稱為波長分散譜儀(WDS)。 在電子探針中，X射線是由樣品表面以下 m數量級的作用體積中激發出來的,如果這個體積中的樣品是由多種元素組成，則可激發出各個相應元素的特征X射線。 被激發的特征X射線照射到連續轉動的分光晶體上實現分光（色散），即不同波長的X射線將在各自滿足布拉格
一文了解波譜儀和能譜儀各有什么優缺點
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線光
能譜儀和波譜儀區別
剛剛學了這個，希望對同學你有用。波譜儀和能譜儀的范圍基本一樣，在于波譜儀的分析定量精度要高于能譜儀，可以對重疊的譜峰進行分峰處理和分析。而能譜儀以快速分析見長。但是現在波譜儀也有了進步，分析起來已經很快，對于定量要求不高的樣品，能譜儀有以下優點：1、分析速度快 2、靈敏度高 3、譜線重復性好。缺點：
波譜儀和能譜儀的區別
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線
波譜儀和能譜儀的區別
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線
波譜儀和能譜儀的區別
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線
波譜儀和能譜儀工作原理
波譜儀和能譜儀的范圍基本一樣，在于波譜儀的分析定量精度要高于能譜儀，可以對重疊的譜峰進行分峰處理和分析。而能譜儀以快速分析見長。但是現在波譜儀也有了進步，分析起來已經很快，對于定量要求不高的樣品，十幾秒就夠了。根據具體問題類型，進行步驟拆解／原因原理分析／內容拓展等。具體步驟如下：／導致這種情況的原
波譜儀和能譜儀工作原理
波譜儀和能譜儀的范圍基本一樣，在于波譜儀的分析定量精度要高于能譜儀，可以對重疊的譜峰進行分峰處理和分析。而能譜儀以快速分析見長。但是現在波譜儀也有了進步，分析起來已經很快，對于定量要求不高的樣品，十幾秒就夠了。
一文了解波譜儀與能譜儀工作原理的區別
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射
波譜儀和能譜儀工作原理是什么
波譜儀和能譜儀的范圍基本一樣，在于波譜儀的分析定量精度要高于能譜儀，可以對重疊的譜峰進行分峰處理和分析。而能譜儀以快速分析見長。但是現在波譜儀也有了進步，分析起來已經很快，對于定量要求不高的樣品，十幾秒就夠了。根據具體問題類型，進行步驟拆解／原因原理分析／內容拓展等。具體步驟如下：／導致這種情況的原
波譜儀和能譜儀各有什么優缺點
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射
波譜儀和能譜儀各有什么優缺點？
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線光
X射線能譜儀和波譜儀的優缺點
能譜儀全稱為能量分散譜儀(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射線能譜儀，其關鍵部件是Si(Li)檢測器，即鋰漂移硅固態檢測器，它實際上是一個以Li為施主雜質的n-i-p型二極管。 Si(Li)能譜儀的優點 分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射線光子信號，故可在幾分
X射線能譜儀和波譜儀的優缺點
能譜儀全稱為能量分散譜儀(EDS)。 ?目前最常用的是Si(Li)X射線能譜儀，其關鍵部件是Si(Li)檢測器，即鋰漂移硅固態檢測器，它實際上是一個以Li為施主雜質的n-i-p型二極管。Si(Li)能譜儀的優點 ?分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射線光子信號，故可在幾分鐘內分析和
【科普】X射線能譜儀和波譜儀的優缺點
一,能譜儀 能譜儀全稱為能量分散譜儀(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射線能譜儀,其關鍵部件是Si(Li)檢測器,即鋰漂移硅固態檢測器,它實際上是一個以Li為施主雜質的n-i-p型二極管。 Si(Li)能譜儀的優點： (1)分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射
一文告訴你能譜儀與波譜議相比具有哪些特點
波譜儀 波譜儀全稱為波長分散譜儀(WDS)。 在電子探針中，X射線是由樣品表面以下 m數量級的作用體積中激發出來的,如果這個體積中的樣品是由多種元素組成，則可激發出各個相應元素的特征X射線。 被激發的特征X射線照射到連續轉動的分光晶體上實現分光（色散），即不同波長的X射線將在各自滿足布拉格
能譜儀是什么？能譜儀與波譜議相比有哪些優點？
波譜儀全稱為波長分散譜儀(WDS)。在電子探針中，X射線是由樣品表面以下 m數量級的作用體積中激發出來的,如果這個體積中的樣品是由多種元素組成，則可激發出各個相應元素的特征X射線。 被激發的特征X射線照射到連續轉動的分光晶體上實現分光（色散），即不同波長的X射線將在各自滿足布拉格方程的2方向上
能譜儀、波譜儀與質譜儀哪個精度更好
質譜儀的性能指標是它的分辨率，如果質譜儀恰能分辨質量m和m+Δm，分辨率定義為m/Δm。現代質譜儀的分辨率達105～106量級，可測量原子質量精確到小數點后7位數字。這里的“分辨率”即是相對于質量的精度。
能譜儀與波譜儀相比具有那些特點？
波譜儀 波譜儀全稱為波長分散譜儀(WDS)。 在電子探針中，X射線是由樣品表面以下 m數量級的作用體積中激發出來的,如果這個體積中的樣品是由多種元素組成，則可激發出各個相應元素的特征X射線。 被激發的特征X射線照射到連續轉動的分光晶體上實現分光（色散），即不同波長的X射線將在各自滿足布拉格
與能譜儀相比，波譜儀的主要優點是什么
波譜儀全稱為波長分散譜儀(WDS)。在電子探針中，X射線是由樣品表面以下 m數量級的作用體積中激發出來的,如果這個體積中的樣品是由多種元素組成，則可激發出各個相應元素的特征X射線。 被激發的特征X射線照射到連續轉動的分光晶體上實現分光（色散），即不同波長的X射線將在各自滿足布拉格方程的2方向上
軟X射線能譜儀與透射光柵譜儀測量結果的對比
對軟 X射線譜儀和透射光柵譜儀的測量結果進行了對比。它們的回推譜形大致符合 ,只是透射光柵譜儀的復原譜的 N帶相對于 O帶太小。其原因可能是 X射線 CCD受到靶室油沾污 ,在表面形成了碳膜 ,對 N帶吸收較多。經過對透射光柵譜進行吸收補償后 ,兩種譜儀的復原譜基本一致。?
一文了解離子遷移譜
IMS，是離子遷移譜(Ion mobility spectroscopy)的簡稱，離子遷移譜（ion mobility spectrometry，IMS）技術是從20世紀60年代末發展起來的一門檢測技術，它以離子遷移時間的差別來進行離子的分離定性，借助類似于色譜保留時間的概念，起初被稱為等離子體
一文了解質譜相對強度
國際標準分類中，質譜中相對強度涉及到分析化學。 在中國標準分類中，質譜中相對強度涉及到基礎標準與通用方法、化學。 日本工業標準調查會，關于質譜中相對強度的標準 JIS K0153-2015 表面化學分析. 二次離子質譜法. 靜態二次離子質譜法中相對強度范圍的重復性和穩定性 英國標準學會，
一文帶你了解液相色譜儀和氣相色譜儀的區別！
液相色譜儀和氣相色譜儀都是采用色譜法分析，它們有什么區別呢？有些小伙伴說就是流動相不同啊，一個是氣體，一個是液體。不不不，事情沒有你想象的那么簡單，我們得扒開現象看本質。下面就和小編一起來深入了解一下它們的不同吧。? 概念不同? 氣相：? 氣相色譜是一種物理的分離方法。利用被測物質各組分在不
顯微鏡波譜分析和能譜分析的對比
波譜分析和能譜分析的對比波譜分析和能譜分析都是用于功能型電子顯微鏡的元素分析。波譜分析和能譜分析均能進行微區分析，波譜分析發展較早，但進展不大；近年來能譜分析成為微區分析的主要手段。兩種方法比較如下：???1.通常的能譜儀對入射X射線的吸收無法探測到超輕元素的特征X射線，但近年出現的單窗口輕元素探測
溶媒脫氣儀和傳統脫氣儀的對比
在做溶出試驗時，溶出介質中如果含有溶解的空氣，在測定樣品時，樣品無論是片劑、膠囊的粉末或顆粒都具有孔隙率，孔隙中的空氣就是氣化中心，溶解的空氣會在這些氣化中心大量析出，限制藥物的溶出和水分進入片劑、顆粒的內部，大幅度降低溶出度，從而影響整個溶出過程。所以必須對溶出介質進行脫氣。那么傳統脫氣方式和
溶媒脫氣儀和傳統脫氣儀的對比
在做溶出試驗時，溶出介質中如果含有溶解的空氣，在測定樣品時，樣品無論是片劑、膠囊的粉末或顆粒都具有孔隙率，孔隙中的空氣就是氣化中心，溶解的空氣會在這些氣化中心大量析出，限制藥物的溶出和水分進入片劑、顆粒的內部，大幅度降低溶出度，從而影響整個溶出過程。所以必須對溶出介質進行脫氣。那么傳統脫氣方式和
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀特點對比
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優缺點。前者分辨率高，對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2～3數量級，靈敏度高。可以對能量范圍很寬的X射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。
一文看懂核磁共振波譜儀
核磁共振波譜法（Nuclear Magnetic Resonance，簡寫為NMR）是材料表征中最有用的一種儀器測試方法，它與紫外吸收光譜、紅外吸收光譜、質譜被人們稱為“四譜”，廣泛應用于物理學、化學、生物、藥學、醫學、農業、環境、礦業、材料學等學科，是對各種有機和無機物的成分、結構進行定性分析的最
什么是能譜儀？能譜儀的原理簡介
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。 原理 各種元素具有自己的X射線特征波長，特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子